公开(公告)号：CN109791116B

公开(公告)日：2021-06-18

申请号：CN201780059601.1

申请日：2017-08-31

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 加藤秀一 ,  山田隆 ,  片冈由行

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 一种波长色散型荧光X射线分析装置，包括单一的一维检测器(10)，该一维检测器(10)具有呈直线状排列的多个检测元件(7)，该波长色散型荧光X射线分析装置包括检测器位置变更机构(11)，该检测器位置变更机构(11)用于针对一维检测器(10)的位置，设定在检测元件(7)的排列方向与分光元件(6)中的分光角度方向平行的平行位置和与该分光元件(6)中的分光角度方向相交叉的交叉位置中的任意者，在平行位置，一维检测器(10)的感光面位于汇聚二次X射线(42)的焦点处，在交叉位置，感光狭缝(9)设置于汇聚二次X射线(42)的焦点处，一维检测器(10)的感光面位于感光狭缝(9)的与分光元件(6)离开的汇聚二次X射线(42)的行进方向侧。

公开(公告)号：CN112105918A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN201980031804.9

申请日：2019-02-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 佐佐木明登 ,  室山知宏

IPC: G01N23/2055 ,  C01B32/20 ,  C01B32/19

Abstract: 提供能够利用针对石墨原料的粉末X射线衍射图案而可靠地通过波峰轮廓拟合进行波峰分离的石墨烯前体的判别方法、判别装置以及判别程序。作为针对六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层混合的石墨原料的石墨烯前体的判别方法，包括：针对石墨原料的粉末X射线衍射数据，确定衍射角的零点的步骤；在形成所述石墨原料的石墨烯片材的面间隔以及所述石墨烯片材内的晶体结构在混合为所述石墨原料的任意的石墨层中均相同的假定下，根据所确定的所述零点，计算六方晶系石墨层以及菱面体晶系石墨层所特有的波峰位置的步骤；对计算出的所述波峰位置处的积分强度进行计算的步骤；和基于计算出的所述积分强度，判别所述石墨原料是否是石墨烯前体的步骤。

公开(公告)号：CN110088603B

公开(公告)日：2020-06-09

申请号：CN201780078045.2

申请日：2017-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明目的在于提供一种荧光X射线分析装置，结构简单能迅速进行高精度分析。本发明荧光X射线分析装置包括X射线源(100)，向样品(103)照射1次X射线；分光元件(120)，对样品(103)产生的2次X射线分光；能量分散型检测器(110)，测量2次X射线强度；退让机构(108)，使分光元件(120)从2次X射线路径退让；扫描机构(114)，在副测量区域(124)与主测量区域(122)之间连续移动检测器(110)，副测量区域在分光元件(120)退让机构退让状态测量2次X射线，主测量区域测量分光后的2次X射线；存储装置(116)，预先存储副测量区域(124)测量出的本底强度与主测量区域(122)测量出的本底强度的比率；运算装置(118)，进行从主测量区域(122)测量强度减副测量区域(124)本底强度乘以所述比率得到的值的校正，定量分析。

公开(公告)号：CN110398509A

公开(公告)日：2019-11-01

申请号：CN201910328749.1

申请日：2019-04-23

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 马赛厄斯·梅耶

IPC: G01N23/2055

Abstract: 提供了一种处理X射线衍射数据的计算机实现的方法，其中X射线衍射数据由配置为检测待研究样品的衍射X射线束的X射线检测器提供。该方法包括：在样品相对于入射X射线束旋转时从X射线检测器获取X射线衍射数据；从获取的X射线衍射数据中生成2D图像帧，其中生成的2D图像帧包括表示样品特定旋转位置的X射线衍射数据的2D图像数据，X射线衍射数据包括样品相关的X射线数据和背景数据；对于生成的2D图像帧，将样品相关的X射线衍射数据与背景数据区分开；将生成的2D图像帧的区分后的样品相关X射线衍射数据映射到单个3D倒易空间；以及使3D倒易空间与映射后的X射线衍射数据在显示屏上可视化。还提供了一种实现上述方法的装置和X射线设备。

