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公开(公告)号：US3508045A
公开(公告)日：1970-04-21
申请号：US3508045D
申请日：1968-07-12
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： ANDERSEN CHRISTIAN A , LIEBL HELMUT J
CPC classification number: H01J37/252 , H01J49/10 , H01J49/145
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公开(公告)号：US3479505A
公开(公告)日：1969-11-18
申请号：US3479505D
申请日：1966-06-30
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
IPC: G01Q30/02 , H01J37/22 , H01J37/252 , H01J37/256 , H01J49/14 , H01J49/46 , H01J37/26
CPC classification number: H01J37/28 , H01J37/22 , H01J37/252 , H01J37/256 , H01J49/142
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3.发明授权Double focussing mass spectrometer including a wedge-shaped magnetic sector field 失效双重聚焦质谱仪，包括一个楔形磁性领域
公开(公告)号：US3445650A
公开(公告)日：1969-05-20
申请号：US3445650D
申请日：1965-10-11
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
IPC: G01Q10/00 , G01Q30/06 , H01J29/58 , H01J37/05 , H01J37/252 , H01J37/256 , H01J49/02 , H01J49/14 , H01J49/20 , H01J49/28 , H01J49/30 , H01J49/32 , H01J39/34 , B01D59/44 , H01J37/26
CPC classification number: H01J49/30 , H01J29/58 , H01J37/05 , H01J37/252 , H01J37/256 , H01J49/022 , H01J49/142 , H01J49/20 , H01J49/286 , H01J49/32 , H01J49/322
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CA798457A
公开(公告)日：1968-11-05
申请号：CA798457D
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
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公开(公告)号：CA812307A
公开(公告)日：1969-05-06
申请号：CA812307D
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
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公开(公告)号：CA826205A
公开(公告)日：1969-10-28
申请号：CA826205D
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
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公开(公告)号：CA904726A
公开(公告)日：1972-07-11
申请号：CA904726D
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J , ANDERSEN CHRISTIAN A
IPC: H01J37/252 , H01J37/26 , H01J49/10 , H01J49/14
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公开(公告)号：CA857404A
公开(公告)日：1970-12-01
申请号：CA857404D
Applicant: APPLIED RES LAB
Inventor： LIEBL HELMUT J
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