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公开(公告)号:CN104736720B
公开(公告)日:2017-07-28
申请号:CN201380043144.9
申请日:2013-07-02
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
IPC: C12Q1/54
CPC classification number: C12Q1/54 , C12Q1/006 , G01N27/307
Abstract: 本发明的实施方式提供用于制造诸如糖尿病个体用于监测血糖浓度的电流型分析物传感器之类的具有多个层状元件的分析物传感器的方法和材料。本发明的实施方式使用等离子体沉积技术形成在这些传感器中有用的促粘组合物的薄膜。包含了由这些工艺形成的薄膜组合物的传感器表现出许多理想的特性。
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公开(公告)号:CN108056753B
公开(公告)日:2020-12-01
申请号:CN201711095814.8
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: A61B5/00 , A61B5/053 , A61B5/145 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/1486 , A61B5/1495 , A61M5/142 , A61M5/158 , A61M5/172 , G01N27/02 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN108169466A
公开(公告)日:2018-06-15
申请号:CN201711095806.3
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: G01N33/49 , A61M5/158 , A61M5/142 , A61B5/1495 , A61B5/1486 , A61B5/1473 , A61B5/1459 , A61B5/145 , A61B5/053 , A61B5/00
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN107874742A
公开(公告)日:2018-04-06
申请号:CN201711128671.6
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: A61B5/00 , A61B5/053 , A61B5/145 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/1486 , A61B5/1495 , A61M5/142 , A61M5/158 , G01N33/49 , A61M5/172
CPC classification number: G01N27/4163 , A61B5/0537 , A61B5/0538 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/14865 , A61B5/1495 , A61B5/4839 , A61B5/6849 , A61B5/6852 , A61B5/7203 , A61B5/7221 , A61B5/7225 , A61B5/7242 , A61B5/746 , A61B2562/0214 , A61B2562/04 , A61M5/14244 , A61M5/14276 , A61M5/1582 , A61M5/1723 , A61M2005/1726 , G01N27/026 , G01N27/028 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00 , G01R35/005
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN110455892B
公开(公告)日:2022-08-23
申请号:CN201910649765.0
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: G01N27/327 , G01N27/416 , G01N27/48 , A61B5/145 , A61B5/1473 , A61B5/1486 , A61B5/1495 , A61B5/053
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN107874742B
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN201711128671.6
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: A61B5/0538 , A61B5/00 , A61B5/053 , A61B5/145 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/1486 , A61B5/1495 , A61M5/142 , A61M5/158 , G01N27/02 , G01N27/416 , G01N33/96 , G01N33/66 , G01N33/49 , A61M5/172
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN108169466B
公开(公告)日:2020-05-05
申请号:CN201711095806.3
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: G01N33/49 , A61M5/158 , A61M5/142 , A61B5/1495 , A61B5/1486 , A61B5/1473 , A61B5/1459 , A61B5/145 , A61B5/053 , A61B5/00
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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公开(公告)号:CN108056753A
公开(公告)日:2018-05-22
申请号:CN201711095814.8
申请日:2013-05-24
Applicant: 美敦力迷你迈德公司
Inventor: 杨宁 , 拉加万得赫尔·戈特姆 , 布拉德利·C·良 , 拉吉夫·什哈 , 凯瑟琳·M·希曼 , 迈克尔·E·米勒 , 王振汉 , 李亦文 , 韦恩·A·摩根 , 帕里斯·郑 , 罗伯特·C·穆契奇 , 热尼瓦尔·D·德巴罗斯 , 卡洛斯·A·卡利乔斯 , 曼朱纳斯·斯里吉里 , 约瑟夫·保罗·布林森
IPC: A61B5/00 , A61B5/053 , A61B5/145 , A61B5/1459 , A61B5/1473 , A61B5/1486 , A61B5/1495 , A61M5/142 , A61M5/158 , A61M5/172 , G01N27/02 , G01N27/416 , G01N33/49 , G01N33/66 , G01N33/96 , G01R35/00
Abstract: 诊断性电化学阻抗谱(EIS)程序用于测量一个或多于一个检测电极的阻抗相关参数的数值。所述参数可包括实阻抗、虚阻抗、阻抗幅值和/或相位角。所述阻抗相关参数的测量值随后用于进行传感器诊断,基于来自多个冗余检测电极的信号计算高可靠性的融合传感器葡萄糖值,校正传感器,检测一个或多于一个检测电极的附近的干扰物,以及测试电镀电极的表面特性。有利地是,阻抗相关参数可被定义成在特定的频率范围内基本独立于葡萄糖。专用集成电路(ASIC)能够执行基于EIS的诊断、融合算法和其他基于EIS参数的测量值的过程。
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