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公开(公告)号：CN118758984A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411009269.6
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN118777345A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411009268.1
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN109313145A
公开(公告)日：2019-02-05
申请号：CN201780035084.4
申请日：2017-07-12
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 尾形洁 , 表和彦 , 吉原正 , 伊藤义泰 , 本野宽 , 高桥秀明 , 杵渕隆男 , 樋口明房 , 梅垣志朗 , 浅野繁松 , 山口僚太郎 , 洞田克隆 , 神户亮 , 姜立才 , B·韦尔曼
IPC: G01N23/207 , G21K1/06 , G21K5/02
Abstract: 在根据本发明的X射线检查设备中，X射线照射单元40包括用于在垂直方向上聚焦特征X射线的第一X射线光学元件42，以及用于在水平方向上聚焦特征X射线的第二X射线光学元件43。第一X射线光学元件42由具有高结晶度的晶体材料构成。第二X射线光学元件包括多层镜。
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公开(公告)号：CN113631913B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202080024801.5
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN109416330B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN201780042408.7
申请日：2017-07-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2251 , G01N23/201
Abstract: 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统，其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11)，并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外，第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113631913A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202080024801.5
申请日：2020-01-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/20025 , G01N23/201
Abstract: 本发明的透射式小角度散射装置配备有包括旋转臂(11)的测角器(10)。旋转臂(11)在以铅垂方向的配置状态作为原点，围绕从该原点沿水平方向延伸的θ轴自由转动。并且，将X射线照射单元(20)搭载于旋转臂(1)的下侧端部，并且，将二维X射线检测器搭载于旋转臂(11)的上侧端部。
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公开(公告)号：CN109416330A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201780042408.7
申请日：2017-07-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2251 , G01N23/201
Abstract: 该混合检查系统是包括第一检查设备(1)和第二检查设备(2)的检查系统，其中第一检查设备(1)基于通过用X射线照射样本(11)获得的X射线测量数据来检查样本(11)，并且第二检查设备(2)通过使用不采用X射线的测量技术来检查样本(11)。由第一检查设备(1)获得的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果被输出到第二检查设备(2)。此外，第二检查设备(2)利用从第一检查设备(1)输入的X射线测量数据或X射线测量数据的分析结果来分析样本(11)的结构。
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公开(公告)号：CN118708869A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202410357935.9
申请日：2024-03-27
Applicant: 株式会社理学
IPC: G06F17/18
Abstract: 提供针对测定数据算出表示模型的优化程度的指标的解析装置、系统、方法以及记录介质。一种解析装置(400)，针对测定数据所遵循的概率分布函数为已知的所述测定数据，算出表示包含电子密度分布的信息的模型的优化程度的指标，所述解析装置(400)具备：测定数据取得部(410)，其取得所述测定数据；计算数据取得部(420)，其取得从所述模型计算出的计算数据；以及指标算出部(430)，其针对由包含所述测定数据和所述计算数据的规定的数学式定义的残差、以及基于所述概率分布函数和所述规定的数学式定义的所述残差的期待值，算出包含所述残差与所述残差的期待值之比的指标GOF。
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公开(公告)号：CN118688233A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202410337617.6
申请日：2024-03-23
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 伊藤义泰
IPC: G01N23/201 , G01B15/00
Abstract: 一种解析装置(120)，具备：测定数据存储部(123)，其存储在1次ω扫描中通过X射线的透射测定的散射强度的数据；坐标转换部(125)，其针对基于特定的衍射点的2个方向分量的强度的波形，将散射矢量的坐标向散射体的倾斜度的坐标进行坐标转换；峰位置确定部(126)，其确定相对于坐标转换后的倾斜度的坐标的强度的波形的峰位置；以及倾斜度算出部(127)，其算出所确定的峰位置与假设散射体不从与板状试样的表面垂直的方向倾斜而求出的峰位置的差值。
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公开(公告)号：CN111527400A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201880084358.3
申请日：2018-09-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20016 , G01N23/207
Abstract: 本发明的X射线检查装置具备：试样配置部(11)，配置作为检查对象的试样；试样配置部定位机构(30)，使试样配置部(11)移动；测角仪(20)，包括独立回转的第一、第二回转部件(22、23)；X射线照射单元(40)，搭载于第一回转部件(22)；以及二维X射线检测器(50)，搭载于第二回转部件(23)。而且，试样配置部定位机构(30)包括以在测定点P与θs轴及θd轴正交并且在水平方向上延伸的χ轴为中心，使试样配置部(11)以及 轴旋转的χ旋转机构(35)。
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