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公开(公告)号：CN119206248B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411232278.1
申请日：2024-09-04
Applicant: 中南大学
Abstract: 本发明提供了一种芯片胶点区域的识别方法、终端设备及计算机可读存储介质，属于芯片胶点检测技术领域；包括：建立了基于激光器芯片胶点的LGDT数据集；基于LGDT数据集设计SFEDNet网络，并应用SFEDNet网络对图像的胶点区域进行逐像素分割和标记；所述SFEDNet网络包括基于U‑net模块的空间通道融合模块、两个微弱边缘检测模块以及跳跃连接。本发明中所采用的SFEDNet网络对胶点区域进行精确分割，SFEDNet网络包括基于U‑net模块的空间通道融合模块、两个微弱边缘检测模块以及跳跃连接；首先在U‑net模块的骨干网络中采用空间融合模块实现了网络计算速度的提高和对胶点区域位置的鲁棒识别；然后基于微弱边缘检测模块，实现了胶点区域边缘细节的提取和语义交互。
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公开(公告)号：CN106556347A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201610990860.3
申请日：2016-11-10
Applicant: 中南大学
Abstract: 本发明提供一种光电子封装柔性并联平台末端位姿检测系统及方法，该系统包括六套位姿检测装置，用于检测动平台的六个自由度的位姿值，同时六个传感器均固定在动平台之外的支架上，动平台只需要安装检测挡板，减轻了动平台的压力，避免对动平台的运动造成干扰；而且传感器具有体积小、安装方便和成本低廉的优点。本发明对柔性并联平台的动平台姿态的检测调整分为宏观位姿检测和微观位姿检测两个部分：宏观位移使得位姿精度控制在十微米范围内，通过六套位姿检测装置测出六自由度平台的实际位姿；微观位姿检测是利用光功率计进行检测调整，通过光功率计来观察透光量的数据，以进行微调。
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公开(公告)号：CN119206248A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411232278.1
申请日：2024-09-04
Applicant: 中南大学
Abstract: 本发明提供了一种芯片胶点区域的识别方法、终端设备及计算机可读存储介质，属于芯片胶点检测技术领域；包括：建立了基于激光器芯片胶点的LGDT数据集；基于LGDT数据集设计SFEDNet网络，并应用SFEDNet网络对图像的胶点区域进行逐像素分割和标记；所述SFEDNet网络包括基于U‑net模块的空间通道融合模块、两个微弱边缘检测模块以及跳跃连接。本发明中所采用的SFEDNet网络对胶点区域进行精确分割，SFEDNet网络包括基于U‑net模块的空间通道融合模块、两个微弱边缘检测模块以及跳跃连接；首先在U‑net模块的骨干网络中采用空间融合模块实现了网络计算速度的提高和对胶点区域位置的鲁棒识别；然后基于微弱边缘检测模块，实现了胶点区域边缘细节的提取和语义交互。
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公开(公告)号：CN106556347B
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201610990860.3
申请日：2016-11-10
Applicant: 中南大学
Abstract: 本发明提供一种光电子封装柔性并联平台末端位姿检测系统及方法，该系统包括六套位姿检测装置，用于检测动平台的六个自由度的位姿值，同时六个传感器均固定在动平台之外的支架上，动平台只需要安装检测挡板，减轻了动平台的压力，避免对动平台的运动造成干扰；而且传感器具有体积小、安装方便和成本低廉的优点。本发明对柔性并联平台的动平台姿态的检测调整分为宏观位姿检测和微观位姿检测两个部分：宏观位移使得位姿精度控制在十微米范围内，通过六套位姿检测装置测出六自由度平台的实际位姿；微观位姿检测是利用光功率计进行检测调整，通过光功率计来观察透光量的数据，以进行微调。
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