公开(公告)号：CN106030289B

公开(公告)日：2019-07-05

申请号：CN201480068347.8

申请日：2014-10-15

Applicant: TSI公司

Inventor： 弗雷德里克·匡特 ,  肯尼思·R·法默 ,  菲利普·V·坦 ,  克里斯托弗·B·斯蒂普 ,  史蒂文·G·巴克利 ,  埃里克·斯托金格 ,  丹尼尔·詹森

IPC: G01N21/71

CPC classification number: G01N21/718 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18 ,  G01J3/443 ,  G01J2003/1861 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0697

Abstract: 公开了一种管理手持式结构中的LIBS激光器部件和光谱仪的散热问题的新型装置、方法和系统，以及使用包括裸光纤的简化的光信号收集装置收集测试材料附近（或接触测试材料）的发射光。在手持式LIBS装置的一个示例实施例中，使用频率为4 kHz的突发脉冲，产生脉冲之间的时间约250µs，这是现有技术中其他装置中的10倍以上的因数。在相关实施例中，主动调Q OPO激光器模块与使用透射光栅的紧凑型光谱仪模块一起使用，以改进LIBS测量，同时大幅减小手持式分析仪的尺寸。

公开(公告)号：CN105190262B

公开(公告)日：2018-07-03

申请号：CN201480009125.9

申请日：2014-02-19

Applicant: 新加坡国立大学

Inventor： 黄志伟 ,  麦德斯·塞尔沃斯特·伯格浩特 ,  郑伟 ,  何凯宇

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G01N21/359 ,  G02B5/18 ,  A61B18/22

CPC classification number: A61B5/0075 ,  A61B1/00165 ,  A61B5/0084 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01N21/65 ,  G01N2201/129 ,  G02B23/2469 ,  G02B23/26

Abstract: 一种诊断仪器，包括单色光源、用于将来自单色光源的光传输到测试部位的传输设备、用于传输来自测试部位的散射光的采集设备和用于接收来自所述采集设备的散射光的光谱分析仪，所述光谱分析仪包括衍射光栅，所述衍射光栅设有第一光栅元件和第二光栅元件，所述第一光栅元件在第一光谱范围将光衍射，所述第二光栅元件在第二光谱范围将光衍射；所述光谱分析仪进一步包括感光设备，所述第一光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第一区域上，所述第二光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第二区域上。

公开(公告)号：CN104603587B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201380041990.7

申请日：2013-07-29

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04

Abstract: 分光器(1A)具备具有底座(4)和盖体(5)的封装体(2)、配置于底座(4)上的光学单元(10A)、以及贯通底座(4)的引线接脚(3)。光学单元(10A)具有对从盖体(5)的光入射部(6)入射的光进行分光且反射的分光部(21)、检测由分光部(21)分光并且反射的光的光检测元件(30)、以在与分光部(21)之间形成有空间的方式支撑光检测元件(30)的支撑体(40)、从支撑体(40)突出的突出部(11)、以及与光检测元件(30)电连接的配线。突出部(11)配置在与底座(4)隔开的位置。引线接脚(3)嵌入至突出部(11)，并电连接于第2端子部。

公开(公告)号：CN107490433A

公开(公告)日：2017-12-19

申请号：CN201710239986.1

申请日：2017-04-13

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 迟明波 ,  吴一辉 ,  郝鹏 ,  周文超

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 本发明基于光栅光谱仪的光谱定标方法及光栅光谱仪，光栅光谱仪结构可以包括元素谱线灯、准直镜、角位移平台、位于所述角位移平台上的扫描光栅、聚焦镜以及成像装置，由所述元素谱线灯发出的光信号经过所述准直镜准直后以第一入射角照射到所述扫描光栅，经过所述扫描光栅衍射的衍射光信号经由聚焦镜成像于所述成像装置，根据光栅方程，通过角位移平台转动光栅，导致光栅平面法线的转动，改变第一入射角i与衍射角θ，从而改变探测器像元上的波长范围，基于该原理可以实现光栅波长扫描，进而实现宽范围、高分辨率的光谱测量，所需专业辅助设备少，操作简便，光谱定标精度高，定标速度快，易于维护。

公开(公告)号：CN103727880B

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。

公开(公告)号：CN104541138B

公开(公告)日：2017-07-25

申请号：CN201380042087.2

申请日：2013-07-29

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  能野隆文

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28

Abstract: 分光器(1A)具备具有底座(4)和盖体(5)的封装体(2)、配置在底座(4)上的光学单元(10A)、以及贯通底座(4)的引线接脚(3)。光学单元(10A)具有对从盖体(5)的光入射部(6)入射的光进行分光并且反射的分光部(21)、检测由分光部(21)分光并且反射的光的光检测元件(30)、以在与分光部(21)之间形成有空间的方式支撑光检测元件(30)的支撑体(40)、从支撑体(40)突出的突出部(11)、以及与光检测元件(30)电连接的配线。突出部(11)配置在接触于底座(4)的位置。引线接脚(3)电连接于配置在突出部(11)的配线的第2端子部。

