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公开(公告)号：CN108674442B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201810756122.1
申请日：2018-07-11
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: B61K9/08
Abstract: 本公开涉及一种列车轴距检测方法及系统，方法包括：根据设置在列车轨道的外侧的至少两个非接触式传感器的感测数据，判断当前是否有列车车轮经过所述至少两个非接触式传感器；在确定当前有列车车轮经过所述至少两个非接触式传感器时，根据所述至少两个非接触式传感器的感测数据计算所述列车车轮的移动速度，并计算相邻的列车车轮经过所述至少两个非接触式传感器中的同一个非接触式传感器的第一时间间隔；根据所述移动速度和所述第一时间间隔计算所述相邻的列车车轮的轴距。本公开实施例能够提高列车车轮轴距检测的适应性。
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公开(公告)号：CN114155990A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111661887.5
申请日：2021-12-30
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供了一种辐射源装置和辐射检查设备。辐射源装置包括：辐射本体，包括具有多个辐射部的辐射源和与辐射源连接且罩于辐射源外的屏蔽罩，屏蔽罩具有用于辐射源输出射束的射束出射部；安装座，被配置为承载辐射本体；和辐射源位置调节机构，连接于屏蔽罩和安装座之间，辐射源位置调节机构被配置为调节并锁定辐射本体与安装座的相对位置。辐射源装置和辐射检查设备包括该辐射源装置。本公开的辐射源装置和辐射检查设备利于降低辐射源的工作位置调节难度，提高调节效率，以及利于降低采用该辐射源装置的辐射检查装置的整体重量和成本。
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公开(公告)号：CN114152994A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111670243.2
申请日：2021-12-31
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种安检设备及安检设备，包括：支架，限定沿第一方向延伸的检查通道；第一X射线加速器，设置在支架的顶部的偏移检查通道的中心线的位置，配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线，用以对通过检查通道的待检物品进行检查；第二X射线加速器，配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查；以及探测器装置，包括：多个探测器模块，设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置，用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线，以形成待检物品的透射图像；其中，第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。还提供一种应用于安检设备的安检方法。
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公开(公告)号：CN109521480A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201910008952.0
申请日：2019-01-04
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供了一种辐射检查设备和辐射检查方法。辐射检查设备包括：辐射探测装置，包括射线源和与射线源配合以对被检物进行扫描检查的探测器，辐射探测装置具有用于被检物在接受扫描检查时通过的检查通道；和行走轮，设置于辐射探测装置的底部，用于辐射检查设备沿检查通道的延伸方向行走，其中，行走轮设置为可旋转90°以使辐射检查设备沿垂直于检查通道的延伸方向的方向行走。基于本公开提供的辐射检查设备和辐射检查方法，可以实现对多排被检物的连续扫描检查，提高辐射检查设备的使用效率。
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公开(公告)号：CN109782015B
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN201910215894.9
申请日：2019-03-21
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开提出一种激光测速方法、控制装置和激光测速仪，涉及安检技术领域。本公开的一种激光测速方法，包括：通过向道路方向探测的多条激光射线获取预定高度范围，以及水平方向上预定探测角度内的探测数据；根据探测数据获取三维点云数据；根据三维点云数据确定被测物体在沿道路方向的位置；根据不同时刻被测物体在沿道路方向的位置的变化情况确定被测物体速度。通过这样的方法，能够基于多个激光传感器获得的探测数据得到探测区域的三维点云数据，进而通过三维点云数据的识别和处理得到被测物体的位置，进而基于多帧数据确定被测物体的速度，避免物体轮廓变化或非目标出现造成的干扰，提高激光测速的准确度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117784266A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311841468.9
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开提供了一种辐射检测系统，涉及辐射检测领域、安全检查领域或其他领域。该辐射检测系统包括第一射线扫描设备和第二射线扫描设备。第一射线扫描设备包括第一靶点，所述第一靶点发出射线用以扫描对象的第一区域；第二射线扫描设备包括第二靶点，所述第二靶点相比所述第一靶点更接近地面，所述第二靶点发出的射线用以扫描所述对象的第二区域；其中，所述第二区域中至少部分区域位于所述第一区域之外，且所述至少部分区域在竖直方向上位于所述第一区域的下方。本公开还提供了一种辐射检测装置。
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公开(公告)号：CN117784265A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311835696.5
申请日：2023-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本公开涉及一种辐射检查系统，用于对被检对象(101)进行扫描检查，辐射检查系统包括：第一光源(1)，包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11)，多个子光源(11)被配置为独立发出射线束；透射探测器组件(2)，与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3)，检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸，透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束；和准直器(4)，位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧，准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41)，多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
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公开(公告)号：CN115980867A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202211662575.0
申请日：2022-12-23
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
Abstract: 本申请公开了一种航空货物扫描检查设备。航空货物扫描检查设备包括顶舱模块和底舱模块。顶舱模块包括第一舱体和设置在第一舱体内的第一射线源。底舱模块可拆卸地连接于顶舱模块的下方以与顶舱模块围合形成周向封闭的扫描通道。且底舱模块包括设置于扫描通道一侧的第二舱体以及设置在第二舱体内的第二射线源。顶舱模块和底舱模块围合形成扫描通道的壁体内部设置有探测器。本申请的航空货物扫描检查设备通过设置第一射线源以及第二射线源以实现对物品水平和垂直两个方向上的扫描，进而降低漏检率。而且本申请中的顶舱模块和底舱模块内部集成设置有射线源和探测器，因此在检测现场只要将顶舱模块和底舱模块组装即可，节省安装调试时间。
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公开(公告)号：CN109990744B
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201910275709.5
申请日：2019-04-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明公开了一种体积测量方法、装置、系统和计算机可读存储介质，涉及辐射领域。体积测量方法，包括：根据从加速器靶点发射的多条X射线的测量结果，确定被测对象在每条X射线所在方向上的厚度；根据位于被测对象的同一个截面的每条X射线对应的厚度，确定相应截面的面积；根据被测对象的截面的面积确定被测对象的体积。通过将X射线扫描应用于体积测量中，可以通过X射线的测量结果获得被测对象的物质类型和多个位置、角度的尺寸信息，从而可以更准确地测量被测对象的体积。
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公开(公告)号：CN109682934A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201910108228.5
申请日：2019-02-03
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01N33/0009 , G01B11/00 , G01B11/24
Abstract: 本公开涉及一种电子鼻定位装置及定位方法。电子鼻定位装置包括：载体(10)；电子鼻(20)，设置在所述载体(10)上；调整机构(30)，用于调整所述电子鼻(20)的采集位置；和激光传感单元(40)，设置在所述载体(10)、所述电子鼻(20)或者所述调整机构(30)上，用于对待检对象(60)进行扫描，以确定所述待检对象(60)的气味采集部位(61)的位置。本公开实施例能够简化电子鼻的检查流程。
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