一种深紫外LED芯片的制备方法及深紫外LED芯片

    公开(公告)号:CN119545993A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411640832.X

    申请日:2024-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种深紫外LED芯片的制备方法及深紫外LED芯片,包括:在衬底上生长AlN缓冲层和第一AlGaN层;在第一AlGaN层上沉积金属薄膜,得到深紫外LED生长模板;对深紫外LED生长模板进行高温快速退火,将金属薄膜转化为若干个金属小球;基于若干个金属小球的图形化掩膜对第一AlGaN层进行图形化刻蚀;通过酸性溶液对若干个金属小球进行清洗,使得AlGaN插入层的顶面裸露;通过二次外延使得AlGaN插入层上形成AlGaN过渡层,形成基底;在AlGaN过渡层上沉积发光元件结构。设置图形化AlGaN插入层,可以缓解由衬底和AlN层带来应力,降低有源区的位错密度,提高深紫外LED芯片的发光效率。

    一种抗水解LED外延结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN119894178A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510014749.X

    申请日:2025-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种抗水解LED外延结构及其制备方法涉及半导体器件技术领域。本发明抗水解LED外延结构的制备方法如下:在衬底上依次生长AlN层和GaN底层;在GaN底层的表面沉积SiO2掩膜;对SiO2掩膜进行光刻,使SiO2掩膜中形成生长窗口;在光刻后的SiO2掩膜上生长V型坑层,V型坑层的材料包括GaN材料,在V型坑层内产生V型坑;在V型坑层上生长第一n‑GaN层;在第一n‑GaN层上生长第二n‑GaN层,第二n‑GaN层的生长温度大于第一n‑GaN层的生长温度,对V型坑进行修复,得到表面平整的第二n‑GaN层;在第二n‑GaN层上依次生长多量子阱层、电子阻挡层和p‑GaN层,得到抗水解LED外延结构。采用本发明的制备方法能够制得抗水解性能优异的LED外延结构,且制备方法简单、生产成本低。

    一种并联式垂直LED芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN119730490A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202411748250.3

    申请日:2024-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种并联式垂直LED芯片及其制备方法,所述并联式垂直LED芯片包括:设置在芯片底部的共极电极、设置在芯片顶面的第一电极、第二电极以及发光区域;所述发光区域内设置有环形沟槽,且所述发光区域基于所述环形沟槽划分为外发光区和内发光区,所述外发光区与所述第一电极电性连接,所述内发光区与所述第二电极电性连接,且所述外发光区和所述内发光区基于所述共极电极形成并联连接。通过设置环形沟槽,将LED芯片的出光区域划分为并联布置的内发光区和外发光区,基于互不干扰的两个发光区提高芯片的容错性,从而提高发光器件的可靠性。

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