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公开(公告)号：CN117148570A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311102990.5
申请日：2023-08-29
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 基于分光器件的分段式平面成像系统，包括透镜阵列，所述透镜阵列包括透镜列，透镜列内的微透镜两两配对组成基线，所述组成基线是指两个微透镜的光线干涉作为一组干涉光，且每一个微透镜均具有两种基线组成方式：所述成像系统还包括光子集成电路和图像处理模块；所述光子集成电路包含集成分光器件和阵列波导光栅、波导传输线和多个平衡四正交探测器；每个透镜列连接一个光子集成电路。本发明提出的分段式平面成像系统，每个微透镜经过分光器件参与组成两条基线，单个干涉臂采用互补的基线配对方式，可以增加传统系统缺失的空间频率信息的采集，进一步提高了，提升系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN116740267A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310516264.1
申请日：2023-05-09
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种基于红外图像的三维重建方法、介质和设备，涉及基于图像的三维重建技术领域，所采用的技术方案包括S1采集目标不同视角的红外图像；S2对所述红外图像进行增强；S3计算每幅图像的相机位姿；S4，计算每幅图像的深度图像；S5将深度图像融合，输出目标三维模型。本发明通过将红外图像前、背景分离，分别采用不同的方式进行增强，丰富了红外图像的纹理信息，使后续步骤能够提取更多的特征点，以加强三维重建结果的精度。
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公开(公告)号：CN116500710A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310474333.7
申请日：2023-04-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 基于干涉臂组的微透镜阵列，包括P个干涉臂组，每一干涉臂组包括第一透镜列和第二透镜列，所述第一透镜列包含连续紧密排列在一条直线上的M个微透镜；所述第二透镜列包含连续紧密排列在一条直线上的N个微透镜；所述微透镜阵列还包括单镜头，所述多个干涉臂组绕微透镜阵列中心成圆环形射线状排列，各个干涉臂组之间的圆心角相等,且各个所述干涉臂组的第二透镜列位于圆环形的半径方向上，所述单镜头位于微透镜阵列中心。本发明优化了现有分段式平面成像系统基线不丰富，频率采样覆盖率低的问题，优化了动态目标的频谱合成方法，提高动态目标重建的准确性和鲁棒性，进一步提升分段式平面成像系统的成像质量，适用于航空、航天和其他图像获取等领域。
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公开(公告)号：CN115097554B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202210799759.5
申请日：2022-07-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法，涉及光电探测技术领域，解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短，高频信息丢失严重，对目标的成像质量产生了较严重影响的问题，其技术方案要点是：包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分，长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分，短臂为第一部分，第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对，也可以和第一部分中的透镜组成透镜对，优化了现有分段式平面成像系统基线短，高频采样覆盖率低的问题，提高了分段式平面成像系统的成像质量。
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公开(公告)号：CN115097554A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210799759.5
申请日：2022-07-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种微透镜阵列、分段式平面成像系统及其成像方法，涉及光电探测技术领域，解决了现有的分段式平面成像系统最大基线长度短，高频信息丢失严重，对目标的成像质量产生了较严重影响的问题，其技术方案要点是：包括透镜阵列、光子集成电路和图像处理模块。本发明中的透镜阵列每列透镜被分为了长臂和短臂两部分，长臂中的透镜被分为第三部分、第二部分，短臂为第一部分，第二部分中的透镜既可以和第三部分中的透镜组成透镜对，也可以和第一部分中的透镜组成透镜对，优化了现有分段式平面成像系统基线短，高频采样覆盖率低的问题，提高了分段式平面成像系统的成像质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112863153B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202110003774.X
