半导体器件
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101258606A

    公开(公告)日:2008-09-03

    申请号:CN200680032460.6

    申请日:2006-08-24

    Inventor: 张建六

    CPC classification number: H01L29/7869 H01L27/1296 H01L29/78603

    Abstract: 在本发明中,在塑料膜衬底(1)上形成薄膜晶体管,在所述塑料膜衬底(1)的面内方向中具有热收缩率或热膨胀系数的各向异性。形成沟道,使得所述衬底的热收缩率或热膨胀系数最大的方向(7)不平行于流过该薄膜晶体管的电流的方向(8)。于是,提供了在塑料膜衬底上形成的具有稳定且一致的电学特性的薄膜晶体管。

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