公开(公告)号：CN106908147A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201710086619.2

申请日：2017-02-17

Applicant: 天津大学

Inventor： 李奇峰 ,  杜文芳 ,  王慧捷 ,  马翔云 ,  王婧 ,  王洋 ,  陈达

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/02 ,  G01J3/18

Abstract: 本发明公开了一种基于DOE的CTIS系统光路，属于光谱分析仪器技术领域。本发明基于DOE的特性启发性地提出采用DOE代替传统二维衍射光栅进行CTIS系统光路设计。该系统光路包括：第一成像镜、视场光阑、准直镜、DOE、第二成像镜及阵列探测器。其中DOE的作用是对通过准直镜的平行光束进行分光，使得不同波长的光束按一定的规律分散到不同的方向上。相比于传统二维衍射光栅，DOE的特点在于其在一定范围的波段内都具有较高的衍射效率，并且具有较高的设计自由度，可以根据需要设计其衍射投影图像的形状及衍射角度。基于这些特点，DOE可以大大提高阵列探测器可探测到的有效信息量，对于后续的图像反演大有裨益。

公开(公告)号：CN106574998A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580044297.4

申请日：2015-09-16

Applicant: 株式会社日立高新技术

Inventor： 青野宇纪 ,  松井繁 ,  江畠佳定 ,  八重樫健太

IPC: G02B5/18 ,  B29C33/38 ,  B29C59/02 ,  G01J3/18

CPC classification number: B29C33/38 ,  B29C59/02 ,  G01J3/18 ,  G02B5/18

Abstract: 在通过机械加工在曲面基板上制造锯齿形状的衍射光栅图案时，工具的角度固定，因而在曲面的中心部、外周部处成为衍射光栅图案的角度不同的形状。另外，在通过半导体工艺在曲面基板上进行光刻、蚀刻，从而形成锯齿形状的衍射光栅图案时，需要调整光刻时的焦点深度和蚀刻角度，从而导致成本变高。本发明的曲面衍射光栅的模型的制造方法包括：在金属制平面衍射光栅基板上形成衍射光栅图案的工序、在金属制平面衍射光栅基板的、与形成有衍射光栅图案的面相反侧的面上形成焊料的工序；在曲面基板上将与焊料共晶的接合材料成膜的工序；以及利用曲面固定基板和曲面固定基板夹住金属制平面衍射光栅基板并施加负荷的工序。

公开(公告)号：CN106338341A

公开(公告)日：2017-01-18

申请号：CN201610518851.4

申请日：2016-07-04

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 湊浩之

IPC: G01J3/44 ,  G01J3/02 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01N30/74 ,  G01N21/65 ,  G01J3/44 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/064 ,  G01N21/645

Abstract: 提供一种光谱检测器，包括：光源(11)，用于产生多色光；单个衍射光栅(13)；激发光学系统，用于将来自光源(11)的光引导到衍射光栅(13)上，用于从通过衍射光栅(13)衍射的光中选择一个波长，以及用于将选定波长的光作为激发光投射到样品中；检测光学系统，用于将从被激发光照射的样品发出的观测光引导到衍射光栅(13)上并使观测光色散；以及光电检测器(15)，用于检测由检测光学系统色散的观测光。通过在激发光学系统和检测光学系统两者中使用一个衍射光栅(13)，减少了衍射光栅的数目，由此实现装置的成本降低以及小型化两者。

公开(公告)号：CN103293698B

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201310116824.0

申请日：2013-04-07

Applicant: 奥托莱克斯公司

Inventor： 谢永杰

IPC: G02B27/44 ,  G02B26/08

CPC classification number: G02B26/0816 ,  G01J3/18 ,  G02B5/18 ,  G02B26/105 ,  H04J14/02

Abstract: 在一种基于光栅的可调滤波器中，包括多波长的输入波束被导入环行器的输入光纤。所述波束被准直，之后被一执行旋转的平面镜反射。而后所述波束被放大，被传送到且通过一个透射衍射光栅，该透射衍射光栅使被透射的波束的不同波长被偏转到不同角度。波长传送到一平面镜并被反射，只有被透射的波束中的极小部分波长光谱将沿着输入路径被反射回来，之后传送到输出光纤。