-
公开(公告)号：CN101091225A
公开(公告)日：2007-12-19
申请号：CN200480031984.4
申请日：2004-11-04
Applicant: 电子科学工业公司
IPC: H01C17/06
CPC classification number: H01G4/232 , H01C17/006 , H01C17/242 , H01C17/281 , H01G4/33 , H01G13/00 , H01G13/006
Abstract: 终结无源电子元件的末端涉及将激光烧蚀涂层(70)施加至衬底(10和34)的各相对的主要表面(14和16、36和38)。引导所具有的光斑尺寸和能量分布足以从主要表面的多个选定区域去除激光烧蚀涂层的UV激光束入射到衬底上。UV激光束和衬底之间的相对运动去除足量的激光烧蚀涂层，以暴露相对的主要表面的多个选定区域。衬底然后被断裂成多个条棒(48和50)，每个条棒包括侧边缘(60和62)，沿着侧边缘，设置相对主要表面的空间上对齐的不同对的选定区域。导电材料被施加至侧边缘，以在空间上对齐的每对选定区域之间形成导电互连部分(56和58)。
-
公开(公告)号：CN101084443B
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200580043700.8
申请日：2005-11-03
Applicant: 电子科学工业公司
CPC classification number: G01R31/016 , B07C5/344
Abstract: 本发明采用凹部(72)，表面轮廓，触点尖部改进(52)，和/或确保测试板(5)的底表面(50)和电气触点的顶表面(52)之间压紧的其他方法来增强电气触点的顶表面(52)的清洁，从而改进DUT测量的可靠性。
-
公开(公告)号：CN101103426A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200580044419.6
申请日：2005-11-21
Applicant: 电子科学工业公司
IPC: H01H31/02
CPC classification number: G01R31/01
Abstract: 一种方法(1000，1100，1200，1300，1400)自动测试电子组件(12，120)的参数以确定该组件(12，120)是否具有可接受的值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)采用自动电子组件测试机(2)，其具有至少第一和第二测量位置，可在这些测量位置测量参数。当值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致该值看起来不可接受。方法(1000，1100，1200，1300，1400)将组件(12，120)放置在第一测量位置并在第一测量位置测量参数，由此生成第一被测参数值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)也将组件(12，120)放置在第二测量位置并在第二测量位置测量参数，由此生成第二被测参数值。只有当所有被测值都不可接受时，方法(1000，1100，1200，1300，1400)才拒绝组件(12，120)，从而使错误拒绝组件(12，120)的概率比如果只执行单个测量步骤而错误拒绝组件(12，120)的概率要小。
-
公开(公告)号：CN1582397B
公开(公告)日：2011-04-06
申请号：CN02822018.8
申请日：2002-11-01
Applicant: 电子科学工业公司
CPC classification number: G01R1/02
Abstract: 一种滚动接触器(1)，用于提供待测元件“DUT”(15)与滚动接触器(1)的支撑结构之间的电信号连通，所述滚动接触器包括：一导电圆形滚轮(3)，所述圆形滚轮有一外滚动面(5)及一内中央孔(9)，所述中央孔位于两分隔侧壁之间，以使滚轮滚动过待测元件(15)；至少一导电圆形管轴，所述管轴邻接并接触这些滚轮侧壁其中之一；一支撑轮轴(7)，用于轴向穿过形成于滚轮(3)内的中央孔(9)及所述管轴；一导电轮轴托架(21)，用于以旋转布置方式支撑轮轴(7)；一导电刷(59)，所述导电刷从轮轴托架(21)延伸并在旋转期间接触所述管轴；以及一导电长弹簧臂(27)，其在所述轮轴托架(21)与所述支撑结构之间延伸，以形成所述DUT(15)、滚轮(3)表面和所述管轴之间的电路径。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101084443A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200580043700.8
申请日：2005-11-03
Applicant: 电子科学工业公司
CPC classification number: G01R31/016 , B07C5/344
Abstract: 本发明采用凹部(72)，表面轮廓，触点尖部改进(52)，和/或确保测试板(5)的底表面(50)和电气触点的顶表面(52)之间压紧的其他方法来增强电气触点的顶表面(52)的清洁，从而改进DUT测量的可靠性。
-
公开(公告)号：CN1582397A
公开(公告)日：2005-02-16
申请号：CN02822018.8
