公开(公告)号：CN119850565A

公开(公告)日：2025-04-18

申请号：CN202411938477.4

申请日：2024-12-26

Applicant: 中南大学

Inventor： 潘冬 ,  史代双 ,  蒋朝辉 ,  余浩洋 ,  桂卫华

IPC: G06T7/00 ,  G06T7/136 ,  G06V10/44 ,  G06V10/762 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/088 ,  G06N3/09

Abstract: 一种透明元件微小缺陷双阶段检测方法及系统，设计了基于伪标签生成的双阶段缺陷检测网络框架。第一阶段为透明元件数据的伪标签生成，由无监督检测方法及伪标签提取策略组成，在无监督检测方法方面提出了一种空间金字塔平衡特征融合‑自适应动态调制卷积网络，该网络结合金字塔平衡特征融合以及自适应动态调制卷积增强了无监督检测网络对多尺度目标的特征提取能力以及应对更复杂数据特征的有效性和灵活性。伪标签提取策略方面提出了一种基于阈值分割与RPN提案融合的伪标签动态挖掘策略，可以直接从无监督网络检测结果直接生成多种缺陷的伪标签。第二阶段为基于伪标签的缺陷检测。本申请网络显著提高了有监督缺陷检测网络的性能。