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公开(公告)号：DE10042840A1
公开(公告)日：2002-03-14
申请号：DE10042840
申请日：2000-08-30
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , HOFFMANN JUERGEN
Abstract: The present invention relates to a device and to a method for the excitation of fluorescent markers in multiphoton scanning microscopy, having at least one illumination beam path, a light source that produces the illumination light and at least one detection beam path for a detector, the objects to be studied being labelled with fluorescent markers. So as to avoid making it necessary to increase the illumination power of the light source in order to achieve an increase in the fluorescence photon yield, the device according to the invention and the method according to the invention are characterized in that at least one means that influences the spectral distribution/composition of the illumination light is provided for variably influencing the illumination light that excites the fluorescent markers, in particular during the illumination process.
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公开(公告)号：DE10015121A1
公开(公告)日：2001-10-04
申请号：DE10015121
申请日：2000-03-28
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： ENGELHARDT JOHANN , KNEBEL WERNER
IPC: G02B21/00
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公开(公告)号：DE10003570A1
公开(公告)日：2001-08-02
申请号：DE10003570
申请日：2000-01-27
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER
Abstract: A microscope assemblage, in particular for confocal scanning microscopy, having a light source (1) for illuminating a specimen (6) to be examined and at least one fluorescent-light detector (11, 14) for the detection of fluorescent light (10, 13) generated in the specimen (6) and at least one transmitted-light detector (16) for the detection of transmitted light (15) passing through the specimen (6), is configured and developed, with a view toward reliable performing a wide variety of experiments with a high level of detection in each case, such that the fluorescent-light and transmitted-light detectors (11, 14; 16) are arranged in such a way as to make possible simultaneous detection of fluorescent and transmitting light (10, 13; 15).
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公开(公告)号：DE102019214929B4
公开(公告)日：2022-02-10
申请号：DE102019214929
申请日：2019-09-27
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , FAHRBACH FLORIAN
Abstract: Lichtblattmikroskop (1) zur Beobachtung eines in einem Probenvolumen (31) angeordneten Objektes (41), umfassend ein Beleuchtungsobjektiv (5) zur Transmission von Beleuchtungslicht (21) von einer Beleuchtungsseite (23) zu einer Probenseite (25) in das Probenvolumen (31), und ein Detektionsobjektiv (7) zur Transmission von Streu- und/oder Fluoreszenzlicht (55) vom Probenvolumen (31) zu einer Detektorseite (53) des Detektionsobjektivs (7), wobei das Beleuchtungsobjektiv (5) einen Abstand (47) zwischen dem Probenvolumen (31) und der probenvolumenseitigen Hauptebene (43b) des Beleuchtungsobjektivs (5) aufweist, der größer ist als die Brennweite des Beleuchtungsobjektivs (5) und/oder dass das Detektionsobjektiv (7) einen Abstand (47) zwischen dem Probenvolumen (31) und der probenvolumenseitigen Hauptebene (43b) des Detektionsobjektivs (7) aufweist, der größer ist als die Brennweite des Detektionsobjektivs (7), dadurch gekennzeichnet, dass auf der Beleuchtungsseite (23) des Beleuchtungsobjektivs (5) und/oder auf der Detektorseite (53) des Detektionsobjektivs (7) eine Scanvorrichtung (59) angeordnet ist, die bezüglich einer optischen Achse (9a, 9b) des jeweiligen Objektivs (5, 7) beweglich und/oder verkippbar ist, und dass die Scanvorrichtung (59) in der beleuchtungsseitigen Brennweite (45a) des Beleuchtungsobjektivs (5) und/oder in der detektorseitigen Brennweite (45c) des Detektionsobjektivs (7) angeordnet ist.
