一种基于离散化工装的狭小空间构件位姿调整方法

    公开(公告)号:CN117519306A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311629476.7

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于离散化工装的狭小空间构件位姿调整方法,本发明将3个数控定位器按一定布局放置到大型结构件底部,形成离散工装系统。然后通过工装运动控制系统按一定规则控制离散工装系统的各个数控定位器运动,由摄影测量系统获取工装运动后大型结构件的位姿变化,获取各运动轴的运动与大型结构件位姿调整的数据组对。工装运动控制系统通过数据分析快速构建离散工装系统的位姿调整模型。最后,基于摄影测量系统对大型结构件位姿实时测量结果,结合离散工装系统的位姿调整模型,解算离散工装系统各数控定位器各运动轴的调整量,引导离散工装系统完成大型结构件位姿调整,直至满足精度要求。

    基于光学检测的结构件对接用位姿测量系统

    公开(公告)号:CN115574716A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211180010.9

    申请日:2022-09-27

    Abstract: 本申请属于测量与制造技术领域,公开了一种基于光学检测的结构件对接用位姿测量系统,包括平行设置的两导轨和测量用基准板,导轨上滑动设置有光学平台,光学平台前后两端设置第一调整架和第二调整架,第一调整架和第二调整架上分别设置第一、第二内调焦望远镜,第一、第二内调焦望远镜与测量系统连接,第一调整架、第二调整架在光学平台进行上、下、左、右位移以及偏摆、俯仰动作,测量用基准板用于与基准结构件、待对接结构件连接,其前后两端分别设置有第一、二测量十字标。通过内调焦望远镜对焦测量用基准板上的第一、二测量十字标,分别对基准结构件和待对接结构件精准定位,实现基准结构件和待对接结构件高精度对接,提高产品组装质量。

    任意姿态光学元件在位面形检测装置及方法

    公开(公告)号:CN110332905A

    公开(公告)日:2019-10-15

    申请号:CN201910662390.1

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种任意姿态光学元件在位面形检测装置及方法,采用以上技术方案,结构灵活,用工业机器人取代了干涉仪的各种支撑调节平台和装置,使干涉仪的位置姿态调整更方便,同时简化了光学元件支撑机构,使其可以不用具有自由度调节功能;方法新颖,将动态干涉仪与工业机器人相结合,解决了重力倾斜姿态下的在位面形测量问题;应用范围广,可以同时满足各种姿态下的面形测量问题;环境适应性好,使用动态干涉仪,能够将干涉测量扩展到各种测量环境中,同时保证其测量精度和重复性;测量简单高效,引入了干涉条纹监控系统,实现了干涉条纹的自动调整,提高了测量效率。

    一种基于坐标系信息关联精确定位与安装集成的方法

    公开(公告)号:CN115655165B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202211284362.9

    申请日:2022-10-20

    Abstract: 本发明提供了一种基于坐标系信息关联精确定位与安装集成的方法:S1、通过精密定位模块离线测试标定平台和支撑组件离线测试标定平台分别对精密定位模块与支撑组件测量和标定,经实际测量与拟定的结构比对得出精密定位模块与支撑组件实际能够接受的偏差;S2、建立空间坐标网络,通过空间坐标网络确定支撑组件在线安装定位平台的位置,支撑组件在线安装定位平台测量在线安装时的支撑组件,得出实际位置,并与实际拟定偏差数值比对得出支撑组件安装后的偏差;S3、通过精密定位模块在线安装与定位组件结合精密定位模块与支撑组件拟定偏差数值以及支撑组件实际的偏差数值后,以空间坐标网络为基准规划精密定位模块的安装路径,并参考安装孔径将其安装。

    基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110243306B

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN201910661568.0

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法,包括干涉仪、工业机器人以及坐标系建立组件,所述干涉仪能够通过连接工装安装在工业机器人上,所述坐标系建立组件包括参考件和校准件,所述校准件包括能够安装在工业机器人上的连接盘和设置在连接盘一侧的校准杆,所述校准杆的延伸方向与连接盘的连接盘安装轴线平行,该校准杆与连接盘距离最远的一点为校准点。本发明具有结构灵活简单、应用范围广、高效安全、环境适应性好等优点,兼具子孔径干涉测量的高空间分辨率等优点,可以同时满足各种重力姿态下的大口径光学元件平面面形高精度在位测量问题,可以进行表面未经过镀膜或打毛等处理的平面面形测量。

    基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110243306A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910661568.0

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于机器人的平面面形子孔径拼接干涉测量装置及方法,包括干涉仪、工业机器人以及坐标系建立组件,所述干涉仪能够通过连接工装安装在工业机器人上,所述坐标系建立组件包括参考件和校准件,所述校准件包括能够安装在工业机器人上的连接盘和设置在连接盘一侧的校准杆,所述校准杆的延伸方向与连接盘的连接盘安装轴线平行,该校准杆与连接盘距离最远的一点为校准点。本发明具有结构灵活简单、应用范围广、高效安全、环境适应性好等优点,兼具子孔径干涉测量的高空间分辨率等优点,可以同时满足各种重力姿态下的大口径光学元件平面面形高精度在位测量问题,可以进行表面未经过镀膜或打毛等处理的平面面形测量。

    一种复杂空间内建筑结构坐标的快速测量方法

    公开(公告)号:CN119394171A

    公开(公告)日:2025-02-07

    申请号:CN202411516641.2

    申请日:2024-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种复杂空间内建筑结构坐标的快速测量方法,按照以下步骤进行:S1、在测量现场搭建快速测量系统;S2、利用测量系统进行测量;S3、计算得到被测点位坐标。采用以上复杂空间内建筑结构坐标的快速测量方法,实现大尺寸建筑结构的测量,特别适用于一些规模较大、且存在脚手架、钢筋网等遮蔽物较多的复杂空间内,对一些结构精度要求极高的建筑结构进行快速测量,提高了这类建筑的建设精度,尤其适用于大科学装置的建筑的建筑结构快速测量。

    任意姿态光学元件在位面形检测装置及方法

    公开(公告)号:CN110332905B

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN201910662390.1

    申请日:2019-07-22

    Abstract: 本发明公开了一种任意姿态光学元件在位面形检测装置及方法,采用以上技术方案,结构灵活,用工业机器人取代了干涉仪的各种支撑调节平台和装置,使干涉仪的位置姿态调整更方便,同时简化了光学元件支撑机构,使其可以不用具有自由度调节功能;方法新颖,将动态干涉仪与工业机器人相结合,解决了重力倾斜姿态下的在位面形测量问题;应用范围广,可以同时满足各种姿态下的面形测量问题;环境适应性好,使用动态干涉仪,能够将干涉测量扩展到各种测量环境中,同时保证其测量精度和重复性;测量简单高效,引入了干涉条纹监控系统,实现了干涉条纹的自动调整,提高了测量效率。

    一种适用于AGV的高精度坐标导航方法

    公开(公告)号:CN117451056A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311629801.X

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种适用于AGV的高精度坐标导航方法,包括以下步骤:S1:建立具有多个摄影测量标志点的坐标控制网,并构建具备坐标控制网的装置现场的三维模型;S2:通过双目相机拍照,分析出AGV附近的摄影测量标志点在双目相机坐标系中的坐标值;S3:基于步骤S2中的坐标值,分析出AGV在全局坐标系中的位置和姿态;S4:规划进入待维护位置的轨迹,形成坐标表;S5:基于坐标表将AGV导航到待维护结构件所在位置附近。本发明的有益效果是:能够满足AGV在复杂装置内部维护的高精度导航需求。

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