一种打孔机精度自补偿方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118578526A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202411065427.X

    申请日:2024-08-05

    Abstract: 本发明属于微电子陶瓷装备技术领域,具体涉及一种打孔机精度自补偿方法,包括以下步骤:读取CAD/GBR图纸中的孔信息;基于理论坐标,使用待补偿的打孔机打孔;采用3D影像测量仪获取所打孔的位置坐标;获取各个局部区域理论坐标与实际坐标的转换关系;获取实际位置为新图纸孔坐标时的理论坐标。本发明首先获取标准样件图纸中所有孔的理论信息与实际位置坐标,然后分区域求解实际坐标到理论坐标的变换矩阵,最后读取到新的图纸信息时,根据不同区域的变换矩阵得到输入打孔机的坐标值,以便于精准打孔到理论位置,最终得到的方法可以准确地对打孔机进行精度补偿。

    一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法

    公开(公告)号:CN117011351A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202311060874.1

    申请日:2023-08-22

    Abstract: 本发明涉及陶瓷基板图像配准技术领域,公开了一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法,包括以下步骤:获取多个线扫相机的图像;完整图像拼接;模板图与待测图像之间的粗配准;模板图与待测图像之间的精配准;精配准结果的全局应用。本发明基于两个线扫相机获取的31000×16000的两张图像,获取其拼接矩阵,对模板图像和待检测图像进行粗配准和细配准,并将精配准结果应用到全局,得到高效的鲁棒配准矩阵,提高了检测准确度,降低检测误检率和漏检率。此外,通过两个线扫相机成像方式,缓解了单个线扫相机覆盖范围不够大的问题,实现了检测数据规模的扩增;使用由粗到精的配准方式在保证配准精度的同时实现了速度的加快。

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