-
公开(公告)号：CN102881298B
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201210224137.6
申请日：2012-06-29
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/126 , G11B7/1353
CPC classification number: G11B7/0903 , G11B7/0906 , G11B7/1353 , G11B2007/0006
Abstract: 本发明提供一种光拾取装置。聚焦衍射区域（21）所包含的细分区域由与光源（12）所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线（27）正交的方向上彼此相邻配置。跟踪衍射区域（36）所包含的细分区域由与光源（12）所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线（27）正交的方向上彼此相邻配置。
-
公开(公告)号：CN101154794A
公开(公告)日：2008-04-02
申请号：CN200710152611.8
申请日：2007-09-19
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/127 , H01L24/97 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01S5/02244 , H01S5/02248 , H01L2924/00014
Abstract: 提供一种半导体激光装置及其制造方法，该半导体激光装置能够充分地将由半导体激光元件所产生的热量进行散热，且制造工序简单，并且能够调整光路长。激光芯片(3)通过块状体(2)和平板(1)与壳体(8)接合。另外平板(1)从块状体(2)和平板(1)的接合面露出一部分，当设置在壳体(8)上时，从壳体(8)的外侧向内侧插入激光芯片(3)和块状体(2)，并且平板(1)露出在壳体(8)的外侧。激光芯片(3)的出射光的光轴与壳体(8)的接地面平行。
-
公开(公告)号：CN1734595A
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN200510084456.1
申请日：2005-07-08
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/131 , G11B7/0912 , G11B7/1353
Abstract: 提供一种不会导致信号质量下降的、可以实现稳定的聚焦伺服的聚焦误差检测装置。聚焦误差检测装置(31)输出控制物镜(36)和光记录媒体(38)之间的距离用的被光记录媒体(38)反射的反射光检测结果。聚焦误差检测装置(31)中，在物镜(36)和两分割受光部分(37a和37b)之间设置全息元件(34)，全息元件(34)让光路转弯，使被光记录媒体(38)反射的反射光的一部分入射到两分割受光部分(37a和37b)，同时把入射到两分割受光部分(37a和37b)的反射光的光束分割成多个。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102436823B
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201110282808.X
申请日：2011-09-09
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/1353 , G11B7/135 , G02B5/18 , G11B7/22
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/1275
Abstract: 本发明的目的在于提供一种半导体激光装置，该半导体激光装置能够使两种波长以上的不同波长的光源的射出光的光轴、强度分布、光程长相一致。衍射元件的光栅形状构成如下：使得由衍射区域进行了1级衍射的光源(2)的衍射光的衍射角、与光源(1)的透射过衍射区域的角度相同，且光源位置与光源(1)的透射光的发光点相一致，配置衍射元件，使得光源(2)的光轴发生倾斜，其光强度分布中心与透射过衍射元件的光源(1)的光强度分布相一致。利用衍射元件对经过反射后的光源(2)的返回光路的光进行衍射，并入射到光源(1)后产生电流，基于该电流值对衍射元件的位置进行调整。
-
公开(公告)号：CN102436823A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110282808.X
申请日：2011-09-09
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/1353 , G11B7/135 , G02B5/18 , G11B7/22
CPC classification number: G11B7/1353 , G11B7/1275
Abstract: 本发明的目的在于提供一种半导体激光装置，该半导体激光装置能够使两种波长以上的不同波长的光源的射出光的光轴、强度分布、光程长相一致。衍射元件的光栅形状构成如下：使得由衍射区域进行了1级衍射的光源(2)的衍射光的衍射角、与光源(1)的透射过衍射区域的角度相同，且光源位置与光源(1)的透射光的发光点相一致，配置衍射元件，使得光源(2)的光轴发生倾斜，其光强度分布中心与透射过衍射元件的光源(1)的光强度分布相一致。利用衍射元件对经过反射后的光源(2)的返回光路的光进行衍射，并入射到光源(1)后产生电流，基于该电流值对衍射元件的位置进行调整。
-
公开(公告)号：CN101154794B
公开(公告)日：2010-04-21
申请号：CN200710152611.8
申请日：2007-09-19
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/127 , H01L24/97 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01S5/02244 , H01S5/02248 , H01L2924/00014
Abstract: 提供一种半导体激光装置及其制造方法，该半导体激光装置能够充分地将由半导体激光元件所产生的热量进行散热，且制造工序简单，并且能够调整光路长。激光芯片(3)通过块状体(2)和平板(1)与壳体(8)接合。另外平板(1)从块状体(2)和平板(1)的接合面露出一部分，当设置在壳体(8)上时，从壳体(8)的外侧向内侧插入激光芯片(3)和块状体(2)，并且平板(1)露出在壳体(8)的外侧。激光芯片(3)的出射光的光轴与壳体(8)的接地面平行。
-
公开(公告)号：CN102881298A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210224137.6
申请日：2012-06-29
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G11B7/126 , G11B7/1353
CPC classification number: G11B7/0903 , G11B7/0906 , G11B7/1353 , G11B2007/0006
Abstract: 本发明提供一种光拾取装置。聚焦衍射区域（21）所包含的细分区域由与光源（12）所能射出的光的类型相对应的聚焦细分区域构成，对应于不同光的类型的聚焦细分区域在与平行分割线（27）正交的方向上彼此相邻配置。跟踪衍射区域（36）所包含的细分区域由与光源（12）所能射出的光的类型相对应的跟踪细分区域构成，对应于不同光的类型的跟踪细分区域在与平行分割线（27）正交的方向上彼此相邻配置。
-
公开(公告)号：CN1331133C
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200510084456.1
申请日：2005-07-08
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G11B7/131 , G11B7/0912 , G11B7/1353
Abstract: 提供一种不会导致信号质量下降的、可以实现稳定的聚焦伺服的聚焦误差检测装置。聚焦误差检测装置(31)输出控制物镜(36)和光记录媒体(38)之间的距离用的被光记录媒体(38)反射的反射光检测结果。聚焦误差检测装置(31)中，在物镜(36)和两分割受光部分(37a和37b)之间设置全息元件(34)，全息元件(34)让光路转弯，使被光记录媒体(38)反射的反射光的一部分入射到两分割受光部分(37a和37b)，同时把入射到两分割受光部分(37a和37b)的反射光的光束分割成多个。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.023 seconds)
