经由定向的晶片装载作不对称性校正

    公开(公告)号:CN114270477A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202080058447.8

    申请日:2020-08-25

    Abstract: 一种化学机械研磨系统包括:计量站,具有被配置为测量基板的厚度轮廓的传感器;机械臂,被配置为将基板从计量站传送到研磨站,研磨站具有:用于支撑具有研磨表面的研磨垫的平台;研磨表面上的承载头,承载头具有经配置以施加压力至承载头中基板的膜;以及控制器,控制器被配置为接收来自传感器的测量值并被配置为控制机械臂以根据基板轮廓与承载头的去除轮廓定向承载头中的基板。

    利用扣环的基板边缘调节

    公开(公告)号:CN103098182A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201180044017.1

    申请日:2011-08-05

    CPC classification number: B24B41/06 B24B37/32 B24B41/067

    Abstract: 一种用于化学机械抛光机的载具头包括底座、基板安装表面、环形内环和环形外环。内环具有配置为圆周地环绕定位于基板安装表面上的基板的边缘的内表面、外表面和接触抛光垫的下表面。内环相对于基板安装表面而可垂直移动。外环具有圆周地环绕内环的内表面、外表面和接触抛光垫的下表面。外环相对于且独立于基板安装表面和内环而可垂直移动。内环的下表面具有第一宽度,且外环的下表面具有大于第一宽度的第二宽度。

    抛光系统、生成用于控制其配方的计算机程序产品和方法

    公开(公告)号:CN118456270A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410708261.2

    申请日:2022-03-07

    Abstract: 生成用于抛光工艺的配方,包括:接收目标移除曲线,所述目标移除曲线包括针对围绕基板中心成角度地间隔开的位置的要移除的目标厚度;存储提供随时间变化的相对于承载头的基板方向的第一函数;存储将所述区域中的区域下方的抛光速率定义为因变于承载头的一个或多个区域的一个或多个压强的第二函数;以及对于所述多个区域中的每个特定区域,计算定义该特定区域的随时间变化的压强的配方。计算所述配方包括:从定义抛光速率的第二函数和提供随时间变化的相对于该区域的基板方向的第一函数来计算抛光后的预期厚度曲线;以及应用最小化算法以减小预期厚度曲线和目标厚度曲线之间的差异。

    具有基板进动的基板抛光的工艺参数的控制

    公开(公告)号:CN115026715A

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN202210225634.1

    申请日:2022-03-07

    Abstract: 生成用于抛光工艺的配方,包括:接收目标移除曲线,所述目标移除曲线包括针对围绕基板中心成角度地间隔开的位置的要移除的目标厚度;存储提供随时间变化的相对于承载头的基板方向的第一函数;存储将所述区域中的区域下方的抛光速率定义为因变于承载头的一个或多个区域的一个或多个压强的第二函数;以及对于所述多个区域中的每个特定区域,计算定义该特定区域的随时间变化的压强的配方。计算所述配方包括:从定义抛光速率的第二函数和提供随时间变化的相对于该区域的基板方向的第一函数来计算抛光后的预期厚度曲线;以及应用最小化算法以减小预期厚度曲线和目标厚度曲线之间的差异。

    利用扣环的基板边缘调节

    公开(公告)号:CN103098182B

    公开(公告)日:2016-11-02

    申请号:CN201180044017.1

    申请日:2011-08-05

    CPC classification number: B24B41/06 B24B37/32 B24B41/067

    Abstract: 一种用于化学机械抛光机的载具头包括底座、基板安装表面、环形内环和环形外环。内环具有配置为圆周地环绕定位于基板安装表面上的基板的边缘的内表面、外表面和接触抛光垫的下表面。内环相对于基板安装表面而可垂直移动。外环具有圆周地环绕内环的内表面、外表面和接触抛光垫的下表面。外环相对于且独立于基板安装表面和内环而可垂直移动。内环的下表面具有第一宽度,且外环的下表面具有大于第一宽度的第二宽度。

Patent Agency Ranking