公开(公告)号：CN110383052A

公开(公告)日：2019-10-25

申请号：CN201880015532.9

申请日：2018-01-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 谷口弥生 ,  森川惠一

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 根据本发明的X射线分析辅助设备设置有：输入和操作设备24，用于任意地输入和设置样品S和二维检测器2之间的距离L以及由样品S散射或衍射的X射线的最大检测范围Xmax中的一个的值；以及中央处理单元20，用于基于由输入和操作设备24设置的一个设置项目的值来自动设置另一个设置项目。另外，基于距离L和最大检测范围Xmax，在显示设备21的显示屏22上显示X射线的最大测量帧Hmax。此外，在显示设备21的显示屏22上显示X射线检测区域A，X射线检测区域A指示其内二维检测器2的检测表面可以检测X射线的范围。

公开(公告)号：CN110308168A

公开(公告)日：2019-10-08

申请号：CN201910192376.X

申请日：2019-03-13

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 刑部刚 ,  光永彻

IPC: G01N23/20008

Abstract: 提供节省用户的时间和劳力并且以简易的结构就能够实现使用反射镜的光学系统和未使用反射镜的光学系统的切换的X射线衍射装置。具备：生成X射线束的X射线源；使X射线束以规定的发散角通过的第一入射路径；使多层膜反射镜反射X射线束，并与通过第一入射路径的X射线束平行地通过的第二入射路径；维持各自的相对位置并且使X射线源、第一入射路径及第二入射路径在规定的方向移动的移动机构；使入射至试样的X射线束通过的入射狭缝；和在相对于入射狭缝而被固定的位置处支承试样S的试样支承台，通过移动机构，对通过第一入射路径或者第二入射路径的X射线束之中通过入射狭缝的X射线束进行切换。

公开(公告)号：CN106062542B

公开(公告)日：2019-06-07

申请号：CN201580011600.0

申请日：2015-02-02

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 表和彦 ,  伊藤和辉

IPC: G01N23/201 ,  G21K1/06

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/054 ,  G01N2223/056 ,  G01N2223/315 ,  G21K1/06 ,  G21K1/10

Abstract: 本发明提供以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像的微小射束生成单元以及小角度X射线散射装置。微小射束生成单元(110)生成向试样照射的束斑尺寸微小的X射线，以便利用一维检测器或者二维检测器检测衍射X射线，所述微小射束生成单元具备：狭缝(115)，其设置在X射线光路上，将X射线修整为平行射束；以及两个切槽晶体单色器(117、118)，它们配置为(+，‑，‑，+)，除去利用狭缝修整后的平行射束的寄生散射。由此，能够以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像。

公开(公告)号：CN109416330A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201780042408.7

申请日：2017-07-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 尾形洁 ,  表和彦 ,  伊藤义泰

IPC: G01N23/2251 ,  G01N23/201

Abstract: 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统，其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11)，并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外，第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。

公开(公告)号：CN107923859B

公开(公告)日：2018-12-21

申请号：CN201680049794.8

申请日：2016-08-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 原真也 ,  松尾尚 ,  山田康治郎 ,  本间寿 ,  片冈由行

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置所具有的定量分析条件设定机构(13)针对多个标准试样(14)进行定性分析，根据其结果，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的峰测定角度，并且将经过定性分析的多个标准试样(14)的峰形合成，求出单一的假想外形，根据假想外形和预定的峰形的半值宽度，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的背景测定角度。

公开(公告)号：CN108770365A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201780011596.7

申请日：2017-02-15

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 大渕敦司 ,  绀谷贵之 ,  藤绳刚 ,  姫田章宏

IPC: G01N23/207 ,  G01N23/20

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/207

Abstract: 提供即使由不熟练者对高性能性水泥的组成进行分析也能高精度地进行定量分析的解析装置、解析方法以及解析程序。进行水泥的含有成分的定量分析的解析装置(100)具备：含有率变换部(120)，其将作为元素分析结果得到的、水泥样本中的主要元素的含有率通过给定的公式变换成构成水泥样本的主晶相的含有比；尺度因子推定部(140)，其根据通过变换得到的主晶相的含有比推定里特沃尔德解析的尺度因子的初始值；以及里特沃尔德解析部(150)，其使用所推定出的尺度因子的初始值来对水泥样本的X射线衍射测定结果进行里特沃尔德解析，算出水泥样本的各相的含有率。