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公开(公告)号：DE102017116892B4
公开(公告)日：2022-01-05
申请号：DE102017116892
申请日：2017-07-26
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK
Abstract: Lichtquellenmodul zur Erzeugung einer Lichtblattebene mit einem Lichtquellenmodulgehäuse, einem innerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses angeordneten Lichtblattebenengenerator zur Beeinflussung eines Lichtstrahls derart, dass außerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses eine Lichtblattebene erzeugt wird, und einer Austrittsfläche des Lichtquellenmodulgehäuses, aus der der Lichtstrahl austritt, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine Lichtquelle innerhalb des Lichtquellenmoduls angeordnet ist.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102018132212B4
公开(公告)日：2020-09-17
申请号：DE102018132212
申请日：2018-12-14
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN , KNEBEL WERNER , SCHWARZ ULF
Abstract: Verfahren zur hochaufgelösten lichtmikroskopischen Abbildung einer Probe (36), bei demmit einem ersten Beleuchtungslichtstrahl (24a, 25a) während einer ersten Verweildauer ein Zielbereich (34) einer Probe (36) beleuchtet wird, um zumindest eine erste Teilmenge von in der Probe (36) vorhandenen Fluorophoren aus einem ersten Zustand (Z1) in einen zweiten Zustand (Z2) zu überführen, wobei diese erste Teilmenge der Fluorophore beim Übergang aus dem zweiten Zustand (Z2) zurück in den ersten Zustand (Z1) Fluoreszenzphotonen emittiert, die zum Erzeugen eines ersten Rohbildes genutzt werden;mit einem zweiten Beleuchtungslichtstrahl (24b, 25b), der eine von der Leistung des ersten Beleuchtungslichtstrahls (24a, 25a) verschiedene Leistung und/oder ein von dem Strahlprofil des ersten Beleuchtungslichtstrahls (24a, 25a) verschiedenes Strahlprofil hat, während einer zweiten Verweildauer der Zielbereich (34) der Probe (36) beleuchtet wird, um zumindest eine zweite Teilmenge der in der Probe (36) vorhandenen Fluorophore aus dem ersten Zustand (Z1) in den zweiten Zustand (Z2) zu überführen, wobei diese zweite Teilmenge der Fluorophore beim Übergang aus dem zweiten Zustand (Z2) zurück in den ersten Zustand (Z1) Fluoreszenzphotonen emittiert, die zum Erzeugen eines zweiten Rohbildes genutzt werden; undaus dem ersten Rohbild und dem zweiten Rohbild ein hochaufgelöstes Bild der Probe (36) erzeugt wird,dadurch gekennzeichnet, dass die erste Verweildauer und die zweite Verweildauer kürzer sind als die Lebensdauer eines dritten Zustands (Z3) der Fluorophore, in den eine dritte Teilmenge der Fluorophore durch die Beleuchtung des Zielbereichs (34) der Probe (36) mit dem ersten Beleuchtungslichtstrahl (24a, 25a) und/oder dem zweiten Beleuchtungslichtstrahl (24b, 25b) überführt wird, und dessen Lebensdauer um nen Faktor von mindestens 2 länger ist als die Lebensdauer des zweiten Zustands (Z2).
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公开(公告)号：DE102018128264A1
公开(公告)日：2020-05-14
申请号：DE102018128264
申请日：2018-11-12
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , FAHRBACH FLORIAN , FRANKE CHRISTOF , FEHRER DIRK-OLIVER
Abstract: Gezeigt ist ein Lichtblattmikroskop mit einem Detektionsobjektiv (12) zum Abbilden eines Zielbereichs (36) einer Probe (16), der sich in einer Fokusebene des Detektionsobjektivs (12) befindet, einem Beleuchtungsobjektiv (14) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (38) in die Probe, wobei das Detektionsobjektiv (12) und das Beleuchtungsobjektiv (14) einander gegenüberliegen, und die optische Achse des Detektionsobjektivs (12) und die optische Achse des Beleuchtungsobjektivs (14) parallel zueinander sind, einer ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) mit wenigstens einer ersten und einer zweiten Umlenkfläche (26, 28), die versetzt zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) angeordnet und ausgebildet sind, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse des Detektionsobjektivs (12) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (38) eine in die Fokusebene fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung bildet, und einer zweite Lichtumlenkvorrichtung (20, 44, 52), die ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (14) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (38) auf wenigstens eine der beiden Umlenkflächen (26, 28) der ersten Lichtumlenkvorrichtung (18) umzulenken.
