一种角速度测量装置、方法及其载具

    公开(公告)号:CN109556593A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201811175104.0

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种角速度测量装置、方法及其载具,测量光梳信号通过第一分光器分成在测量回路中相向传输的第一光梳信号和第二光梳信号后在第一分光器上并输出合光光梳信号,所述合光光梳信号与所述的本振光梳信号发生多外差干涉并输出干涉信号,当测量回路旋转时,第一光梳信号和第二光梳信号在第一分光器上发生Sagnac效应,通过与本振光梳信号进行多外差干涉后对干涉信号进行分析,即可获得测量回路旋转的绝对角速度,本发明上述实施方式只需使用一个单点探测器即可能够准确、快速测量绝对角速度。

    一种分级控制的温控盒、控制方法及飞秒频率梳

    公开(公告)号:CN109002070A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201811060587.X

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种分级控制的温控盒、控制方法及飞秒频率梳,包括用于盘绕光纤的光纤盘和用于装载光纤盘的恒温盒,恒温盒设置有第二级温控回路,光纤盘设置有第一级温控回路,第二级温控回路包括设置于恒温盒内的第二测温单元和对恒温盒内的温度进行调节的第二调温单元,第一级温控回路包括设置于光纤盘内的第一测温单元和对光纤盘内的温度进行调节的第一调温单元。该温控盒及飞秒频率梳,通过不同级别的温度控制方式来实现高精度、高速度、大范围的温度控制,从而提高光纤的抗干扰能力。

    双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109238153B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN201811064599.X

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质。本发明通过利用信号光频梳作为测量臂光路的光源,并利用本振光频梳与两组测量光脉冲进行多外差干涉,通过测量干涉信号的相位时延,计算出待测物体厚度,克服了传统迈克尔逊干涉仪存在的无法对待测表面之间的绝对距离进行测量的技术问题,实现了一种有利于高精度、高实时性的光学表面距离测量双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质。本发明可广泛应用于平行表面距离的测量。

    一种分级控制的温控盒、控制方法及飞秒频率梳

    公开(公告)号:CN109002070B

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN201811060587.X

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种分级控制的温控盒、控制方法及飞秒频率梳,包括用于盘绕光纤的光纤盘和用于装载光纤盘的恒温盒,恒温盒设置有第二级温控回路,光纤盘设置有第一级温控回路,第二级温控回路包括设置于恒温盒内的第二测温单元和对恒温盒内的温度进行调节的第二调温单元,第一级温控回路包括设置于光纤盘内的第一测温单元和对光纤盘内的温度进行调节的第一调温单元。该温控盒及飞秒频率梳,通过不同级别的温度控制方式来实现高精度、高速度、大范围的温度控制,从而提高光纤的抗干扰能力。

    一种角速度测量装置、方法及其载具

    公开(公告)号:CN109556593B

    公开(公告)日:2020-08-04

    申请号:CN201811175104.0

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种角速度测量装置、方法及其载具,测量光梳信号通过第一分光器分成在测量回路中相向传输的第一光梳信号和第二光梳信号后在第一分光器上并输出合光光梳信号,所述合光光梳信号与所述的本振光梳信号发生多外差干涉并输出干涉信号,当测量回路旋转时,第一光梳信号和第二光梳信号在第一分光器上发生Sagnac效应,通过与本振光梳信号进行多外差干涉后对干涉信号进行分析,即可获得测量回路旋转的绝对角速度,本发明上述实施方式只需使用一个单点探测器即可能够准确、快速测量绝对角速度。

    双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109238153A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811064599.X

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本发明公开了一种双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质。本发明通过利用信号光频梳作为测量臂光路的光源,并利用本振光频梳与两组测量光脉冲进行多外差干涉,通过测量干涉信号的相位时延,计算出待测物体厚度,克服了传统迈克尔逊干涉仪存在的无法对待测表面之间的绝对距离进行测量的技术问题,实现了一种有利于高精度、高实时性的光学表面距离测量双光频梳测厚光路结构、系统、方法、装置及存储介质。本发明可广泛应用于平行表面距离的测量。

    一种分级控制的温控盒及飞秒频率梳

    公开(公告)号:CN208781092U

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201821492303.X

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种分级控制的温控盒及飞秒频率梳,包括用于盘绕光纤的光纤盘和用于装载光纤盘的恒温盒,恒温盒设置有第二级温控回路,光纤盘设置有第一级温控回路,第二级温控回路包括设置于恒温盒内的第二测温单元和对恒温盒内的温度进行调节的第二调温单元,第一级温控回路包括设置于光纤盘内的第一测温单元和对光纤盘内的温度进行调节的第一调温单元。该温控盒及飞秒频率梳,通过不同级别的温度控制方式来实现高精度、高速度、大范围的温度控制,从而提高光纤的抗干扰能力。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种双光频梳测厚光路结构及系统

    公开(公告)号:CN208780142U

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201821500142.4

    申请日:2018-09-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种双光频梳测厚光路结构及系统。本实用新型通过利用信号光频梳作为测量臂光路的光源,并利用本振光频梳与两组测量光脉冲进行多外差干涉,通过测量干涉信号的相位时延,可计算出待测物体厚度,克服了传统迈克尔逊干涉仪存在的无法对待测表面之间的绝对距离进行测量的技术问题,实现了一种有利于高精度、高实时性的光学表面距离测量光路结构及系统。本实用新型可广泛应用于平行表面距离的测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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