公开(公告)号：CN103864005A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201310690749.9

申请日：2013-12-17

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： R·F·斯蒂姆勒 ,  R·B·蒙特兹

IPC: B81C1/00 ,  B81B3/00 ,  B81B7/00 ,  B81B7/02

CPC classification number: B81B3/001 ,  B81B3/0005 ,  B81B2201/0221 ,  B81B2201/0235 ,  B81B2203/0181 ,  B81B2203/06 ,  B81C1/0096 ,  B81C2201/115 ,  G01P15/0802 ,  G01P2015/0871 ,  G01P2015/0874

Abstract: 本发明涉及通过沉积纳米团簇减小MEMS静摩擦力。本发明提供了一种机制，用于通过减少可以紧密接触的两个表面之间的表面积来降低一个MEMS装置中的静摩擦力。通过增加一个或两个表面的表面粗糙度来实现接触表面积的降低。在形成MEMS装置中，通过在使用的牺牲层上形成微掩模层，并且然后蚀刻所述牺牲层的表面提供了增加的粗糙度。可以使用纳米团簇（520）来形成微掩模层。当在牺牲层（810）之上形成MEMS装置的下一个部分时，该部分将呈现通过蚀刻工艺所施加到牺牲层上的粗糙度特性。在MEMS装置中，更粗糙的表面（910）降低了可用于接触的表面积，并且，反过来，降低了通过表面可以被施加静摩擦力的面积。

公开(公告)号：CN103864006B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201310692997.7

申请日：2013-12-17

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： R·B·蒙特兹 ,  R·F·斯蒂姆勒

IPC: B81C1/00

Abstract: 提供了一种用于通过减少源自基于TEOS的硅氧化膜的碳的数量来减小MEMS器件中的静摩擦的机制，其中所述膜在制作期间可以在多晶硅表面上累积。碳阻挡材料膜(510,520)可以在MEMS器件中的一个或多个多晶硅层(210,230)和基于TEOS的氧化硅层(220)之间沉积。所述阻挡材料防止碳扩散到所述多晶硅，从而减少在多晶硅表面上碳的累积。通过减少碳的累积，由于碳的存在造成的静摩擦机率同样被减小。

公开(公告)号：CN103864006A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201310692997.7

申请日：2013-12-17

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： R·B·蒙特兹 ,  R·F·斯蒂姆勒

IPC: B81C1/00

CPC classification number: B81B3/0005 ,  B81B2201/0221 ,  B81B2201/0235 ,  B81B2203/0181 ,  B81B2203/06 ,  B81C1/0038 ,  B81C1/00952 ,  B81C2201/0169 ,  B81C2201/112 ,  G01P15/0802 ,  G01P2015/0871 ,  G01P2015/0874

Abstract: 提供了一种用于通过减少源自基于TEOS的硅氧化膜的碳的数量来减小MEMS器件中的静摩擦的机制，其中所述膜在制作期间可以在多晶硅表面上累积。碳阻挡材料膜(510,520)可以在MEMS器件中的一个或多个多晶硅层(210,230)和基于TEOS的氧化硅层(220)之间沉积。所述阻挡材料防止碳扩散到所述多晶硅，从而减少在多晶硅表面上碳的累积。通过减少碳的累积，由于碳的存在造成的静摩擦机率同样被减小。