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公开(公告)号：CN116297559A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202211698326.7
申请日：2022-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种安全检查系统，其包括：可移动载体；承载装置，可分离地设置于可移动载体上，并在与可移动载体分离后，布置于可移动载体的第一方向的一侧，使得可移动载体一侧具有供被检对象通过的检测通道；扫描系统，用于对通过检测通道的被检对象进行扫描检测，并包括第一扫描装置，第一扫描装置包括相互配合的第一射线源和第一透射探测器，第一射线源和第一透射探测器中的一个设置于可移动载体上，另一个设置于承载装置上；和连接装置，用于在承载装置与可移动载体分离后，连接可移动载体和布置于可移动载体第一方向一侧的承载装置，使得第一射线源和第一透射探测器彼此共面。这样，可提高检测准确性。
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公开(公告)号：CN114137622A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111668874.0
申请日：2021-12-30
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明公开了一种移动式辐射检查设备以及移动式辐射检查系统，涉及安检领域，用以扩展移动式辐射检查设备的功能。移动式辐射检查设备包括车体、行走机构、臂架组件、第一成像装置以及第二成像装置。臂架组件安装于车体，且被构造为在检查状态和运输状态之间切换。第一成像装置包括均安装于臂架组件的第一射线源和第一射线探测器。第一射线源位于检查通道的顶部。第二成像装置包括第二射线源和第二射线探测器；第二射线探测器与第二射线源配合，以探测第二射线源发出的射线；第二射线源位于检测通道的侧面。上述技术方案提供的移动式辐射检查设备，实现了多角度、多模式扫描。
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公开(公告)号：CN119575496A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975500.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，射线源、飞轮和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源按照各自的预设出束频率进行脉冲出束，且各扫描装置的射线源的出束时机错开，使得各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
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公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
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公开(公告)号：CN117555034A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311829691.1
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明涉及一种检测系统，包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器，第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线，第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧，第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线，第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧，第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线，第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧，第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线，第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧，第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。
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公开(公告)号：CN117191833A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311047705.4
申请日：2023-08-18
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01N23/20 , G01N23/20016 , G01N23/20008
Abstract: 提供了一种对象扫描装置，涉及射线扫描领域。该对象扫描装置包括：对象识别模块，被配置为在扫描前预先识别被检对象的尺寸信息；控制模块，被配置为根据所述尺寸信息确定移动设备的移动行程；所述移动设备，与所述背散射成像设备连接，被配置为在所述移动行程内带动所述背散射成像设备沿预定方向移动；所述背散射成像设备，被配置为在沿所述预定方向移动过程中，扫描所述被检对象的底部，以获得背散射图像。能够兼容多种类别或尺寸的被检对象，均可进行底部扫描，可以根据背散射图像实现安全检查、物体识别、材料分析和无损检测等目的，具有较广的使用范围。
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公开(公告)号：CN116184516A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202211724738.3
申请日：2022-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本申请涉及检查系统及其安装方法。检查系统包括：第一成像系统，包括：第一舱体以及平台组件，平台组件为一体式n型平台，该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构，第一舱体附接于平台结构上，第一探测器组件被设置在平台组件中；以及第二成像系统，包括：第二舱体、上臂架和竖臂架，上臂架为一体式n型臂架，上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接，上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接，第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件，其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。
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公开(公告)号：CN119596405A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411895934.6
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/20008 , G01N23/04 , G01N23/20
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括扫描装置，扫描装置包括辐射装置和探测装置，辐射装置和探测装置相互配合，对被检对象进行扫描，辐射装置位于被检对象的一侧，并包括至少两个辐射源，辐射装置的至少两个辐射源沿第一方向排布，并均包括沿第二方向间隔布置的至少两个子光源，第一方向和第二方向相互垂直，并与辐射装置与被检对象的相对布置方向相交，在辐射装置的至少两个辐射源中，在第一方向上任意相邻的两个辐射源在第二方向上部分重叠。这样，可提高辐射检查系统的检查结果的准确性。
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公开(公告)号：CN119575497A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411975584.4
申请日：2024-12-30
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/04
Abstract: 本申请提供一种辐射检查系统，其包括多个扫描装置，这多个扫描装置环绕检查通道设置，以从不同角度对位于检查通道中的被检对象进行扫描，各扫描装置均包括射线源、飞轮和背散探测器，飞轮可转动地设置，并具有准直口，以与射线源和背散探测器配合，对被检对象进行飞点背散扫描，各扫描装置的射线源均为脉冲射线源，且各扫描装置的射线源不同时出束。这样，可方便多个扫描装置不同时对被检对象进行飞点背散扫描。
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公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
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