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公开(公告)号：DE102017107733B4
公开(公告)日：2019-01-31
申请号：DE102017107733
申请日：2017-04-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN , KNEBEL WERNER
Abstract: Lichtblattmikroskop (10), umfassend:ein Detektionsobjektiv (32) zum Abbilden eines Zielbereichs (58) einer Probe (44), der sich in einer Fokusebene (54) des Detektionsobjektivs (32) befindet,ein Beleuchtungsobjektiv (20) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (50) in die Probe (44),wobei das Detektionsobjektiv (32) und das Beleuchtungsobjektiv (20) mit ihren senkrecht zur Fokusebene (54) ausgerichteten optischen Achsen (O, O) derart einander gegenüber liegen, dass sie einander mit ihren koaxialen oder zumindest parallelen optischen Achsen (O, O) gegenüberstehen, und zwischen sich einen die Fokusebene (54) enthaltenden Probenraum (38) definieren,einen Probenhalter (40) mit mindestens einer in dem Probenraum (38) angeordneten Trägerfläche (42), auf der die Probe (44) anbringbar ist, undeine Lichtumlenkvorrichtung (46) mit einer Umlenkfläche (48), die in dem Probenraum (38) seitlich versetzt zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) angeordnet und ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (20) hindurchtretende Beleuchtungslichtbündel (50) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (50) eine in die Fokusebene (54) fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung (52) bildet,wobei die Lichtumlenkvorrichtung (46) einen der Trägerfläche (42) zugewandten Kollisionsabschnitt (86) hat, der für die Trägerfläche (42) einen mechanischen Anschlag an die Lichtumlenkvorrichtung (46) definiert, der eine koplanare Anordnung der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) verhindert,dadurch gekennzeichnet, dass die Trägerfläche (42) gegenüber der Fokusebene (54) unter einem vorbestimmten Neigungswinkel derart geneigt ist, dass ein Teil der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) angeordnet ist.
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公开(公告)号：DE102017107733A1
公开(公告)日：2018-10-11
申请号：DE102017107733
申请日：2017-04-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： FAHRBACH FLORIAN , KNEBEL WERNER
Abstract: Beschrieben ist ein Lichtblattmikroskop (10), umfassend ein Detektionsobjektiv (32) zum Abbilden eines Zielbereichs (58) einer Probe (44), der sich in einer Fokusebene (54) des Detektionsobjektivs (32) befindet, ein Beleuchtungsobjektiv (20) zum Fokussieren eines Beleuchtungslichtbündels (50) in die Probe (44), wobei das Detektionsobjektiv (32) und das Beleuchtungsobjektiv (20) mit ihren senkrecht zur Fokusebene (54) ausgerichteten optischen Achsen (O, O) einander gegenüber liegen und zwischen sich einen die Fokusebene (54) enthaltenden Probenraum (38) definieren, einen Probenhalter (40) mit mindestens einer in dem Probenraum (38) angeordneten Trägerfläche (42), auf der die Probe anbringbar (44) ist, und eine Lichtumlenkvorrichtung (46) mit einer Umlenkfläche (48), die in dem Probenraum (38) seitlich versetzt zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) angeordnet und ausgebildet ist, das durch das Beleuchtungsobjektiv (20) fokussierte Beleuchtungslichtbündel (50) in eine Richtung senkrecht zur optischen Achse (O) des Detektionsobjektivs (32) derart umzulenken, dass das umgelenkte Beleuchtungslichtbündel (50) eine in die Fokusebene (54) fokussierte lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung (52) bildet, wobei die Lichtumlenkvorrichtung (46) einen der Trägerfläche (42) zugewandten Kollisionsabschnitt (86) hat, der für die Trägerfläche (42) einen mechanischen Anschlag an die Lichtumlenkvorrichtung (46) definiert, der eine koplanare Anordnung der Trägerfläche (42) in der Fokusebene (54) verhindert. Die Trägerfläche (42) ist gegenüber der Fokusebene (54) unter einem
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100.发明专利
公开(公告)号：LU92696B1
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：LU92696
申请日：2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
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