公开(公告)号：KR1020170018441A

公开(公告)日：2017-02-17

申请号：KR1020177001209

申请日：2015-06-15

Applicant: 꼼미사리아 아 레네르지 아토미끄 에뜨 옥스 에너지스 앨터네이티브즈

Inventor： 큐에레,파비엔 ,  갈릿,발렌틴 ,  파리엔테,구스타브

IPC: G01J11/00 ,  G01J9/02

CPC classification number: G01J11/00 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01J2003/4538

Abstract: 본발명의일 양태는다음단계들을포함한광 빔의특성화를위한방법에관한것이다: - 상기광 빔을, 분리기광학계로제 1 서브-빔및 제 2 서브-빔으로분리시키는단계; - 제 1 광학계를통해상기제 1 서브-빔을전파하고, 제 2 광학계를통해상기제 2 서브-빔을전파하는단계 - 상기제 1 및제 2 광학계들각각은상기제 1 광학계에서빠져나가고 "기준빔"이라지칭되는제 1 서브-빔, 및상기제 2 광학계에서빠져나가고 "특성화빔"이라지칭되는제 2 서브-빔이시간지연 (τ)만큼분리되도록배치됨 -; - 상기기준빔 및상기특성화빔이공간적으로간섭되고 2-차원간섭패턴을 형성하는방식으로, 재결합기광학계로상기기준빔 및상기특성화빔을재결합시키는단계; - 시간인터페로그램을얻기위해, 측정시스템으로상기 2-차원간섭패턴을 측정하는단계; - 상기시간인터페로그램의적어도하나의공간지점의주파수도메인에서푸리에변환을계산하는단계 - 상기주파수도메인에서의푸리에변환은주파수중심피크및 제 1 및제 2 주파수측면피크들을가짐 -; - 상기제 1 및제 2 시간측면피크들중 하나에대해주파수도메인에서푸리에변환을계산하는단계; - 주파수도메인에서의상기푸리에변화의제 1 및제 2 주파수측면피크들중 하나에대해스펙트럼진폭 (A(ω)) 및공간-스펙트럼위상 (φ(x,y,ω))을계산하는단계.

Abstract translation: 本发明的一个方面涉及一种用于表征光束的方法，包括以下步骤：将光束分离成分离器光学系统，第一子光束和第二子光束; - 将第一子光束传播通过第一光学系统并将第二子光束传播通过第二光学系统，其中第一和第二光学系统中的每一个离开第一光学系统， 布置成通过光束的时间延迟（τ）来分离 - - 梁第二子“这被称为一个第一子光束，并且其中，从所述第二光学系统的出口”简称为光束特性“; - 将参考光束和表征光束与再化合物光学系统重新组合，使得参考光束和表征光束在空间上受到干扰并且形成二维干涉图案; 用测量系统测量二维干涉图案以获得时间干涉图; 计算时间接口的至少一个空间点的频域中的傅立叶变换，频域中的傅里叶变换具有频率中心峰值以及第一和第二频率侧峰值; 针对所述第一和第二时间峰值之一计算频域中的傅立叶变换; 计算频谱幅度A（ω）和空间谱相位（ω（X，y，ψ））对于频域中的傅里叶变换的第一和第二频率侧峰值之一。

公开(公告)号：KR1020040030066A

公开(公告)日：2004-04-08

申请号：KR1020047002153

申请日：2002-06-17

Applicant: 아트나셰프 비탈리

Inventor： 아트나셰프알렉세이 ,  아트나셰프파벨 ,  보야르첸코프알렉세이 ,  아트나셰프비탈리

IPC: G01J3/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/453

Abstract: 본 발명은 정재 광파의 간섭 프린지의 시스템이 광소자를 포함하는 주기적 시스템의 이미지를 투영함으로써 공간 주파수의 신호의 형상으로 기록되는 것을 특징으로 한다. 광소자로부터 수신된 전기 신호는 주기적 시스템의 광소자의 위치에 대응하는 그 함수의 형상으로 기록되며 분석된다. 본 발명의 분광법은 다음의 광 결합형 소자인, 광 방사 소오스, 반사 거울, 하나 또는 두개의 부분 투명한 얇은 감도층, 광소자가 제공되는 주기적 시스템, 빔 분산 소자, 및 스팩트럼 분석기를 포함하는 인터페로미터의 도움으로 수행된다. 본 발명의 분광법 및 이 방법을 수행하기 위한 인터페로미터는 광파 측정의 정확성을 2 내지 5 배 증가시키고 더욱 넓은 스팩트럼 범위에 걸쳐 광 방사를 측정할 수 있다.

