公开(公告)号：DE102005027077C5

公开(公告)日：2021-01-28

申请号：DE102005027077

申请日：2005-06-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  HOFFMANN JÜRGEN DR

IPC: G02B21/06

Abstract: Lichtscheibenmikroskop (1) mit einem Objektiv (23) durch das Detektionslicht entlang eines Detektionsstrahlenganges, der im Bereich des Objektivs (23) eine Detektionsrichtung definiert, zu einem Detektor (29) gelangt und mit einer Beleuchtungseinrichtung (3), die einen Lichtstreifen erzeugt, der eine Probe in einer Beleuchtungsebene (19), die entlang der Einstrahlrichtung des Lichtstreifens verläuft, flächenartig beleuchtet, dadurch gekennzeichnet, dass die Beleuchtungsebene (19) einen Winkel zur Detektionsrichtung kleiner 85 Grad bzw. größer 95 Grad aufweist, wobei die von dem Lichtstreifen beleuchtete Beleuchtungsebene auf den Detektor abgebildet wird, und wobei der Detektor in einer Zwischenbildebene des Lichtscheibenmikroskops angeordnet ist, wobei die räumliche Lage der Zwischenbildebene abhängig ist von der räumlichen Lage der Beleuchtungsebene.

公开(公告)号：DE10257120B4

公开(公告)日：2020-01-16

申请号：DE10257120

申请日：2002-12-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR

IPC: G02B21/00 ,  G01J3/36 ,  G01N21/64 ,  G02F1/33

Abstract: Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts (1), mit einer Lichtquelle (2), einem nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Element (8), einer nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Detektionseinrichtung (4), einem von der Lichtquelle (2) bis zum Objekt (1) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengang (3), einem vom Objekt (1) zur Detektionseinrichtung (4) verlaufenden Detektionsstrahlengang (5), wobei mit dem spektral selektiven Element (8) Licht der Lichtquelle (2) zur Objektbeleuchtung selektierbar ist, wobei mit dem spektral selektiven Element (8) das am Objekt (1) reflektierte und/oder gestreute selektierte Licht der Lichtquelle (2) aus dem Detektionsstrahlengang (5) ausblendbar ist, wobei zumindest ein Wellenlängenbereich des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts mit der spektral selektiven Detektionseinrichtung (4) detektierbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) eine Beleuchtungsspaltblende (11) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, in einem Bereich des Objekts (1) ein linienförmiges Beleuchtungsmuster zu erzeugen, dass im Detektionsstrahlengang (5) eine Detektionsspaltblende (13) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, von dem linienförmigen Beleuchtungsmuster in einer Fokalebene herrührendes Licht zu empfangen, um einen konfokalen Spaltscanner bereitzustellen, dass die Spaltlänge und/oder die Spaltbreite der Beleuchtungsspaltblende (11) und/oder der Detektionsspaltblende (13) variabel einstellbar ist, und dass die spektral selektive Detektionseinrichtung (4) Mittel (23) zur spektralen Zerlegung des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts, Mittel (24, 40) zum Selektieren eines ersten Spektralbereichs (25) zur Detektion mit einem ersten Detektor (6) und Mittel (24, 40) zur Reflexion zumindest eines Teils des nicht selektierten Spektralbereichs zur Detektion mit einem zweiten Detektor (7) aufweist.

公开(公告)号：DE102011000835B4

公开(公告)日：2014-04-03

申请号：DE102011000835

申请日：2011-02-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  GISKE ARNOLD

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Abtastmikroskop (10) mit einer Beleuchtungseinheit (12, 15) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (24), einem Objektiv (34) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (62) in einem abzubildenden Objekt (40), und einer Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (62) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des Objektes (40) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (24) in eine Eintrittspupille (36) des Objektivs (34) fällt, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastvorrichtung (20, 22, 26, 28, 30, 38, 58) den Beleuchtungslichtstrahl (24) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (62) relativ zur optischen Achse (O) des Objektivs (34) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (36) richtet und zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (62) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) innerhalb dieses Teilbereichs ändert.

公开(公告)号：DE102010060121A1

公开(公告)日：2012-04-26

申请号：DE102010060121

申请日：2010-10-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  OESTREICHER WOLFGANG DR

IPC: G02B21/06

Abstract: Es wird ein SPIM-Mikroskop (Selective Plane Imaging Microscopy) beschrieben, welches versehen ist mit einer y-Richtungs-Beleuchtungsquelle und einer z-Richtungs-Detektionslicht-Kamera. Ein x-Scanner erzeugt durch Scannen des Beleuchtungs-Lichtstrahls in x-Richtung ein sequentielles Lightsheet. Mittels einer Beleuchtungsoptik mit einer im Strahlengang des Beleuchtungs-Lichtstrahls angeordneten Zoomoptik ist die Fokuslänge des Beleuchtungs-Lichtstrahls variierbar.

公开(公告)号：DE102010016382A1

公开(公告)日：2011-10-13

申请号：DE102010016382

申请日：2010-04-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Ein Fluoreszenzmikroskop (20) zum Untersuchen mindestens einer Probe (42) umfasst eine Lichtquelle (22), die Anregungslicht (24) erzeugt, mehrere Detektorelemente zur Detektion von Fluoreszenzlicht (44) und mehrere Lichtleiter (41), die das Anregungslicht (24) als Teilstrahlen (30) zu der Probe (42) leiten. Das Anregungslicht (24) regt Farbstoffpartikel der Probe (42) zum Fluoreszieren an. Die Lichtleiter (41) leiten von der Probe (42) emittiertes Fluoreszenzlicht zu den Detektorelementen. Eine Fokussieroptik ist in Richtung der Teilstrahlen (30) zwischen den Lichtleitern (41) und der Probe (42) angeordnet. Jedem Lichtleiter (41) ist mindestens ein Detektorelement zugeordnet.

