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公开(公告)号:CN100523290C
公开(公告)日:2009-08-05
申请号:CN200480031912.X
申请日:2004-10-27
IPC: C23C16/455 , C23F4/00 , H01L21/3065 , H01L21/31
CPC classification number: H01J37/32449 , C23C16/45589 , H01J37/3244 , H01L21/02164 , H01L21/02186 , H01L21/02271 , H01L21/02274 , H01L21/31612 , H01L21/67017
Abstract: 本发明的课题为,以简略且低成本的结构,使向基材上的均匀的气体供给成为可能,而实现高质量的表面处理。作为其解决的方法,是一边将基材(12)朝特定方向搬送,一边向其表面供给表面处理用气体,由此进行基材(12)的表面处理,作为所述表面处理用气体的供给机构,是使具有圆筒状外周面的旋转体(24)的上述外周面,与所述基材(12)的表面、或设置于从上述基材相离的位置的对向构件(20),隔有间隙(23)而相对向,使之以与所述基材(12)的搬送方向大致垂直的方向的轴为中心而旋转。由此旋转,使所述表面处理用气体卷入旋转体(24)的外周面,导向所述间隙(23),从此间隙(23)向所述基材(12)的表面送出表面处理用气体。
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公开(公告)号:CN102884437B
公开(公告)日:2015-02-04
申请号:CN201180023166.X
申请日:2011-05-10
IPC: G01R1/067
CPC classification number: G01R1/06761 , G01R3/00 , G01R35/00
Abstract: 提供一种能够实现与被测器件(特别是被测器件中含有的Sn)的低附着性,并且能够长期保持稳定接触电阻的接触式探针和具有它的连接装置。本发明涉及一种与电极反复接触的接触式探针,其中,在与电极接触的所述接触式探针的表面,形成有含有金属元件的碳被膜,所述金属元素在碳被膜表面的浓度比碳被膜整体的平均浓度低。
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公开(公告)号:CN100378974C
公开(公告)日:2008-04-02
申请号:CN200310114841.7
申请日:2003-11-07
Applicant: 株式会社神户制钢所
IPC: H01L23/373
CPC classification number: H01L23/3732 , H01L2924/0002 , H01L2924/12044 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种散热器和使用了该散热器的半导体元件和半导体封装体。在本发明的带有散热器的半导体元件和半导体封装体中,在半导体元件的背面上直接接合了由金刚石层或碳化硅和氮化铝等的陶瓷层构成的具有高热传导特性的散热器。在半导体元件的制作工序前、工序中或工序后的任一过程中,将该散热器直接覆盖并形成在作为基体材料的硅晶片或芯片上。利用这样的结构使半导体元件的散热特性良好,同时可一同提高半导体元件的安装可靠性和散热片的接合可靠性。此外,在本发明的散热器中,经高分子粘接层将金属或陶瓷构件覆盖在金刚石层上。金刚石层的结晶在金刚石层的厚度方向上具有纤维状结构或微结晶。金刚石层的与该由金属或陶瓷构成的构件的接合面具有纤毛状结构。该结构作为半导体封装体的冷却散热器,其散热特性极为良好,其本身具有足够的强度、平面性和气密性,而且与半导体元件和陶瓷等的构成封装体本体的密封材料的粘接性是良好的。
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公开(公告)号:CN1499620A
公开(公告)日:2004-05-26
申请号:CN200310114841.7
申请日:2003-11-07
Applicant: 株式会社神户制钢所
IPC: H01L23/373
CPC classification number: H01L23/3732 , H01L2924/0002 , H01L2924/12044 , H01L2924/00