公开(公告)号：KR100407007B1

公开(公告)日：2003-11-28

申请号：KR1020017013694

申请日：2000-04-11

Applicant: 피엘엑스 인코포레이티드

Inventor： 블라이어,즈비 ,  비시나,이타이

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01B9/02051 ,  G01B9/02056 ,  G01B9/0209 ,  G01B2290/15 ,  G01J3/453 ,  G02B5/122 ,  G02B27/14

Abstract: In accordance with the invention, an improved optical assembly having a monolithic structure is provided. The monolithic optical assembly is useful in interferometers to achieve a fringe effect in a Fourier transform spectrometer, and comprises top and bottom members which are joined into a monolithic structure by first and second support members and a beamsplitter. The assembly also comprising a first reflecting assembly in reflecting relation with the beamsplitter. An alternate embodiment of the invention has an added reflecting assembly in reflecting relation with the first reflecting assembly and the beamsplitter assembly, which allows for the use of multiple wavelength light sources to achieve a fringe effect in a Fourier transform spectrometer.

Abstract translation: 根据本发明，提供了一种具有单片结构的改进的光学组件。 单片光学组件在干涉仪中用于在傅立叶变换光谱仪中获得边缘效应，并且包括由第一和第二支撑构件以及分束器连接成单片结构的顶部和底部构件。 该组件还包括与分束器反射关系的第一反射组件。 本发明的可选实施例具有与第一反射组件和分束器组件反射关系的附加反射组件，其允许使用多个波长光源来实现傅立叶变换光谱仪中的条纹效应。

公开(公告)号：KR1020000062408A

公开(公告)日：2000-10-25

申请号：KR1019997006010

申请日：1997-12-31

Applicant: 엑손모빌 케미칼 패턴츠 인코포레이티드

Inventor： 맥도날드마이클에프 ,  롱로버트엘 ,  토마스카를제이

IPC: G05D21/02

CPC classification number: G05D21/02 ,  C08F210/12 ,  C08F2400/02 ,  G01J3/28 ,  G01J3/453 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N21/84 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2021/8411 ,  G01N2201/129 ,  C08F2/00 ,  C08F236/08

Abstract: 본발명의할로부틸고무의제조를위한공정플랜트는온라인모니터링및 생성물의물성을제어하기위한공정파라미터의제어수단을갖추고있다. 이는공정으로부터어떠한샘플물질도제거할필요가없는동일계측정시스템을도입한다. 본발명은푸리에변환근적외선(FTNIR) 분광계, 섬유-광캐이블, 용액점도측정을위한점도측정계및 온도측정을위한레지스탄스템퍼러쳐디바이스(Resistance Temperature Device, RTD)를사용한다. 콘스트레인드프린서펄스펙트랄어낼리시스(Constrained Principal Spectral Analysis) 프로그램으로중합체생성물의물성을예상하고, 중합체및 스펙트럼측정치의물리적성질과유동점도및 온도의측정된값 사이의유도관계를사용하여데이타를분석하여공정제어시스템을제공한다. 생성물의예상가와요구가사이의차이를사용하여공정파라미터를제어한다. 이러한방법은다양한화학공정플랜트에사용할수 있다.

Abstract translation: 用于生产本发明的卤化丁基橡胶的加工厂配备有用于控制产品性能的工艺参数的在线监测和控制装置。 这引入了一种现场测量系统，不需要从过程中去除任何样品材料。 本发明使用傅立叶变换近红外（FTNIR）光谱仪，光纤电缆，用于溶液粘度测量的粘度计和用于温度测量的电阻温度装置（RTD）。 使用约束主光谱分析程序来预测聚合物产物的性质并确定聚合物的物理性质和光谱测量结果以及流动粘度和温度的测量值之间的关系， 提供过程控制系统。 使用产品期望值与需求之间的差异来控制过程参数。 该方法可用于各种化学加工厂。

公开(公告)号：KR1020000023721A

公开(公告)日：2000-04-25

申请号：KR1019997000182

申请日：1997-07-04

Applicant: 포스 애널리터컬 에이/에스

Inventor： 라르젠한스

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01J3/453

Abstract: PURPOSE: Interferometer for Fourier spectroscopy performs a measurement at a center or at adjacent infrared rays range in order to determine a quantity of the selected component, and is easily manufactured, and is not responded to a peripheral vibration. CONSTITUTION: Interferometer for Fourier spectroscopy has two retro reflectors (20,26) and a beam splitter (14) substantially arranged to form a Fourier transform polarizer. The beam splitter s(14) are arranged in the driving beam splitter. Two retro reflectors (20,26) are fixed. The beamspliters(14) are substantially mounted to a symmetrical plane of two retro reflectors (20,26). Thereby, the interferometer is easily manufactured, and is not responded to a peripheral vibration.

