一种基于电磁驱动的多通道旋转扫描偏振滤波控制系统

    公开(公告)号:CN119937176A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202411722964.7

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本发明涉及一种基于电磁驱动的多通道旋转扫描偏振滤波控制系统,包括依次连接的驱动控制模块、电流驱动模块、多通道旋转扫描偏振滤波装置和角度采集模块,驱动控制模块发出脉冲信号输入电流驱动模块中;电流驱动模块整合驱动控制模块输出的脉冲信号并传入多通道旋转扫描偏振滤波装置中,启动运行所述多通道旋转扫描偏振滤波装置,并输出计数脉冲;通过角度采集模块读取计数脉冲,得到偏振角度信息;通过驱动控制模块判断偏振角度信息是否达到预设的偏振角度,当偏振角度信息达到预设的偏振角度,驱动控制模块发出触发信号触发相机进行拍摄。与现有技术相比,本发明实现对偏振角度信息的精准采集,减小角度控制误差,满足高精度控制需求。

    一种红外偏振成像偏振通道选择方法及系统

    公开(公告)号:CN119904606A

    公开(公告)日:2025-04-29

    申请号:CN202411740868.5

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明涉及一种红外偏振成像偏振通道选择方法及系统,方法包括以下步骤:使用偏振相机采集目标场景的多通道红外偏振图像集合,并对多通道红外偏振图像集合进行降噪预处理;将经过降噪预处理的多通道红外偏振图像集合分为不同通道数的图像集;求解不同通道数的图像集的斯托克斯矢量图像,根据斯托克斯矢量图像得到不同通道数下的偏振特征参量图像;以通道数最多的偏振特征参量图像作为参考图像,采用图像相似性指标评价其他通道数图像和参考图像的相似性,得到符合目标场景成像需求的最佳偏振通道。与现有技术相比,本发明为分时型偏振成像系统中的通道数选择策略提供有效指导,提高偏振成像的资源利用效率,增强电力巡检的检测精度。

    一种基于旋转扫描偏振滤波模组的内置式成像系统及方法

    公开(公告)号:CN119826874A

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202411740939.1

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于旋转扫描偏振滤波模组的内置式成像系统及方法,所述系统包括:前置成像透镜组、旋转扫描偏振滤波模组、后置成像透镜组、成像探测器和上位机,旋转扫描偏振滤波模组包括偏振滤波芯片,将目标辐射光束透过前置成像透镜组压缩并汇聚为平行光;平行光进入旋转扫描偏振滤波模组中,通过上位机调制旋转扫描偏振滤波模组至不同方向角度,利用偏振滤波芯片起偏得到不同振动方向的偏振光;通过后置成像透镜组将不同振动方向的偏振光聚焦到成像探测器上进行成像,得到偏振图像。与现有技术相比,本发明实现紧凑型系统设计,满足不同应用场景的偏振信息获取能力,拓展偏振成像在目标探测识别等领域的应用范围。

    一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法

    公开(公告)号:CN118898617B

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411397747.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本发明提供了一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法,包括:步骤S1,针对目标工件,采集不同偏振角度下的偏振强度图像形成多通道偏振图像集合并求解得到多维图像特征数据集;步骤S2,采用Canopy算法对多维图像特征数据集进行初聚类得到初始聚类中心,随后基于初始聚类中心,采用K‑means算法对多维图像特征数据集进行细聚类得到图像特征数据集分类结果;步骤S3,基于高光判定规则生成感兴趣区域;步骤S4,标记感兴趣区域内所有的第一连通域以及感兴趣区域外与各第一连通域相邻近且属于同一类的第二连通域,并基于区域判定规则筛选得到镜面‑漫反射过渡区域包含至感兴趣区域内。有益效果是本发明能够实现对镜面‑漫反射过渡区域的准确定位。

    一种插装集成式光谱偏振实时成像系统

    公开(公告)号:CN116840161A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310580624.4

