连接部件用导电材料
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108368630A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201680072203.9

    申请日:2016-12-21

    Inventor: 鹤将嘉 桂进也

    Abstract: 一种连接部件用导电材料,其在由铜或铜合金板条构成的母材的表面,按顺序形成Cu含量为55~70at%,平均厚度为0.1~3.0μm的Cu-Sn合金被覆层5,平均厚度为0.2~5.0μm的Sn被覆层6。以来自扫描型电子显微镜的倍率100倍的反射电子像进行观察时,在材料表面,A区域,和亮度比A区域高,Cu-Sn合金被覆层没有露出的B区域混杂在一起,A区域的面积率为2~65%。另外,利用扫描型电子显微镜,以倍率10,000倍观察A区域时,被Sn被覆层被覆的C区域和没有被Sn被覆层被覆的D区域混杂在一起,A区域内的C区域的面积率为20~70%。

    弯曲加工性及耐应力松弛特性优异的电气电子部件用铜合金板

    公开(公告)号:CN103361512A

    公开(公告)日:2013-10-23

    申请号:CN201310098867.0

    申请日:2013-03-26

    Inventor: 桂进也

    CPC classification number: C22C9/06 C22C9/04 C22F1/08 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明使用Cu-Ni-Si系铜合金而提供弯曲加工性及耐应力松弛特性均优异的电气电子部件用铜合金板。所述铜合金板包含如下的铜合金,所述铜合金含有1.5~4.0质量%的Ni、使Ni/Si的质量比达到4.0~5.0的Si及0.01~1.3质量%的Sn,且余量含铜及不可避免的杂质,所述铜合金板的平均结晶粒径为5~20μm、且结晶粒径的标准偏差满足2σ<10μm,在由板面的垂直方向和轧制方向的平行方向构成的截面观察到的粒径为30~300nm的Ni-Si分散粒子中,粒径为90~300nm的粒子的个数的比例为20%以上。

    连接部件用导电材料
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108368630B

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201680072203.9

    申请日:2016-12-21

    Inventor: 鹤将嘉 桂进也

    Abstract: 一种连接部件用导电材料,其在由铜或铜合金板条构成的母材的表面,按顺序形成Cu含量为55~70at%,平均厚度为0.1~3.0μm的Cu-Sn合金被覆层5,平均厚度为0.2~5.0μm的Sn被覆层6。以来自扫描型电子显微镜的倍率100倍的反射电子像进行观察时,在材料表面,A区域,和亮度比A区域高,Cu-Sn合金被覆层没有露出的B区域混杂在一起,A区域的面积率为2~65%。另外,利用扫描型电子显微镜,以倍率10,000倍观察A区域时,被Sn被覆层被覆的C区域和没有被Sn被覆层被覆的D区域混杂在一起,A区域内的C区域的面积率为20~70%。

    弯曲加工性及耐应力松弛特性优异的电气电子部件用铜合金板

    公开(公告)号:CN103361512B

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201310098867.0

    申请日:2013-03-26

    Inventor: 桂进也

    CPC classification number: C22C9/06 C22C9/04 C22F1/08 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明使用Cu-Ni-Si系铜合金而提供弯曲加工性及耐应力松弛特性均优异的电气电子部件用铜合金板。所述铜合金板包含如下的铜合金,所述铜合金含有1.5~4.0质量%的Ni、使Ni/Si的质量比达到4.0~5.0的Si及0.01~1.3质量%的Sn,且余量含铜及不可避免的杂质,所述铜合金板的平均结晶粒径为5~20μm、且结晶粒径的标准偏差满足2σ<10μm,在由板面的垂直方向和轧制方向的平行方向构成的截面观察到的粒径为30~300nm的Ni-Si分散粒子中,粒径为90~300nm的粒子的个数的比例为20%以上。

    铜合金
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102534298B

    公开(公告)日:2014-11-26

    申请号:CN201110408401.7

    申请日:2011-12-09

    CPC classification number: C22C9/06 C22C1/02 C22F1/08 H01B1/026 H05K1/09

    Abstract: 本发明的铜合金,以质量%计含有1.5~3.6%的Ni、0.3~1.0%的Si,余量是铜以及不可避免的杂质,其中,该铜合金的晶粒的平均晶粒直径为5μm~30μm,并且,具有该平均晶粒直径的2倍以上的晶粒直径的晶粒所占的面积率为3%以上,并且,在具有该平均晶粒直径的2倍以上的晶粒直径的晶粒所占的面积中,Cube取向晶粒所占的面积率为50%以上。由此,提供一种导电性当然良好,还兼具高强度,优异的弯曲加工性以及优异的耐应力松弛特性的铜合金。

Patent Agency Ranking