Abstract translation: 目的：用于傅立叶光谱的干涉仪在中心或相邻的红外线范围进行测量，以便确定所选择的部件的数量，并且容易制造，并且不响应周边振动。 构成：用于傅立叶光谱的干涉仪具有两个逆反射器（20,26）和基本上布置成形成傅里叶变换偏振器的分束器（14）。 分束器s（14）布置在驱动分束器中。 两个复古反射镜（20,26）是固定的。 分束器（14）基本上安装在两个反射器（20,26）的对称平面上。 因此，干涉仪容易制造，并且不响应于周边振动。

公开(公告)号：KR101792775B1

公开(公告)日：2017-11-01

申请号：KR1020137012304

申请日：2011-10-13

Applicant: 알콘 렌즈엑스 인코포레이티드

Inventor： 라크시,페렌스

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02091 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/453 ,  G02B26/0891

Abstract: 수신된광을스펙트럼으로분산하기위한스펙트럼분산광학요소(120), 스펙트럼분산광을조정가능하게편향하기위한레버리지드-옵틱스조정가능한편향기(142-1, 142-2, 142-3), 및스펙트럼분산되고조정가능하게편향된광을수신하기위한검출기어레이(160)를포함하는분광계가제공된다. 수신된광은스펙트럼영역광 간섭단층촬영기에서복귀이미지빔 및기준빔으로부터조합된간섭빔을포함할수 있다. 검출기어레이는선형센서어레이를포함할수 있다. 레버리지드-옵틱스조정가능편향기는조정가능한투과특성또는조정가능한반사특성을구비한광학요소를포함할수 있으며, 상기조정가능한편향기는더 작은광학조정으로광학적으로레버리지되는기계적조정에의해조정가능하다.

Abstract translation: 对所接收的光分散成谱光谱色散光学元件120，用于偏置德杠杆作用使光谱分布射线光学器件的调整可以调整而香味（142-1，142-2，142-3），和 提供了一种光谱仪，其包括用于接收光谱分散和可调节偏置光的探测器阵列（160）。 所接收的光可以包括来自光谱区域光学相干断层扫描中的返回图像光束和参考光束的组合干涉光束。 探测器阵列可以包括线性传感器阵列。 杠杆光学可调偏转器可以包括具有可调节的传输特性或可调节的反射特性的光学元件，可调偏转器可通过机械调节进行调节，光学倾斜与较小的光学调节。

公开(公告)号：KR101321413B1

公开(公告)日：2013-10-22

申请号：KR1020067010382

申请日：2004-09-08

Applicant: 더 제너럴 하스피탈 코포레이션

Inventor： 윤석현 ,  보우마,브레트,유진 ,  티어니,길레모,주니어 ,  보어,요한,피츠제럴드데

IPC: G01J9/02 ,  G01J9/00 ,  G01B9/02 ,  A61B5/00

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: 장치 및 방법이 개시된다. 특히 적어도 하나의 제1 전자기 방사가 하나의 샘플에 제공되며, 또한 적어도 하나의 제2 전자기 방사가 비 반사 기준물에 제공될 수 있다. 제1 및/또는 제2 방사의 주파수는 시간에 따라 변한다. 상기 샘플로부터 복귀된 적어도 하나의 제3 방사와 상기 기준물로부터 복귀된 적어도 하나의 제4 방사 사이의 간섭이 검출된다. 또한 제1 전자기 방사 및/또는 제2 전자기 방사는 시간에 따라 변화하는 스펙트럼을 갖는다. 스펙트럼은 특정 시간에 다수의 주파수들을 가질 수 있다. 또한, 제1 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출할 수 있다. 또한, 제1 편광 상태와는 다른 제2 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출하는 것이 바람직하다. 제1 및/또는 제2 전자기 방사는 밀리 초당 100 테라 헤르츠 이상의 조정 속도에서 시간에 따라 사실상 연속적으로 변화하는 중심 주파수 스펙트럼을 가질 수 있다.
주파수 스위프 소스, 기준 암, 샘플 암, 커플러, 간섭계

公开(公告)号：KR1020120135438A

公开(公告)日：2012-12-13

申请号：KR1020127030191

申请日：2010-01-20

Applicant: 레어 라이트, 인크.