    申请日:2023-05-23

    Abstract: 本发明提供了一种插装集成式光谱偏振实时成像系统,涉及光电器件技术领域,本系统包括依次设置在入射光路上的前置望远镜头、可插装光谱偏振滤光模块及图像传感器。入射光束经前置望远镜头压缩并消除设计波段内的球差和场曲后,孔径处的多通道光谱偏振滤光芯片分通道对其进行光谱偏振滤光,透镜阵列再将不同光谱偏振特性的光束会聚到图像传感器的对应区域。多通道光谱偏振滤光芯片和透镜阵列组装为可插装光谱偏振滤光模块,根据目标探测的需要可插换滤光功能不同的模块。滤光芯片通过分区域制备亚波长金属线栅和多层膜系结构实现多通道光谱偏振滤光功能。本系统具有信息探测维数高、可动态实时成像、光谱偏振滤光模块可插换的优势。

    一种多源辐射耦合的目标红外偏振特征反演方法

    公开(公告)号:CN119880161A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510370926.8

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种多源辐射耦合的目标红外偏振特征反演方法,包括:步骤S1,获取背景、目标和入射源的温度参数以及入射源的角度参数和目标的表面材质参数;步骤S2,计算背景、目标和入射源等效的黑体辐射亮度;步骤S3,计算第一镜面反射热辐射分量和第二镜面反射热辐射分量;步骤S4,计算第一漫反射热辐射分量和第二漫反射热辐射分量;步骤S5,计算目标自发热辐射分量;步骤S6,根据第一镜面反射热辐射分量、第二镜面反射热辐射分量、第一漫反射热辐射分量、第二漫反射热辐射分量和目标自发热辐射分量得到反射斯托克斯矢量内的三个参量;步骤S7,根据三个参量得到目标的目标偏振度。有益效果是本发明能够提升目标红外偏振特征反演的准确性。

    一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119915825A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510401240.0

    申请日:2025-04-01

    Abstract: 本发明涉及一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法,装置包括光源,用于提供可见光;起偏器,用于接收所述可见光,并通过调节其偏振角度将所述可见光调制为四种偏振态的入射偏振光线,所述入射偏振光线入射至金属表面,由金属表面反射出反射偏振光线;检偏器,用于接收反射偏振光线,并通过调节其偏振角度将任意一种偏振态的反射偏振光线调制为四种偏振态的出射偏振光线,得到十六种偏振态的出射偏振光线;图像采集模块,用于接收每种偏振态的出射偏振光线并形成成像图;图像处理模块,所述图像处理模块与所述装置本体连接;该装置能够直接快速获取金属表面的偏振特征信息,无需额外的光路,实现了快速且多场景的检测,方便携带。

    一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法

    公开(公告)号:CN118567020B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202411034443.2

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法,包括:基底;第一介质层,沉积于基底顶端;第二介质层,沉积于第一介质层顶端;多个介质光栅层,沉积于第二介质层顶端并沿第二介质层的长度方向间隔设置,每相邻的两个介质光栅层之间分别形成沟槽,各介质光栅层和第二介质层的材质具有相同的折射率,各介质光栅层的光栅周期小于入射光的入射波长;多个第一金属层,分别沉积于各沟槽内;多个第二金属层,分别沉积于各介质光栅层顶端,各第二金属层和各第一金属层的材质具有相同的介电常数。有益效果是本发明能够在获得优良偏振性能的同时减小微纳加工工艺难度,并实现亚波长金属光栅偏振器件结构的大面积、高保真、高效率制造。

    一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法

    公开(公告)号:CN118567020A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202411034443.2

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法,包括:基底;第一介质层,沉积于基底顶端;第二介质层,沉积于第一介质层顶端;多个介质光栅层,沉积于第二介质层顶端并沿第二介质层的长度方向间隔设置,每相邻的两个介质光栅层之间分别形成沟槽,各介质光栅层和第二介质层的材质具有相同的折射率,各介质光栅层的光栅周期小于入射光的入射波长;多个第一金属层,分别沉积于各沟槽内;多个第二金属层,分别沉积于各介质光栅层顶端,各第二金属层和各第一金属层的材质具有相同的介电常数。有益效果是本发明能够在获得优良偏振性能的同时减小微纳加工工艺难度,并实现亚波长金属光栅偏振器件结构的大面积、高保真、高效率制造。

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