一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法

    公开(公告)号:CN118898617B

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411397747.5

    申请日:2024-10-09

    Abstract: 本发明提供了一种基于类偏振特征的自适应镜面高光检测方法,包括:步骤S1,针对目标工件,采集不同偏振角度下的偏振强度图像形成多通道偏振图像集合并求解得到多维图像特征数据集;步骤S2,采用Canopy算法对多维图像特征数据集进行初聚类得到初始聚类中心,随后基于初始聚类中心,采用K‑means算法对多维图像特征数据集进行细聚类得到图像特征数据集分类结果;步骤S3,基于高光判定规则生成感兴趣区域;步骤S4,标记感兴趣区域内所有的第一连通域以及感兴趣区域外与各第一连通域相邻近且属于同一类的第二连通域,并基于区域判定规则筛选得到镜面‑漫反射过渡区域包含至感兴趣区域内。有益效果是本发明能够实现对镜面‑漫反射过渡区域的准确定位。

    一种电磁驱动型旋转扫描偏振滤波芯片模组及其制作方法

    公开(公告)号:CN118295142A

    公开(公告)日:2024-07-05

    申请号:CN202410361964.2

    申请日:2024-03-28

    Abstract: 本发明提供了一种电磁驱动型旋转扫描偏振滤波芯片模组及其制作方法,包括固定板、第一定子、第二定子、第一线圈、第二线圈、第一微球滚子、第二微球滚子、转子、永磁体、偏振滤波芯片和盖板,固定板底端开设有第一通光孔,第一定子上开设有第二通光孔和第一环形凹槽,盖板上开设有第三通光孔,第二定子上开设有第四通光孔和第二环形凹槽,转子上开设有第五通光孔,转子两端的第三环形凹槽与第一环形凹槽、第二环形凹槽之间分别卡合有可转动的多个第一微球滚子和第二微球滚子。有益效果是本发明可实现比PCB式旋转机构更小的轴向尺寸,有利于集成到更小的成像系统中,并可实现任意角度控制和高扫描频率工作。

    一种插装集成式光谱偏振实时成像系统

    公开(公告)号:CN116840161A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310580624.4

    申请日:2023-05-23

    Abstract: 本发明提供了一种插装集成式光谱偏振实时成像系统,涉及光电器件技术领域,本系统包括依次设置在入射光路上的前置望远镜头、可插装光谱偏振滤光模块及图像传感器。入射光束经前置望远镜头压缩并消除设计波段内的球差和场曲后,孔径处的多通道光谱偏振滤光芯片分通道对其进行光谱偏振滤光,透镜阵列再将不同光谱偏振特性的光束会聚到图像传感器的对应区域。多通道光谱偏振滤光芯片和透镜阵列组装为可插装光谱偏振滤光模块,根据目标探测的需要可插换滤光功能不同的模块。滤光芯片通过分区域制备亚波长金属线栅和多层膜系结构实现多通道光谱偏振滤光功能。本系统具有信息探测维数高、可动态实时成像、光谱偏振滤光模块可插换的优势。

    一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法

    公开(公告)号:CN119915825A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510401240.0

    申请日:2025-04-01

    Abstract: 本发明涉及一种基于Mueller矩阵探测的金属表面缺陷检测装置及方法,装置包括光源,用于提供可见光;起偏器,用于接收所述可见光,并通过调节其偏振角度将所述可见光调制为四种偏振态的入射偏振光线,所述入射偏振光线入射至金属表面,由金属表面反射出反射偏振光线;检偏器,用于接收反射偏振光线,并通过调节其偏振角度将任意一种偏振态的反射偏振光线调制为四种偏振态的出射偏振光线,得到十六种偏振态的出射偏振光线;图像采集模块,用于接收每种偏振态的出射偏振光线并形成成像图;图像处理模块,所述图像处理模块与所述装置本体连接;该装置能够直接快速获取金属表面的偏振特征信息,无需额外的光路,实现了快速且多场景的检测,方便携带。

    一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法

    公开(公告)号:CN118567020B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202411034443.2

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法,包括:基底;第一介质层,沉积于基底顶端;第二介质层,沉积于第一介质层顶端;多个介质光栅层,沉积于第二介质层顶端并沿第二介质层的长度方向间隔设置,每相邻的两个介质光栅层之间分别形成沟槽,各介质光栅层和第二介质层的材质具有相同的折射率,各介质光栅层的光栅周期小于入射光的入射波长;多个第一金属层,分别沉积于各沟槽内;多个第二金属层,分别沉积于各介质光栅层顶端,各第二金属层和各第一金属层的材质具有相同的介电常数。有益效果是本发明能够在获得优良偏振性能的同时减小微纳加工工艺难度,并实现亚波长金属光栅偏振器件结构的大面积、高保真、高效率制造。

    一种多偏振通道联合的动态背景下目标检测方法

    公开(公告)号:CN119379992A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411480587.0

    申请日:2024-10-23

    Abstract: 本发明涉及一种多偏振通道联合的动态背景下目标检测方法,包括:获取目标场景下的多通道偏振信息图像,计算对应的偏振度图像DoLP;对偏振度图像进行阈值分割得到初目标区域图像;结合多通道偏振信息图像间差异性,依次选取每相邻的3幅偏振信息图像,计算对应的偏振度图像DoLPk,对偏振度图像DoLPk进行阈值分割得到初背景区域图像;将初背景区域结果进行逻辑运算得到终背景区域图像;将初目标区域图像和终背景区域图像进行背景差分,得到精细化目标区域图像;结合滤波算法消除孤立、填充目标区域,得到终目标区域图像;最后进行图像融合,完成目标特征提取,达到消除动态背景杂波干扰,凸显目标特征的目的。

    一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法

    公开(公告)号:CN118567020A

    公开(公告)日:2024-08-30

    申请号:CN202411034443.2

    申请日:2024-07-31

    Abstract: 本发明提供了一种亚波长金属光栅偏振器件结构及其晶圆级制造方法,包括:基底;第一介质层,沉积于基底顶端;第二介质层,沉积于第一介质层顶端;多个介质光栅层,沉积于第二介质层顶端并沿第二介质层的长度方向间隔设置,每相邻的两个介质光栅层之间分别形成沟槽,各介质光栅层和第二介质层的材质具有相同的折射率,各介质光栅层的光栅周期小于入射光的入射波长;多个第一金属层,分别沉积于各沟槽内;多个第二金属层,分别沉积于各介质光栅层顶端,各第二金属层和各第一金属层的材质具有相同的介电常数。有益效果是本发明能够在获得优良偏振性能的同时减小微纳加工工艺难度,并实现亚波长金属光栅偏振器件结构的大面积、高保真、高效率制造。

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