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公开(公告)号:CN102435311B
公开(公告)日:2014-05-07
申请号:CN201110264333.1
申请日:2011-09-07
Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司
Inventor: 潘建根
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0221 , G01J3/18
Abstract: 本发明公开了一种光纤束光谱仪,包括光纤束、色散元件、阵列探测器元件,通过将光纤束的输出端编排成光狭缝,并固定设置在色散元件的入射光路上,直接作为光谱仪的入射狭缝,能大幅减小取样光信号能量损失,大幅提高仪器灵敏度,并因此而降低了仪器的非线性、暗噪声和杂散光误差,具有较高的测量精度以及较快的测量速度。利用二维阵列探测器和光纤束输入端和输出端光纤单元的有序编排,以及多套子光纤束光谱仪的并接,本发明的光纤束光谱仪能够实现二维图像光谱测量和多目的光谱测量,具有无需机械扫描或切换机构、测量速度快、精度高、配置灵活、应用范围广等优点。
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公开(公告)号:CN102636272B
公开(公告)日:2013-11-20
申请号:CN201210079324.X
申请日:2012-03-22
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/18 , G01J11/00 , G01J2003/1861 , G01J2003/451 , G02B19/0095 , G02B27/0988
Abstract: 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置,本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱,利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单,计算速度快的特点,不需要偏振光学元件,减少了入射激光色散,可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲;本发明可进行单次脉冲测量,可用于飞秒激光脉冲的实时监测,获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置,可优化飞秒激光脉冲输出。
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公开(公告)号:CN101641580B
公开(公告)日:2013-09-04
申请号:CN200880000511.6
申请日:2008-06-09
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor: 柴山胜己
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/024 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/18
Abstract: 本发明涉及一种分光器,其在以封装件(3)的内壁面(27、29、28)限制本体部(4)朝背面(4b)的平行方向及垂直方向移动的状态下,以封装件(3)直接支撑分光模块,由此在谋求小型化的情形下,也可确实地支撑分光模块(2),并充分确保封装件(3)的入射口(22a)、分光模块(2)的分光部(6)以及光检测元件(7)彼此的位置精度。另外,通过将导线(23)埋入封装件(3)中并以导线导出部(26)予以导出及支撑,在以引线接合法电连接导线(23)与光检测元件(7)时,可使封装件(3)的导线导出部(26)本身扮演基座的角色,并防止分光模块(2)的破损及移位等。
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公开(公告)号:CN102027342B
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN200980117280.1
申请日:2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/0205 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/04 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G02B7/027 , H01L31/18
Abstract: 本发明提供一种高可靠性的分光模块。在本发明所涉及的分光模块(1)中,向分光部(4)行进的光L1在通过光通过孔(50)的时候,穿过朝着基板(2)侧变得越来越窄的光入射侧部(51),只有入射到以与光入射侧部(51)的底面(51b)相对的形式形成的光出射侧部(52)的光从光出射开口(52a)出射。为此,入射到光入射侧部(51)的侧面(51c)或者底面(51b)的杂散光M被反射到与光出射侧部(52)相反的一侧,所以能够抑制杂散光入射到光出射侧部(52)。因此,能够提高分光模块(1)的可靠性。
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公开(公告)号:CN103180698A
公开(公告)日:2013-06-26
申请号:CN201080069829.7
申请日:2010-10-28
Applicant: 英派尔科技开发有限公司
Inventor: 拉尔夫·穆尓雷森
CPC classification number: G01N21/1702 , G01J3/18 , G01J3/4338
Abstract: 总地描述了一种光声气体传感器、系统和方法。在一些示例中,光声气体传感器包括光栅和操作为波长选择光调制器的MEMS反射镜阵列的组合,以及布置在气体样品区域周围的环形声传感器阵列。所述基于MEMS的光调制器可以适用于提供灵活的波长选择性,使得可以检测到大量的化合物。所述声传感器的环形阵列可以适用于测量光声产生的声信号,而不需要气体传感器的光声单元的谐振增强。在一些示例中,唯一的不相关确定性信号可以用于调制感兴趣的每一个波长。可以使用允许多个光波长的吸收谱的同时测量并且拒绝不想要的声噪声的信号处理。