Abstract: 本发明提供一种散热器和使用了该散热器的半导体元件和半导体封装体。在本发明的带有散热器的半导体元件和半导体封装体中,在半导体元件的背面上直接接合了由金刚石层或碳化硅和氮化铝等的陶瓷层构成的具有高热传导特性的散热器。在半导体元件的制作工序前、工序中或工序后的任一过程中,将该散热器直接覆盖并形成在作为基体材料的硅晶片或芯片上。利用这样的结构使半导体元件的散热特性良好,同时可一同提高半导体元件的安装可靠性和散热片的接合可靠性。此外,在本发明的散热器中,经高分子粘接层将金属或陶瓷构件覆盖在金刚石层上。金刚石层的结晶在金刚石层的厚度方向上具有纤维状结构或微结晶。金刚石层的与该由金属或陶瓷构成的构件的接合面具有纤毛状结构。该结构作为半导体封装体的冷却散热器,其散热特性极为良好,其本身具有足够的强度、平面性和气密性,而且与半导体元件和陶瓷等的构成封装体本体的密封材料的粘接性是良好的。
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公开(公告)号:CN103210314B
公开(公告)日:2015-11-25
申请号:CN201180055264.1
申请日:2011-11-16
IPC: G01R1/067
CPC classification number: G01R1/06738 , G01R1/06761 , H01R13/03
Abstract: 本发明提供一种接触探针销,其对于前端分割的基材,形成兼备导电性和耐久性的碳皮膜,即使在使用环境达到高温这样的状况下,也能够极力减少Sn附着,长期保持稳定的电接触。本发明涉及一种接触探针销,其具有被分割成2相以上的突起的前端,由该突起反复与被测面接触的接触探针销,其中,至少在所述突起的表面,形成含有金属元素的碳皮膜,并且所述突起的顶部的曲率半径为30μm以上。
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公开(公告)号:CN103210314A
公开(公告)日:2013-07-17
申请号:CN201180055264.1
申请日:2011-11-16
CPC classification number: G01R1/06738 , G01R1/06761 , H01R13/03
Abstract: 本发明提供一种接触探针销,其对于前端分割的基材,形成兼备导电性和耐久性的碳皮膜,即使在使用环境达到高温这样的状况下,也能够极力减少Sn附着,长期保持稳定的电接触。本发明涉及一种接触探针销,其具有被分割成2相以上的突起的前端,由该突起反复与被测面接触的接触探针销,其中,至少在所述突起的表面,形成含有金属元素的碳皮膜,并且所述突起的顶部的曲率半径为30μm以上。
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公开(公告)号:CN102884437A
公开(公告)日:2013-01-16
申请号:CN201180023166.X
申请日:2011-05-10
IPC: G01R1/067
CPC classification number: G01R1/06761 , G01R3/00 , G01R35/00
Abstract: 提供一种能够实现与被测器件(特别是被测器件中含有的Sn)的低附着性,并且能够长期保持稳定接触电阻的接触式探针和具有它的连接装置。本发明涉及一种与电极反复接触的接触式探针,其中,在与电极接触的所述接触式探针的表面,形成有含有金属元件的碳被膜,所述金属元素在碳被膜表面的浓度比碳被膜整体的平均浓度低。
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公开(公告)号:CN1875129A
公开(公告)日:2006-12-06
申请号:CN200480031912.X
申请日:2004-10-27
IPC: C23C16/455 , C23F4/00 , H01L21/3065 , H01L21/31
CPC classification number: H01J37/32449 , C23C16/45589 , H01J37/3244 , H01L21/02164 , H01L21/02186 , H01L21/02271 , H01L21/02274 , H01L21/31612 , H01L21/67017
Abstract: 本发明的课题为,以简略且低成本的结构,使向基材上的均匀的气体供给成为可能,而实现高质量的表面处理。作为其解决的方法,是一边将基材(12)朝特定方向搬送,一边向其表面供给表面处理用气体,由此进行基材(12)的表面处理,作为所述表面处理用气体的供给机构,是使具有圆筒状外周面的旋转体(24)的上述外周面,与所述基材(12)的表面、或设置于从上述基材相离的位置的对向构件(20),隔有间隙(23)而相对向,使之以与所述基材(12)的搬送方向大致垂直的方向的轴为中心而旋转。由此旋转,使所述表面处理用气体卷入旋转体(24)的外周面,导向所述间隙(23),从此间隙(23)向所述基材(12)的表面送出表面处理用气体。
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