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公开(公告)号:CN105593651B
公开(公告)日:2019-06-07
申请号:CN201480048793.2
申请日:2014-07-30
Applicant: 威利食品有限公司
Inventor: 达米安·戈德林 , 德罗尔·莎伦 , 盖伊·博罗德茨基 , 阿米特·鲁夫 , 梅纳赫姆·卡普兰 , 萨基·罗森 , 欧麦·凯伊拉夫 , 尤里·金洛特 , 凯·恩格尔哈特 , 伊泰·尼尔
IPC: G01J3/51
CPC classification number: G01J3/108 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/12 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/45 , G01J5/0265 , G01J5/10 , G01J2003/1226 , G01J2003/123 , G01J2003/1239 , G01N21/255 , G01N33/02
Abstract: 一种光谱仪,包括多个隔离的光学通道,所述多个隔离的光学通道包括多个隔离的光学路径。所述隔离的光学路径减小所述光学路径之间的串扰,并且允许所述光谱仪具有减小的长度和增加的分辨率。在许多实施方式中,所述隔离的光学路径包括允许所述设备的长度大幅减小的隔离的平行光学路径。在许多实施方式中,每个隔离的光学路径从滤光器阵列中的滤光器延伸,通过透镜阵列中的透镜,通过支架阵列中的通道而到达传感器阵列中的区域。所述传感器阵列中的每个区域包括多个传感器元件,其中所述传感器元件的位置基于在该位置处接收到的光的角度、所述透镜的焦距和所述滤光器的中心波长而与接收到的光的波长相对应。
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公开(公告)号:CN108700464A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201680080549.3
申请日:2016-01-29
CPC classification number: G01N21/658 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/44 , G01N21/648
Abstract: 一种分析物检测系统,包括:要被呈现给读取设备的分析物检测封装,以及用以相对于读取设备来调节分析物检测封装的焦点的聚焦机构,其中分析物检测封装包括表面增强发光分析物载台,读取设备包括用以接收从分析物载台散射的辐射或发射的发光的光学器件,以及聚焦机构用以相对于光学器件来调节焦点。
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公开(公告)号:CN108152200A
公开(公告)日:2018-06-12
申请号:CN201611106786.0
申请日:2016-12-06
Applicant: 北京世纪桑尼科技有限公司 , 赖博
CPC classification number: G01N21/01 , G01J3/0208 , G01N21/27
Abstract: 一种用于光谱分析的共聚焦成像装置和方法,通过在第一远心成像透镜组的光瞳位置放置扫描振镜,在其成像焦面放置线性扫描单元,用以获取样品的共聚焦图像;同时,在第二远心成像透镜组的光瞳位置放置色散棱镜,将经过线性扫描单元的复色光在垂直于线性扫描单元的扫描方向上色散;在第二远心成像透镜组成像焦面放置线状反射镜,阻挡与光源发射的单色光波长相同的光进入第三远心成像透镜组;面阵相机每次曝光可获取一列样品的光谱图像,计算机将所有光谱图像按照扫描振镜的摆动顺序重组为包含光谱信息的共聚焦图像。
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公开(公告)号:CN107567578A
公开(公告)日:2018-01-09
申请号:CN201580079389.6
申请日:2015-04-30
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: G01N21/63 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/0237 , G01N2201/0636 , G02B21/082 , G02B21/16 , G02B21/362 , G02B26/007 , G02B26/0833
Abstract: 本发明涉及一种辐射测量设备,其带有样本区域、用于照射能够定位在所述样本区域中的样本的照明单元和用于利用辐射探测器探测由样本发出的辐射的探测单元。照明单元具有辐射源、沿辐射方向布置在辐射源之后的用于将辐射分解为其光谱成分的第一色散元件、沿辐射方向布置在第一色散元件之后的用于选择光谱成分的第一微镜场,和沿辐射方向布置在第一微镜场之后的用于将被选择的光谱成分汇聚成共同的激励辐射的第二色散元件。本发明还涉及一种用于利用所述辐射测量设备测量光辐射的方法,其中,借助第一微镜场的单个微镜的激活和/或去激活来选择激励辐射的光谱组成。
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公开(公告)号:CN104969043B
公开(公告)日:2017-12-22
申请号:CN201380070167.9
申请日:2013-11-12
Applicant: 康宁股份有限公司
Inventor: L·E·I·康斯托克二世 , R·L·威金斯 , K·S·伍达得
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/04 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J2003/042 , G01J2003/045 , G01J2003/2813 , G01J2003/2826 , H04N5/347 , H04N9/04
