公开(公告)号：CN107076611A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201580060089.3

申请日：2015-11-05

Applicant: 技术创新动力基金(以色列)有限合伙公司

Inventor： 拉恩·施莱恩 ,  A·雷茨 ,  D·门得洛维奇

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/26 ,  G01J2003/1243

Abstract: 提出用于在重建物体的光谱数据时使用的成像系统和方法。该成像系统包括：光学单元；检测器的像素阵列；以及数据处理器，其用于接收和处理指示由像素阵列检测到的光的图像数据，并生成被成像的物体的重建的光谱数据。光学单元被配置且可操作用于在由像素阵列限定的成像平面上创建输入光场的光学图像的同时对该输入光场施加预定编码。因此，图像数据是预定编码和待确定的物体的光谱的函数。

公开(公告)号：CN105182436B

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201510564325.7

申请日：2015-09-07

Applicant: 南京华图信息技术有限公司

Inventor： 张天序 ,  张宏 ,  费锦东

IPC: G01V8/10

CPC classification number: G01J3/0216 ,  G01C15/002 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2005/0077

Abstract: 本发明公开了一种全光学波段(指：紫外、可见、近红外、中波红外及长波红外)图谱协同探测动目标的装置和方法，包括大视场二维扫描瞄准镜，共孔径主光学系统模块，红外成像成谱光学子系统模块，紫外/可见/近红外成谱和可见近红外成像光学子系统模块，短/中/长波红外测谱模块，中波宽/窄波段成像模块，可见近红外测谱模块，可见近红外成像模块，紫外测谱模块，图谱融合信号处理模块，控制模块及伺服系统。本发明利用中波红外成像及可见近红外成像识别疑似动目标并引导测谱，协同测谱数据完成疑似目标最终识别，解决现有探测装置探测波段不全，光路布局受限，设备体积大，探测动目标和动态变化对象种类少、能力差的难题。

公开(公告)号：CN106404171A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201610920079.9

申请日：2016-10-21

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 许廷发 ,  王茜 ,  张宇寒 ,  徐畅 ,  闫歌 ,  苏楠楠 ,  谭翠媚

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/2823

Abstract: 本发明的提供一种三维编码的液晶高光谱计算成像测量装置，包括前置透镜2、波段选择与分光模块3、空间编码模块4、准直透镜5、面阵探测器6、数据存储模块7、计算重构模块8；该测量仪基于三维编码，对物体的三维光谱数据，包括二维空间信息及一维光谱信息在随机编码信息下进行投影测量，在数据采集阶段即可对高光谱数据进行降维，得到选定中心波长的压缩高光谱数据。与传统的高光谱成像系统相比，本发明不仅在空间上实现了压缩采样，同时在数据采集阶段进行光谱选择，实现数据降维，避免了数据冗余，减少了数据量，提高了信息利用率，便于后端传输、存储。

公开(公告)号：CN104316191B

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201410643707.4

申请日：2014-11-07

Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 ,  成都京东方光电科技有限公司

Inventor： 周丽佳

IPC: G01J3/46 ,  G01B11/00

CPC classification number: G01J3/506 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0289

Abstract: 本发明公开了一种色度测试方法和色度测试设备。所述色度测试方法包括：S1、测量待测试产品的像素的尺寸；S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径；S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。本发明在进行色度测试之前首先对待测试产品的像素的尺寸进行实时测量，然后根据实测信息选择合适的透光孔进行测试，减少了因透光孔选择不恰当而导致的时间的浪费，在保证测试准确性的同时提高了测试效率。

公开(公告)号：CN106289525A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201610571574.3

申请日：2016-07-19

Applicant: 华中科技大学

Inventor： 万助军 ,  占爽 ,  颜世佳 ,  冯冬 ,  罗志祥

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/30 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/30 ,  G01J2003/062 ,  G01J2003/282

Abstract: 本发明公开了一种宽光谱高分辨率的光谱仪，包括步进电机、多孔圆屏、滤光片、狭缝、准直镜、平面反射镜、滤光片阵列、光栅、柱面反射镜、聚焦镜和线阵CCD芯片。本发明将光谱仪工作光谱范围划分为几个子波段，并利用光栅的空分复用技术，将各个子波段的光谱依次投射在线阵CCD芯片上，再根据所有子波段的光谱图拼接出整个工作光谱范围的光谱图，具有结构紧凑、体积较小、造价低等特点，可以有效的增大光谱仪的分辨率和灵敏度，实现宽光谱高分辨率的光谱测量。

