用于加速外延剥离的应变控制

    公开(公告)号:CN104584239A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201380029526.6

    申请日:2013-06-04

    Abstract: 本发明公开了用于外延剥离的薄膜装置,其包含柄和一个或多个配置在所述柄上的应变层,其中所述一个或多个应变层引起所述柄弯曲。本发明还公开了制造用于外延剥离的薄膜装置的方法,其包括在柄上沉积一个或多个应变层,其中所述一个或多个应变层在所述柄上引起至少一种选自拉伸应变、压缩应变和近中性应变的应变。本发明还公开了用于外延剥离的方法,其包括在配置于生长基底上的牺牲层上沉积外延层;在所述生长基底和所述柄中的至少一者上沉积一个或多个应变层;使所述柄结合于所述生长基底;以及蚀刻所述牺牲层。

    用于外延剥离工艺的热辅助冷焊接合

    公开(公告)号:CN105793998A

    公开(公告)日:2016-07-20

    申请号:CN201480061763.5

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 公开了一种装配薄膜光电子器件的工艺。所述工艺可包括:提供生长结构,所述生长结构包括具有生长表面的晶圆、牺牲层和器件区。所述工艺可进一步包括提供主基板和在所述器件区上沉积第一金属层及在所述主基板上沉积第二金属层。所述工艺可进一步包括通过在接合温度下将所述第一和第二金属层压在一起使所述第一金属层接合至所述第二金属层,其中所述接合温度高于室温且低于所述主基板的玻璃化转变温度和所述主基板的熔化温度中的较低者。

    用于加速外延剥离的应变控制

    公开(公告)号:CN104584239B

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201380029526.6

    申请日:2013-06-04

    Abstract: 本发明公开了用于外延剥离的薄膜装置,其包含柄和一个或多个配置在所述柄上的应变层,其中所述一个或多个应变层引起所述柄弯曲。本发明还公开了制造用于外延剥离的薄膜装置的方法,其包括在柄上沉积一个或多个应变层,其中所述一个或多个应变层在所述柄上引起至少一种选自拉伸应变、压缩应变和近中性应变的应变。本发明还公开了用于外延剥离的方法,其包括在配置于生长基底上的牺牲层上沉积外延层;在所述生长基底和所述柄中的至少一者上沉积一个或多个应变层;使所述柄结合于所述生长基底;以及蚀刻所述牺牲层。

    装配薄膜光电子器件的工艺

    公开(公告)号:CN108198875A

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201810054202.2

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 本发明涉及装配薄膜光电子器件的工艺。所述工艺可包括:提供生长结构,所述生长结构包括具有生长表面的晶圆、牺牲层和器件区,其中所述牺牲层被置于所述晶圆与所述器件区之间,并且其中所述器件区具有最远离所述晶圆的表面;提供主基板,其中所述主基板包含金属箔;在所述器件区的表面上沉积第一金属层;在所述主基板上沉积第二金属层;通过在接合温度下将所述第一金属层和所述第二金属层压在一起来使所述第一金属层接合至所述第二金属层,其中所述接合温度高于室温且低于所述主基板的熔化温度和500℃中的较低者。

    装配薄膜光电子器件的工艺

    公开(公告)号:CN105793998B

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201480061763.5

    申请日:2014-11-11

    Abstract: 公开了一种装配薄膜光电子器件的工艺。所述工艺可包括:提供生长结构,所述生长结构包括具有生长表面的晶圆、牺牲层和器件区。所述工艺可进一步包括提供主基板和在所述器件区上沉积第一金属层及在所述主基板上沉积第二金属层。所述工艺可进一步包括通过在接合温度下将所述第一和第二金属层压在一起使所述第一金属层接合至所述第二金属层,其中所述接合温度高于室温且低于所述主基板的玻璃化转变温度和所述主基板的熔化温度中的较低者。

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