公开(公告)号：DE50112477D1

公开(公告)日：2007-06-21

申请号：DE50112477

申请日：2001-10-16

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/26

Abstract: A portion of a specimen region to be examined with scan field, is scanned. The specimen stage in the X-Y plane is moved to scan the remaining portions of the specimen region, such that the entire specimen region is located within the scan fields. The specimen data obtained from all the scan fields are combined. An Independent claim is included for microscopic specimen scanning arrangement.

公开(公告)号：DE102005046510B4

公开(公告)日：2022-02-17

申请号：DE102005046510

申请日：2005-09-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64 ,  G02B21/06

Abstract: Mikroskopsystem (1) zur Durchführung von FCS-Messungen mit mindestens einer ersten Lichtquelle (3), die Beleuchtungslicht (2) aussendet, und mehreren optischen Elementen (12, 14), die das Beleuchtungslicht (2) auf ein Probenvolumen (5) richten, wobei eine Ziellichtquelle (7) zum Markieren eines FCS-Volumens im Probenvolumen (5) vorgesehen ist, deren Licht (6) ebenfalls über die mehreren optischen Elemente (12, 14) auf das Probenvolumen (5) gerichtet ist, und wobei sich die Wellenlänge der ersten Lichtquelle (3) von der Wellenlänge der Ziellichtquelle (7) unterscheidet,dadurch gekennzeichnet, dass ein Vereinigungselement (9) vorgesehen ist, das das Beleuchtungslicht (2) der ersten Lichtquelle (3) mit dem Licht (6) der Ziellichtquelle (7) zu einem kollinearen gemeinsamen Strahlengang vereinigt,wobeidas Licht (6) der Ziellichtquelle (7) eine größere Wellenlänge besitzt, als das Beleuchtungslicht (2) der ersten Lichtquelle (3),dass das Licht (6) der Ziellichtquelle (7) eine Wellenlänge aufweist, die im Bereich von rotem Licht oder IR-Licht liegt, unddass eine Lichtleitfaser (30) vorgesehen ist, in die das Beleuchtungslicht (2) der mindestens ersten Lichtquelle (3) und das Licht (6) der Ziellichtquelle (7) einkoppelbar ist, um eine Kollinearität des Beleuchtungslichts (2) und des Lichts (6) der Ziellichtquelle (7) zu erzielen.

公开(公告)号：DE10233549B4

公开(公告)日：2021-10-14

申请号：DE10233549

申请日：2002-07-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  SEYFRIED VOLKER DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Scanmikroskop mit einer Lichtquelle, die einen Beleuchtungslichtstrahl zum Beleuchten einer Probe emittiert, der entlang eines Beleuchtungsstrahlenganges verläuft und der mit einer Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, und mit einem Detektor, der von der Probe ausgehendes Detektionslicht, das entlang eines Detektionsstrahlenganges verläuft, empfängt, und mit einer weiteren Lichtquelle, die einen Manipulationslichtstrahl, der entlang eines Manipulationsstrahlenganges verläuft, erzeugt, wobei der Manipulationslichtstrahl ebenfalls von der Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Manipulationslichtstrahl dem Beleuchtungslichtstrahl durch Einstellen des Winkels zwischen dem Beleuchtungslichtstrahl und dem Manipulationslichtstrahl vorauseilend geführt ist.

公开(公告)号：DE102004035340B4

公开(公告)日：2020-01-16

申请号：DE102004035340

申请日：2004-07-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

Abstract: Rastermikroskop mit einer Strahlablenkeinrichtung (11), die einen Beleuchtungslichtstrahl (5) über oder durch eine Probe (21) führt, und mit einem Detektor (33) zum Empfangen von von der Probe (21) ausgehendem Detektionslicht (23), dadurch gekennzeichnet, dass das Rastermikroskop (55) einen Auskoppelport (67) oder einen weiteren Detektor (37) aufweist und dass eine Umlenkvorrichtung (27) vorgesehen ist, die mit der Strahlablenkeinrichtung (11) synchronisiert ist und die das Detektionslicht (23) in Abhängigkeit von der Ablenk-Stellung der Strahlablenkeinrichtung (11) entweder zu dem Detektor (33) oder zu dem Auskoppelport (67) beziehungsweise zu dem weiteren Detektor (37) lenkt.

公开(公告)号：DE102010016598A1

公开(公告)日：2011-10-27

申请号：DE102010016598

申请日：2010-04-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G01N21/64

Abstract: Zum Untersuchen einer Probe (30) mit Hilfe eines Mikroskops (20) werden mit Hilfe eines ersten Beleuchtungslichtstrahls (24) Farbstoffpartikel (40, 42) in der Probe (30) zum Fluoreszieren angeregt. Von der Probe (30) ausgehendes Fluoreszenzlicht wird über eine optische Anordnung (34) auf einen Flächensensor (36) gerichtet, wobei die optische Anordnung (34) so auf das Fluoreszenzlicht wirkt, dass Teilstrahlen des Fluoreszenzlichts mit sich selbst interferieren, so dass aufgrund der Interferenz entstehende Interferenzmuster auf einer sensitiven Oberfläche des Flächensensors (36) abgebildet und von diesem erfasst werden. Abhängig von den Interferenzmustern werden Positionen der Farbstoffpartikel (40, 42) innerhalb der Probe (30) ermittelt.