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公开(公告)号:CN103124914A
公开(公告)日:2013-05-29
申请号:CN201180039490.0
申请日:2011-08-12
Applicant: 宾夕法尼亚州立大学研究基金会
IPC: G02B5/04
CPC classification number: B29D11/00769 , B29D11/00269 , G01J3/0208 , G01J3/18 , G02B1/06 , G02B3/08 , G02B5/1814 , G02B27/4244
Abstract: 本发明的具体实现提供了一种被称为“G-Fresnel”的可同时实现线性光栅和菲涅耳透镜功能的器件。我们使用PDMS软刻蚀技术已经制成了G-Fresnel器件。该器件已用三维表面轮廓测定法检验其质量。我们也通过光学特性表征确认了本器件同时聚焦和色散的双重功能。本G-Fresnel器件可以用于开发微型光谱仪以及新兴的各种光流体应用。我们也提供了用该衍射光学器件制作小型光谱仪的具体实现设计。理论模拟结果表明,毫米级大小的G-Fresnel器件的光谱分辨率可达到约1纳米。实验已经证明一个概念验证性G-Fresnel光谱仪可以达到亚纳米级的光谱分辨率。
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公开(公告)号:CN102841395A
公开(公告)日:2012-12-26
申请号:CN201210214061.9
申请日:2012-06-25
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 尼子淳
CPC classification number: G02B27/4261 , G01J3/0224 , G01J3/18 , G01J3/44 , G02B5/1871 , G02B27/4272
Abstract: 提供了一种透射式衍射光栅及检测装置。该透射式衍射光栅包括:偏振转换层;第一衍射层,配置于偏振转换层的一个表面侧;以及第二衍射层,配置于偏振转换层的另一表面侧。第一衍射层以及第二衍射层都具有沿第一方向以周期P排列的折射率调制结构,并且对TE偏振光分量的衍射效率比对TM偏振光分量的衍射效率高。
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公开(公告)号:CN102834702A
公开(公告)日:2012-12-19
申请号:CN201180016678.3
申请日:2011-03-16
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G01J3/24
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0259 , G01J3/0262 , G01J3/18
Abstract: 在分光模块(1)中,因为除了分光部(4)和光检测元件(5)之外还设有分光部(8)和光检测元件(9),所以相对于宽波长范围的光和不同波长范围的光能够提高检测灵敏度。再有,因为将光通过孔(5b)以及光吸收层(12)设置于光检测部(5a)与光检测部(9a)之间,并以与该光吸收层(12)(即区域(R))相对的方式设置反射部(7),所以能够防止大型化。另外,环境光(ambient light)(La)被光吸收层(12)吸收。于是,即使使环境光(La)的一部分透过光吸收层(12)的区域(R),由于该一部分的光由以与区域(R)相对的方式设置的反射部(7)而被反射到区域(R)侧,所以也能够抑制起因于环境光(La)的入射的杂散光的发生。
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公开(公告)号:CN102538962A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201210015681.X
申请日:2012-01-19
Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司
Inventor: 潘建根
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0237 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 本发明公开了一种低杂散光多色仪,包括光学腔、入射狭缝、色散系统和阵列探测器,色散系统的色散元件为光栅,阵列探测器的光敏面与光栅的主截面倾斜相交。本发明通过改变多色仪内光学器件的相对位置,使阵列探测器的光敏面上因发生非期望反射而产生的杂散光刚好被反射出期望光路,并在光学腔内壁,反射光斑投影的平面上安装消光的小光阑,从而大幅降低了杂散光。
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公开(公告)号:CN102322955A
公开(公告)日:2012-01-18
申请号:CN201110247333.0
申请日:2008-08-13
Applicant: JDS尤尼弗思公司
Inventor: 道格拉斯·E.·克拉夫茨 , 沈锦熙 , 飞利浦·达根 , 詹姆士·F.·法雷尔 , 巴特勒米·方达 , 埃里塞欧·兰奈利
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/18 , G02B6/12019
Abstract: 本发明涉及一种具有探测器阵列的扫描光学光谱仪,其中利用微机电(MEMS)可倾斜微镜扫描在诸如具有平板波导输入的阵列波导光栅(AWG)的色散元件的输入端的光的聚焦光斑的位置,以便在耦合到AWG的探测器阵列上扫描光的色散光谱。用处理器单元连接单个探测器记录的亚光谱以获得输入光的光谱。
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