公开(公告)号：CN106104202A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201580013650.2

申请日：2015-03-20

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 阿姆农·玛纳森 ,  安迪(安德鲁)·希尔 ,  阿维·阿布拉莫夫

IPC: G01B11/25

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01J1/0228 ,  G01J3/02 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/47 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N21/95623 ,  G01N2021/8848 ,  G01N2201/06 ,  G03F7/70633

Abstract: 提供进行以下操作的方法及系统：相对于光谱范围及/或偏振而图案化计量目标的照明；用所述经图案化照明来照明计量目标；及通过在光瞳平面处将选定光瞳平面像素引导到相应单检测器而测量从所述目标散射的辐射，所述引导是通过将收集图案应用于所述光瞳平面像素而进行。单检测器测量(压缩感测)具有经增加光敏感性，其用于图案化所述照明且相对于预定义计量参数进一步增强所检测到的经散射辐射的信息量。

公开(公告)号：CN103688156B

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201280035483.8

申请日：2012-06-12

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 尚卡尔·克里斯南 ,  海明·王

IPC: G01N21/25 ,  G01B11/24 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01B11/065 ,  G01B2210/56 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/42 ,  G01N21/00 ,  G01N21/211 ,  G01N2021/213 ,  G01N2021/214 ,  G01N2201/0675

Abstract: 一种用于在衬底上进行多波长、多方位、多入射角读取的光谱仪器，所述仪器具有：宽带光源，其用于产生照射光束；物镜，其用于同时以多个方位角及多个入射角将所述照射引导到所述衬底上，借此产生反射光束；孔口板，其具有形成于其中的照射孔口及多个收集孔口，用于选择性地使所述反射光束的具有方位角与入射角的所要离散组合的部分通过；检测器，其用于接收方位角与入射角的所述离散组合并产生读数；及处理器，其用于解释所述读数。

公开(公告)号：CN103308169B

公开(公告)日：2016-09-14

申请号：CN201310156285.3

申请日：2013-03-08

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 上条直裕 ,  新保晃平 ,  窪田阳一 ,  瀬尾学

IPC: G01J3/42 ,  G03G15/01 ,  G02B26/10

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J3/24 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/503 ,  G03G15/00 ,  G03G15/5062

Abstract: 一种光谱仪，包括将光束投射至目标物的光源；包括多个孔径的光学元件，其中被目标物反射的光束传输通过该孔径；用于从传输通过该光学元件的多个光束中形成衍射图像的衍射元件；和光接收元件，用于接收由衍射元件形成的衍射图像，且包括以遮蔽除了特定级数衍射图像以外的衍射图像的光学屏蔽。

公开(公告)号：CN104145177B

公开(公告)日：2016-07-06

申请号：CN201380011702.3

申请日：2013-02-27

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01J3/453 ,  G01N21/45 ,  G01N21/49 ,  A61B5/145 ,  A61B5/1455

CPC classification number: A61B5/1455 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/6887 ,  A61B5/7257 ,  A61B2562/0233 ,  G01B9/02041 ,  G01B9/02049 ,  G01B9/0207 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4532 ,  G01J3/4535 ,  G01J2003/102 ,  G01J2003/4538 ,  G01N21/255 ,  G01N21/359 ,  G01N21/45 ,  G01N21/49 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/0612

Abstract: 本发明使从测量对象发出的测量光入射到固定反射镜部和可动反射镜部，形成被上述固定反射镜部反射的测量光与被上述可动反射镜部反射的测量光的干渉光。此时，通过使上述可动反射镜部进行移动来获得测量光的干渉光强度变化，基于该变化求出测量光的干涉图。另外，同时使作为测量光的波长频带的一部分的窄频带的波长的参考光入射到上述固定反射镜部和上述可动反射镜部，形成被该固定反射镜部反射的参考光与被该可动反射镜部反射的参考光的干涉光。此时，使上述可动反射镜部进行移动，由此基于参考光的干渉光强度变化的振幅以及上述测量光中的同上述参考光相同波长的测量光与上述参考光的相位差来校正上述测量光的干涉图，基于校正后的干涉图来求出上述测量光的光谱。

公开(公告)号：CN102478429B

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201110262087.6

申请日：2011-09-06

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 舟本达昭

IPC: G01J3/00 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/32

Abstract: 本发明提供一种分光测量装置，该分光测量装置包括：发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯；发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED；将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器；让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具；接收透过标准具的光的光接收部；转换可透过标准具的光波长，并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。