半导体检查用的耐热性粘合片

    公开(公告)号:CN105264034B

    公开(公告)日:2019-03-12

    申请号:CN201480031649.8

    申请日:2014-06-10

    Abstract: 本发明提供一种半导体检查用的耐热性粘合片,其在加热时不会轻易发生粘合片变形或粘着剂层软化,为在加热半导体芯片的同时进行性能检查工序所使用的粘合片,由在基材上设有粘着剂层而成;所述基材在150℃下加热30分钟后的热收缩率低于1%,且60℃~150℃下的线膨胀系数为5.0×10‑5/K以下;所述粘着剂层包含(甲基)丙烯酸共聚物、光聚合性化合物、多官能异氰酸酯硬化剂以及光聚合起始剂;对100重量的所述(甲基)丙烯酸共聚物,所述光聚合性化合物为5~200质量份,所述多官能异氰酸酯硬化剂为0.5~20质量份,所述光聚合起始剂为0.1~20质量份,且所述粘着剂层不包含增粘树脂。优选地,所述粘着剂层包含硅氧烷类接枝共聚物。

    切割胶带
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107112221B

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN201680004665.7

    申请日:2016-01-05

    Inventor: 津久井友也

    Abstract: 本发明提供一种即使是小型、薄型的电子部件也能够抑制切割工序中的芯片飞散和崩裂,能够使拾取容易且不易产生残胶的切割胶带。根据本发明,提供一种切割胶带,其是在基材膜上层叠由粘合剂组合物构成的粘合剂层而形成的,其特征在于,上述粘合剂组合物含有(甲基)丙烯酸酯共聚物100质量份、光聚合性化合物5~250质量份、固化剂0.1~20质量份和光聚合引发剂0.1~20质量份,上述(甲基)丙烯酸酯共聚物含有(甲基)丙烯酸甲酯单元35~85质量%、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯单元10~60质量%、具有羧基的单体单元0.5~10质量%以及具有羟基的单体单元を0.05~5质量%,上述光聚合性化合物是重均分子量为4000~8000,且不饱和双键官能团数为10~15的聚氨酯丙烯酸酯低聚物,上述粘合剂层的厚度为3~7μm。

    粘合片及使用粘合片的电子元件的制造方法

    公开(公告)号:CN103959444B

    公开(公告)日:2016-11-30

    申请号:CN201280058909.1

    申请日:2012-11-27

    Abstract: 本发明提供一种粘合片,其在拾取工序中对晶片的拾取性不会经时劣化,且可使用在切割前有加热工序及无加热工序的两种生产线上。一种粘合片,具有在含有聚氯乙烯及聚酯类可塑剂的基材膜上形成的由粘合剂组合物所成的粘合剂层,其粘合剂组合物含有100质量份之(甲基)丙烯酸酯共聚物,与0.1~7质量份之异氰酸酯类固化剂,(甲基)丙烯酸酯共聚物含有35~85质量%之(甲基)丙烯酸甲酯单元,10~60质量%之丙烯酸2‑乙基己酯单元,0.5~10质量%之具有羧基之单体单元,及0.01~5质量%之具有羟基之单体单元;相对于100质量份之上述(甲基)丙烯酸酯共聚物成分,上述粘合剂组合物之环氧树脂类固化剂的含量为0~0.25质量份。

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