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公开(公告)号:CN102830133B
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201210193025.9
申请日:2012-06-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N25/16
Abstract: 本发明涉及体积测定装置及体积变化测定方法。本发明提供能够更准确地测定体积变化的体积测定装置。体积测定装置,其为测定热固性树脂的热固化时的体积的体积测定装置,其特征是,具备:进行热固性树脂的加热的加热用台座部、载放所述热固性树脂的载放部(13)、对加热用台座部进行加热的加热器(16)、测定加热用台座部的温度的热电偶(17)、基于由热电偶测得的温度来控制所述加热器的温度的温度调节器(19)、和测定各温度下的载放于载放部(13)的热固性树脂(18)的体积的激光位移计(20),所述载放部(13)以凹坑状形成于加热用台座部的上面,至少凹坑状的内表面由表面张力能为大于15mN/m小于30mN/m的原材料形成。加热用台座部具有加热平台(10)和配置于加热平台的上面的氟化碳树脂板(11),在氟化碳树脂板形成有载放部(13)。
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公开(公告)号:CN102830133A
公开(公告)日:2012-12-19
申请号:CN201210193025.9
申请日:2012-06-12
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N25/16
Abstract: 本发明涉及体积测定装置及体积变化测定方法。本发明提供能够更准确地测定体积变化的体积测定装置。体积测定装置,其为测定热固性树脂的热固化时的体积的体积测定装置,其特征是,具备:进行热固性树脂的加热的加热用台座部、载放所述热固性树脂的载放部(13)、对加热用台座部进行加热的加热器(16)、测定加热用台座部的温度的热电偶(17)、基于由热电偶测得的温度来控制所述加热器的温度的温度调节器(19)、和测定各温度下的载放于载放部(13)的热固性树脂(18)的体积的激光位移计(20),所述载放部(13)以凹坑状形成于加热用台座部的上面,至少凹坑状的内表面由表面张力能为大于15mN/m小于30mN/m的原材料形成。加热用台座部具有加热平台(10)和配置于加热平台的上面的氟化碳树脂板(11),在氟化碳树脂板形成有载放部(13)。
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公开(公告)号:CN102779795A
公开(公告)日:2012-11-14
申请号:CN201210148566.X
申请日:2012-05-11
Applicant: 松下电器产业株式会社
Inventor: 丰田庆
CPC classification number: H01L24/32 , H01L21/563 , H01L23/3107 , H01L23/3121 , H01L23/3135 , H01L24/48 , H01L24/73 , H01L2224/05599 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/32245 , H01L2224/451 , H01L2224/45144 , H01L2224/48227 , H01L2224/48247 , H01L2224/73204 , H01L2224/73265 , H01L2224/83192 , H01L2224/85399 , H01L2224/8592 , H01L2224/92144 , H01L2224/92247 , H01L2924/00014 , H01L2924/12041 , H01L2924/15184 , H01L2924/15192 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H01L2924/00012 , H01L2924/00 , H01L2224/45015 , H01L2924/207 , H01L2224/45099
Abstract: 本发明的半导体装置具备基板、安装于所述基板上的半导体元件、被覆所述半导体元件的至少一部分的保护膜、将所述半导体元件及所述保护膜密封的密封树脂,在所述保护膜与所述密封树脂之间至少存在1处所述保护膜和所述密封树脂未密合的空隙,藉此,能够提供应力缓和优良的半导体装置。
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