申请日：2002-11-01
Applicant: 电子科学工业公司
CPC classification number: G01R1/02
Abstract: 一种滚动接触器(1)，用于提供待测元件“DUT”(15)与滚动接触器(1)的支撑结构之间的电信号连通，所述滚动接触器包括：一导电圆形滚轮(3)，所述圆形滚轮有一外滚动面(5)及一内中央孔(9)，所述中央孔位于两分隔侧壁之间，以使滚轮滚动过待测元件(15)；至少一导电圆形管轴，所述管轴邻接并接触这些滚轮侧壁其中之一；一支撑轮轴(7)，用于轴向穿过形成于滚轮(3)内的中央孔(9)及所述管轴；一导电轮轴托架(21)，用于以旋转布置方式支撑轮轴(7)；一导电刷(59)，所述导电刷从轮轴托架(21)延伸并在旋转期间接触所述管轴；以及一导电长弹簧臂(27)，其在所述轮轴托架(21)与所述支撑结构之间延伸，以形成所述DUT(15)、滚轮(3)表面和所述管轴之间的电路径。
-
公开(公告)号：CN101103426B
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN200580044419.6
申请日：2005-11-21
Applicant: 电子科学工业公司
CPC classification number: G01R31/01
Abstract: 一种方法(1000，1100，1200，1300，1400)自动测试电子组件(12，120)的参数以确定该组件(12，120)是否具有可接受的值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)采用自动电子组件测试机(2)，其具有至少第一和第二测量位置，可在这些测量位置测量参数。当值实际上是可接受的时候，测试程序本身可能错误地导致该值看起来不可接受。方法(1000，1100，1200，1300，1400)将组件(12，120)放置在第一测量位置并在第一测量位置测量参数，由此生成第一被测参数值。方法(1000，1100，1200，1300，1400)也将组件(12，120)放置在第二测量位置并在第二测量位置测量参数，由此生成第二被测参数值。只有当所有被测值都不可接受时，方法(1000，1100，1200，1300，1400)才拒绝组件(12，120)，从而使错误拒绝组件(12，120)的概率比如果只执行单个测量步骤而错误拒绝组件(12，120)的概率要小。
-
公开(公告)号：CN101023528B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200580030153.X
申请日：2005-08-08
Applicant: 电子科学工业公司
Inventor： D·J·加西亚
CPC classification number: B07C5/344 , G01R1/06705
Abstract: 一种电气组件处理机(2)，能检测电气电路组件并包括自洁式下触点(100)，该处理机能降低产量损失和提供援助平均间隔时间。电气组件处理机(2)的优选实施例包括多组上触点和下触点(102,100)，其中每组触点在空间上对准以电接触单个的被测器件(DUT)(14)。每个DUT(14)固定在检测盘(5)上，检测盘(5)将DUT(14)传送至上下触点之间(102,100)的检测测量位置并将DUT从检测测量位置传送出去。下触点(100)包括触头(116)，当进行检测过程时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠电气组件；当传送电气组件时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠检测盘(5)的表面。下触点(100)摩擦检测盘(5)，以此有助于去除触头(116)在组件处理机操作中得到的污染物。
-
公开(公告)号：CN101023528A
公开(公告)日：2007-08-22
申请号：CN200580030153.X
申请日：2005-08-08
Applicant: 电子科学工业公司
Inventor： D·J·加西亚
CPC classification number: B07C5/344 , G01R1/06705
Abstract: 一种电气组件处理机(2)，能检测电气电路组件并包括自洁式下触点(100)，该处理机能降低产量损失和提供援助平均间隔时间。电气组件处理机(2)的优选实施例包括多组上触点和下触点(102，100)，其中每组触点在空间上对准以电接触单个的被测器件(DUT)(14)。每个DUT(14)固定在检测盘(5)上，检测盘(5)将DUT(14)传送至上下触点之间(102，100)的检测测量位置并将DUT从检测测量位置传送出去。下触点(100)包括触头(116)，当进行检测过程时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠电气组件；当传送电气组件时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠检测盘(5)的表面。下触点(100)摩擦检测盘(5)，以此有助于去除触头(116)在组件处理机操作中得到的污染物。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9
records
(took 0.023 seconds)