Inventor： 메쎄슈미트로버트지.

IPC: G01J3/44

CPC classification number: G01J3/44 ,  G01J3/433 ,  G01J3/453 ,  G01J2003/104 ,  G01J2003/106

Abstract: 본 발명은 샘플의 스펙트럼 특성을 검출하는 라만 분광 장치에 관한 것으로, 상기 라만 분광 장치는, 전자기 방사선을 이용하여 샘플을 여기시키도록 조정된 다중 변조된 분리형 광원과, 샘플에 의해 방출된 미리 지정된 파장을 분리하도록 조정된 필터로서, 파장은 다룬 주파수로 추가 변조되는 필터와, 분리된 파장을 검출하기 위한 검출기를 포함한다. 장치는 여기 에너지를 변조하도록 조정된 마이컬슨 간섭계와 같은 간섭계를 더 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서의 방법, 시스템 및 키트는 라만 분광 장치를 포함한다.

公开(公告)号：KR1020070038040A

公开(公告)日：2007-04-09

申请号：KR1020067025887

申请日：2005-05-17

Applicant: 세모메테크 에이/에스

Inventor： 아른비다르손,뵈르쿠르 ,  라르센,한스

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/433

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/453 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/0691 ,  G01N2201/129

Abstract: 본 발명은 간섭 정보를 시료의 화학적 또는/및 물리적 특성과 상관시키는 대안 전략을 제공한다. 이 전략은 간섭 분광법에 따른 최신 기술 보다 유리한 실질적인 기술적, 상업적 이점을 제공하는 방법 및 시스템으로 실현된다. 본 발명은 또한 간섭계를 표준화는 방법 및 표준화된 간섭계를 사용한 방법 및 시스템을 제공한다.
시료 판정, 간섭계, 표준화, 변조, 광.

公开(公告)号：KR100354852B1

公开(公告)日：2003-04-21

申请号：KR1019970703780

申请日：1995-12-07

Applicant: 포스 애널리터컬 에이/에스

Inventor： 안데르센한스빌레뫼스

IPC: G01J3/28 ,  G01N21/35 ,  G01J3/45 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/453

Abstract: PCT No. PCT/DK95/00492 Sec. 371 Date May 13, 1997 Sec. 102(e) Date May 13, 1997 PCT Filed Dec. 7, 1995 PCT Pub. No. WO96/18089 PCT Pub. Date Jun. 13, 1996A method is suggested for obtaining information on the electromagnetic spectrum of a sample, the method comprising (a) generating a plurality of substantially identical signals, (b) determining the shape of a first number of the signals by performing a first number of scans of a first range of signal width, (c) determining the shape of a second number of the signals by performing a second number of scans of a second range of signal width, the second range being comprised by the first range and comprising a portion of the first range in which the signals have maximum absolute amplitude, (d) combining data from the first number of scans and the second number of scans so as to obtain data corresponding to the shape of the signals, and (e) performing a mathematical transformation of the combined data so as to obtain the information on the electromagnetic spectrum of the sample. According to this method, the electromagnetic spectrum-and especially an absorption spectrum for use in quantitative analysis of the sample-may be obtained faster than is possible using prior art methods.

Abstract translation: PCT No.PCT / DK95 / 00492 Sec。 371日期1997年5月13日 102（e）日期1997年5月13日PCT申请日1995年12月7日PCT Pub。 WO96 / 18089 PCT Pub。 日期1996年6月13日建议一种用于获得关于样品的电磁谱的信息的方法，该方法包括（a）产生多个基本上相同的信号，（b）通过执行一个或多个信号来确定第一数量的信号的形状 （c）通过执行信号宽度的第二范围的第二扫描次数来确定第二数量的信号的形状，第二范围由第一范围包括，以及 包括其中信号具有最大绝对振幅的第一范围的一部分，（d）组合来自第一扫描数目和第二扫描数目的数据，以便获得对应于信号形状的数据，以及（e） 执行组合数据的数学变换以获得关于样本的电磁波谱的信息。 根据该方法，可以比使用现有技术的方法更快地获得电磁谱（并且尤其是用于定量分析样品的吸收光谱）。