用于表面电位测量的装置及其加工装置和方法

    公开(公告)号:CN119805021A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202510110023.6

    申请日:2025-01-23

    Abstract: 本发明属于特高压设备测试技术领域,公开了用于表面电位测量的装置及其加工装置和方法,包括静电探头和密封腔体,密封腔体具有端口,密封腔体的端口密封设有密封法兰;静电探头的探头一端设置于密封腔体内部,静电探头的所有信号线贯穿密封法兰、并延伸至密封腔体外部;所有信号线贯穿密封法兰的部位与一密封块密封连接,任意两个信号线之间具有间距,任意两个信号线之间填充有密封块的材料;密封块与密封法兰密封连接;密封腔体或密封法兰上设有充放气嘴。本发明能够实现在不剪断探头信号线的情况下,静电探头穿过密封腔体,实现在SF6环境下的绝缘设备表面电位平稳测量。

    一种探地雷达数据背景杂波自适应去除方法

    公开(公告)号:CN112666552B

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202011187461.6

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种探地雷达数据背景杂波自适应去除方法,选取合适的去除背景杂波参数,根据待处理探地雷达目标信号及地表特性,选取合适的去背景参数,即滤波强度,自适应的利用滑动去均值法滤除探地雷达B‑Scan数据中的背景杂波在探地雷达B‑Scan数据上,根据参数滤波强度设置滑动窗口,将窗口在B‑Scan数据上逐道滑动,依次自适应计算窗口内所含A‑Scan数据的均值,再将当前窗口中第一道待处理的A‑Scan数据减去均值。本发明能够实现水平背景杂波信号的实时更新,自适应各种复杂地下地层和目标情况,同时具备实现方法简单、处理速度高效、占用资源较少的特点。

    一种探地雷达数据背景杂波自适应去除方法

    公开(公告)号:CN112666552A

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN202011187461.6

    申请日:2020-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种探地雷达数据背景杂波自适应去除方法,选取合适的去除背景杂波参数,根据待处理探地雷达目标信号及地表特性,选取合适的去背景参数,即滤波强度,自适应的利用滑动去均值法滤除探地雷达B‑Scan数据中的背景杂波在探地雷达B‑Scan数据上,根据参数滤波强度设置滑动窗口,将窗口在B‑Scan数据上逐道滑动,依次自适应计算窗口内所含A‑Scan数据的均值,再将当前窗口中第一道待处理的A‑Scan数据减去均值。本发明能够实现水平背景杂波信号的实时更新,自适应各种复杂地下地层和目标情况,同时具备实现方法简单、处理速度高效、占用资源较少的特点。

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