纵深取得装置、纵深取得方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN112513934B

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN201980049530.6

    申请日:2019-07-18

    Abstract: 提供能正确取得到被摄体的纵深的纵深取得装置。该纵深取得装置(1)具备存储器(200)和处理器(110a)。处理器(110a):取得红外光的强度,该红外光的强度通过基于被摄体的红外光的摄像而被测量并被保存在存储器(200),通过基于该红外光的强度算出到被摄体的距离作为纵深来生成纵深图像,取得BW图像,该BW图像通过与基于红外光的强度的IR图像实质相同的场景、相同视点以及相同时刻的摄像而生成并被保持在存储器(200),基于IR图像和BW图像来检测被摄体当中低反射物体在IR图像内所映出的区域即低反射区域,基于可见光图像来补正纵深图像的低反射区域,输出补正后的纵深图像。

    交点检测装置及方法、摄像头校正系统及方法及记录介质

    公开(公告)号:CN108074267B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN201710879400.8

    申请日:2017-09-26

    Abstract: 本公开涉及交点检测装置及方法、摄像头校正系统及方法等。交点检测装置具备:存储器;和交点检测部,其从存储器读取拍摄图像中的至少一部分图像作为矩形图像,检测该矩形图像所映现的棋盘格图案中的两条边界线的交点,交点检测部决定用于将基于差分的评价值最佳化的函数模型的多个参数,该差分是由设二维图像坐标为变量的函数模型表现的各像素值与矩形图像的各像素值的差分,算出由所决定的多个参数表现的两条直线的交点的位置,由此以子像素精度检测交点,上述的函数模型通过至少能够进行一次微分的曲面表示位于黑区域与白区域的边界的二维坐标系上的各位置的像素值。

    摄像头参数集算出装置、摄像头参数集算出方法以及记录介质

    公开(公告)号:CN107809610B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201710584189.7

    申请日:2017-07-18

    Abstract: 本公开涉及摄像头参数集算出装置、摄像头参数集算出方法以及程序。摄像头参数集算出装置具备:三维点群算出器(902),其基于由第1、第2摄像头拍摄到的第1、第2图像和第1、第2摄像头的第1、第2摄像头参数集,算出多个三维坐标;评价值算出器(903),其基于所述多个三维坐标和所述第2摄像头参数集来决定所述第2图像中的多个第2像素坐标,基于所述多个三维坐标和第3摄像头的第3摄像头参数集来决定由所述第3摄像头拍摄到的第3图像中的多个第3像素坐标,基于所述多个第2、第3像素坐标处的所述第2、第3图像中的多个像素值来算出评价值;以及摄像头参数集决定器(904),其基于所述评价值来决定所述第3摄像头的第4摄像头参数集。

    拍摄装置以及拍摄方法
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109565539B

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN201780049925.7

    申请日:2017-11-28

    Abstract: 拍摄装置(101)具备:拍摄第1图像的第1摄像头(102);拍摄第2图像的第2摄像头(103);透镜罩(106),其包括具有透光性的多个部分和多条棱线,覆盖第1摄像头(102)和第2摄像头(103),多个部分包括上部和多个邻接部,多个邻接部的每个与上部邻接,多条棱线分别形成在多个邻接部的多个表面的各表面与上部的表面之间;处理电路(111),在第1图像中确定处于需要进行像素值插补的区域内的像素,使用第1图像和用于对所确定的像素的像素值进行插补的插补像素信息来生成输出图像,多条棱线的每条处于相对于连结第1摄像头(102)的第1透镜的中心和第2摄像头(103)的第2透镜的中心的基线而扭曲的位置,上部与设置有第1摄像头(102)和所述第2摄像头(103)的基座相对。

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