Abstract: 本文中描述了用于提供远程目标(例如,感兴趣的场景(104))的一区域的高光谱图像的高光谱成像系统(100a)和方法。在一个方面,高光谱成像系统包括至少一个光学器件(106)、可旋转的盘(202)(其具有形成在其中的至少一个螺旋狭缝(204))、光谱仪(110)、二维图像传感器(112)和控制器(114)。在另一个方面,高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的盘(其具有形成在其中的多个直缝)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。在又一方面,高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的鼓(其具有形成在其外表面上的多个狭缝以及位于其中的折叠镜)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。
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公开(公告)号:CN107271037A
公开(公告)日:2017-10-20
申请号:CN201710367715.4
申请日:2017-05-23
Applicant: 天津大学
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0208 , G01J3/021
Abstract: 本发明涉及快照式光谱显微成像方法及系统,为提出无损快照式的光谱显微成像技术,实时追踪或抓拍活体的物质结构或成分图像。为此,本发明采用的技术方案是,光谱显微成像系统,由前置光学系统成像部分、中转镜、像切分器、成像镜组、成像光谱仪和光谱图像融合重建模块组成,待测物被前置光学系统成像,通过中转镜耦合到像切分器上,经过像切分器的切割及反射到达成像镜组,成像镜组将切割后的子图像整合成规律性排列在成像光谱仪狭缝入口处,最后经过光谱图像融合重建模块获得完整的三维数据组。本发明主要应用于快照式光谱显微成像场合。
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公开(公告)号:CN105263437B
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201480020976.3
申请日:2014-02-13
Applicant: 3形状股份有限公司
CPC classification number: A61C9/0073 , A61C9/006 , A61C9/0066 , G01B11/24 , G01B11/2509 , G01B11/2513 , G01B11/2518 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/0278 , G01J3/508 , G01J3/51 , G01J3/513
Abstract: 公开一种用于记录物体的表面几何形状和表面颜色的扫描器系统和方法,并且其中所述图像传感器像素的块的表面几何形状信息和表面颜色信息两者至少部分地从由所述彩色图像传感器记录的一个2D图像导出。
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公开(公告)号:CN107179126A
公开(公告)日:2017-09-19
申请号:CN201710595728.7
申请日:2017-07-20
Applicant: 烟台东方分析仪器有限公司
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0202 , G01J3/0208
Abstract: 本发明适用于光谱分析技术领域,提供了一高效的CCD全谱光谱采集结构,包括聚光装置、CCD、数据转换板和数据采集卡;聚光装置,用于将入射的光谱信号进行反射聚焦;CCD,用于将反射聚焦后的光谱信号等比例转换为电压信号;数据转换板,用于将电压信号进行反向、放大、滤波、AD转换、传输和存储处理;数据采集卡,用于将处理后的电压信号进行采集,并将采集到的电压信号输入到上位机。本发明可以应用于各类光谱仪,不仅实现一定光谱范围全谱采集,有效提升光谱采集的效率和速率,对提升光谱仪性能起到至关重要作用。
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公开(公告)号:CN107144352A
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:CN201710344169.2
申请日:2017-05-16
Applicant: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/06
Abstract: 本发明涉及一种分谱段干涉光谱仪及探测方法,该干涉仪包括干涉系统、光谱分割单元、光探测器组和数据处理系统;探测点出射的光线通过干涉系统形成两束相干光;两束相干光通过光谱分割单元被分割成N个不同谱段的两束相干光束,每个谱段的两束相干光束被光探测器组采集,光探测器组将光信号转化为电信号;数据处理系统与所述光探测器组相连,采用傅里叶变换、谱段拼接后复原探测点的光谱信息。本发明可以提高复原光谱的准确性,相比传统傅里叶光谱仪,更加适合于宽光谱谱段的紫外、可见光、近红外和中红外光谱探测。
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公开(公告)号:CN103727880B
公开(公告)日:2017-09-08
申请号:CN201310478380.5
申请日:2013-10-14
Applicant: 横河电机株式会社
CPC classification number: G01B11/14 , G01B11/026 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/50
Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括:光源单元,其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域;分光镜,其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布;特征量提取模块,其被构造为提取光谱分布的特征量;以及位移计算模块,其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。
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