申请日：2021-01-04
Applicant: 电子科技大学
IPC: G08B29/00
Abstract: 本发明公开了一种光电告警系统反应时间的测试装置及方法，测试装置包括光电目标模拟装置、光电告警系统、信号接收器和高速摄像机；光电目标模拟装置用于产生用作测试的模拟光电目标；光电告警系统为被试品，需要能够探测并分辨光电目标，在识别光电目标后输出一个告警信号；信号接收器用于接收并显示告警信号；高速摄像机用于拍摄记录模拟光电目标的出现和告警信号的出现，计算机用于采集和保存高速摄像机拍摄的画面。本发明通过计算模拟光电目标的出现和告警信号的出现的时间差，实现了光电告警系统的反应时间的准确测量，为评判光电告警系统的性能优劣提供了可靠依据。
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公开(公告)号：CN113259558B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202110509999.2
申请日：2021-05-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光场相机的无损全聚焦方法及装置，该方法通过确定原始光场图像中各宏像素的中心像素点，并计算各宏像素的中心像素点与对应的非中心像素点的视差值，以计算各宏像素的位移步长，然后将非中心像素点转换到频域，并根据位移步长对频域中的各非中心像素点进行移动，将移动后的非中心像素点转换到空间域，与对应中心像素点重构形成新的宏像素，从而得到新的光场图像，最后对新的光场图像进行降维处理，得到二维无损全聚焦图像，提高聚焦效果。
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公开(公告)号：CN113654403A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110987386.X
申请日：2021-08-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: F41G1/54
Abstract: 本发明公开了一种基于光电瞄具的外装表结构及测试方法，包括外部旋钮控制器、高精度位移传感器、信号采集分析控制主板、外装表量计算模块、外装表量修正模块、弹性件和光电探测器；外部旋钮控制器用于控制弹性件的形变，从而牵引光电探测器在垂直方向上移动；高精度位移传感器用于测量光电探测器在垂直方向上的移动量并将其传送给信号采集分析控制主板；外装表量计算模块根据移动量计算额外装表量；外装表量修正模块根据额外装表量对实际装表的底部装表量进行修正。本发明通过在内装定表尺的基础上使用外部工具进行外装表，在不影响装表精度的情况下能够增加装表量，扩大装表范围，解决了现有的光电瞄具手动装表所使用的内装定装表量较小的问题。
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公开(公告)号：CN113029524A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110249514.0
申请日：2021-03-08
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光电告警距离的测试装置及方法，包括光电目标模拟装置、测算模块、光电告警系统和信号处理模块，光电目标模拟装置包括靶板和可调节辐射强度的面光源，靶板上设置有小孔，靶板相对面光源平面移动；模拟光电目标的出现、消失和移动形成光电目标信号；探测识别光电目标信号，将其号转换为与光电目标信号对应的告警信号；记录面光源到光电目标模拟装置的距离以及面光源的辐射强度，结合实际应用环境的相关参数，折算光电告警系统的最大告警距离。本发明将实验条件下的参数与实际应用环境下的参数相对比折算出光电告警系统在实际应用环境下的告警距离，操作方便，实验环境可控，提高了光电告警系统告警距离的测量精度。
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公开(公告)号：CN109686813B
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN201910120225.3
申请日：2019-02-18
Applicant: 电子科技大学
IPC: H01L31/12
Abstract: 一种光电耦合器及其制备方法，属于光电子器件技术领域。光电耦合器包括光发射单元和光接收单元以及后级处理电路；所述光接收单元是以微纳米孔结构的PIN结为基本单元，所述微纳米孔结构的孔道自n型层始贯穿本征层并延伸至p型层表面，微纳米孔结构周期性排列形成光电检测阵列；所述光接收单元设置在CMOS集成电路的上方实现单片集成。本发明显著降低光接收单元的响应时间，将光电耦合器整体的响应速度从ns量级提高到ps量级。微纳米孔阵列有利于将吸收光谱拓展至更高的波长，提高了光吸收效率。此外，本发明提供的制造工艺与集成电路制造工艺兼容，相比现有光敏芯片，减小体积的同时显著改善器件性能，提高了成品率和器件可靠性，也降低了生产成本。
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