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公开(公告)号：CN115393519A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211054845.X
申请日：2022-08-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种基于红外可见光融合图像的三维重构方法，包括对同一视角下拍摄的红外图片和可见光图片进行图像融合，输出红外可见光融合图像；然后对红外可见光融合融合图片进行特征点提取及匹配，再计算与其对应的相机位姿，通过最小化重投影误差对相机位姿进行优化；之后以红外可见光融合图像和对应相机位姿为输入，通过块匹配算法计算每幅图像对应的深度图和像素点平面法向量图；最后在深度图融合模块结合红外可见光融合图像、深度图和像素点平面法向图，输出带红外信息和可见光纹理信息的三维模型，本发明可以重构出具有红外可见光双层信息的三维模型。
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公开(公告)号：CN115100269B
公开(公告)日：2024-04-23
申请号：CN202210741558.X
申请日：2022-06-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光场图像深度估计方法、系统、电子设备及存储介质，涉及光场图像处理领域，解决了解决现有的现有传统光场深度估计方法难以获得全局误差小且精度高的深度图，本发明在获得重聚焦图时没有用到插值，而是利用傅里叶相移定理得到位移子孔径图像，这样获得的重聚焦图像相较于插值方法有更高的精度；其次，在对优化匹配初始深度中，利用梯度随位移量的变化曲线在最佳位移量附近表现出对称峰特性，并加入匹配初始深度进行深度优化，这样在修正了重聚焦深度估计全局误差大的缺点的同时将重聚焦深度估计细节信息完备的优点发挥出来，得到结果相较于重聚焦深度估计和立体匹配深度估计都更为优异，兼顾了全局误差以及精度。
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公开(公告)号：CN114754982A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210395010.4
申请日：2022-04-15
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种智能光学瞄具眼点距离自动测试装置及方法，涉及光学器具测量技术领域；测量装置包括：瞄具支架，用于固定待测瞄具；图像采集模块，设有摄像机和光阑，所述摄像机用于采集所述待测瞄具透过所述光阑后的图像；移动模块，用于驱动所述图像采集模块相对远离或靠拢所述瞄具支架；数据处理模块，用于接收所述图像采集模块输出的图像数据，并对图像数据进行处理，根据处理结果判断当前状态是否达到测试要求；测距模块，测量所述光阑与所述瞄具支架上装载的瞄具的目镜接触时，到所述数据处理模块的处理结果达到测试要求时的距离，能够自动的测量光学瞄具的眼点距离。测试方法基于前述的测试装置，能够自动的测量光学瞄具的眼点距离。
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公开(公告)号：CN114754982B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202210395010.4
申请日：2022-04-15
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种智能光学瞄具眼点距离自动测试装置及方法，涉及光学器具测量技术领域；测量装置包括：瞄具支架，用于固定待测瞄具；图像采集模块，设有摄像机和光阑，所述摄像机用于采集所述待测瞄具透过所述光阑后的图像；移动模块，用于驱动所述图像采集模块相对远离或靠拢所述瞄具支架；数据处理模块，用于接收所述图像采集模块输出的图像数据，并对图像数据进行处理，根据处理结果判断当前状态是否达到测试要求；测距模块，测量所述光阑与所述瞄具支架上装载的瞄具的目镜接触时，到所述数据处理模块的处理结果达到测试要求时的距离，能够自动的测量光学瞄具的眼点距离。测试方法基于前述的测试装置，能够自动的测量光学瞄具的眼点距离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115134500A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210750900.2
申请日：2022-06-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04N5/225 , H04N13/204
Abstract: 本发明公开了一种用于探测器的保护玻璃、探测器、光场传感器、光场相机及微透镜阵列与二维成像器件耦合方法。保护玻璃为台阶玻璃，具有顶面和底面，顶面面积小于底面面积；顶面刻有微透镜阵列。探测器，包括陶瓷基底和保护玻璃，陶瓷基底上设置有二维成像器件，保护玻璃底面向上安装在陶瓷基底上，使得所述微透镜阵列位于二维成像器件的光敏面的正上方。光场传感器包括探测器，光场相机包括光场传感器。本发明将微透镜阵列设置在台阶玻璃顶面，且顶面向下安装，使得微透镜阵列避免与信号线接触，可以与探测器感光面近距离耦合，解决了微透镜阵列焦距短带来的耦合难题；耦合简单，降低了安装难度。
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公开(公告)号：CN115134500B
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202210750900.2
申请日：2022-06-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04N23/55 , H04N23/54 , H04N13/204
Abstract: 本发明公开了一种用于探测器的保护玻璃、探测器、光场传感器、光场相机及微透镜阵列与二维成像器件耦合方法。保护玻璃为台阶玻璃，具有顶面和底面，顶面面积小于底面面积；顶面刻有微透镜阵列。探测器，包括陶瓷基底和保护玻璃，陶瓷基底上设置有二维成像器件，保护玻璃底面向上安装在陶瓷基底上，使得所述微透镜阵列位于二维成像器件的光敏面的正上方。光场传感器包括探测器，光场相机包括光场传感器。本发明将微透镜阵列设置在台阶玻璃顶面，且顶面向下安装，使得微透镜阵列避免与信号线接触，可以与探测器感光面近距离耦合，解决了微透镜阵列焦距短带来的耦合难题；耦合简单，降低了安装难度。
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公开(公告)号：CN115100269A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210741558.X
申请日：2022-06-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光场图像深度估计方法、系统、电子设备及存储介质，涉及光场图像处理领域，解决了解决现有的现有传统光场深度估计方法难以获得全局误差小且精度高的深度图，本发明在获得重聚焦图时没有用到插值，而是利用傅里叶相移定理得到位移子孔径图像，这样获得的重聚焦图像相较于插值方法有更高的精度；其次，在对优化匹配初始深度中，利用梯度随位移量的变化曲线在最佳位移量附近表现出对称峰特性，并加入匹配初始深度进行深度优化，这样在修正了重聚焦深度估计全局误差大的缺点的同时将重聚焦深度估计细节信息完备的优点发挥出来，得到结果相较于重聚焦深度估计和立体匹配深度估计都更为优异，兼顾了全局误差以及精度。
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公开(公告)号：CN115097554B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202210799759.5
申请日：2022-07-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法，涉及光电探测技术领域，解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短，高频信息丢失严重，对目标的成像质量产生了较严重影响的问题，其技术方案要点是：包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分，长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分，短臂为第一部分，第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对，也可以和第一部分中的透镜组成透镜对，优化了现有分段式平面成像系统基线短，高频采样覆盖率低的问题，提高了分段式平面成像系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN115097554A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210799759.5
申请日：2022-07-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法，涉及光电探测技术领域，解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短，高频信息丢失严重，对目标的成像质量产生了较严重影响的问题，其技术方案要点是：包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分，长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分，短臂为第一部分，第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对，也可以和第一部分中的透镜组成透镜对，优化了现有分段式平面成像系统基线短，高频采样覆盖率低的问题，提高了分段式平面成像系统的成像质量。
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