Abstract:
광학 측정 시스템(100)은 내벽에 반사 표면(110a)을 갖고 제1 윈도우(132)를 갖는 적분구(110)를 포함한다. 광학 측정 시스템은 적분구의 실질적 중심 위치에 광원을 지지하기 위한 지지 부재(120), 및 지지 부재에 의해 지지되는 광원과 제1 윈도우를 연결하는 라인 상에 배열되는 제1 배플(136)을 더 포함한다. 지지 부재는 광원에 대해 제1 윈도우의 반대편 영역에서 적분구의 내벽에 연결된다.
Abstract:
미러(3)에는 반구부(1)의 내면측과 외부측 사이를 연통 가능한, 광원창(2) 및 조명창(4)이 형성된다. 광원창(2)은 주로 피측정 광원(OBJ)을 장착하기 위한 개구이다. 조명창(4)은 자기 흡수를 측정하기 위해 사용되는 보정 광원(9)으로부터의 광속을 반구부(1)의 내면을 향해 조사하기 위한 개구이다. 피측정 광원(OBJ)의 자기 흡수 보정 계수는 광원창(2)에 비발광 상태의 피측정 광원(OBJ)이 장착된 경우에, 보정 광속에 의해 발생하는 조도와, 광원창(2)에 교정용 미러가 장착된 경우에, 보정 광속에 의해 발생하는 조도를 기초로 하여 산출된다. 미러, 광원창, 조명창, 반구부, 보정 광원
Abstract:
광빔의 강도 특성을 측정하는 시스템 및 방법이 개시된다. 본 발명의 방법은, 2개의 투명한 판에 의해 끼여 있는 얇은 프리즘을 포함하는 프리즘 어셈블리 안으로 광빔을 조향하는 단계; 광빔의 일부를 내부 전반사에 의해 통합 구체로 반사하고, 광빔의 나머지 부분을 2개의 투명한 판을 통과하여 빔 덤프로 전송하는 단계를 포함한다. 또한 이 방법은, 통합 구체에 의해 캡처된 상기 광빔의 일부를 검출하는 단계; 및 검출된 광빔으로부터 광빔의 강도 특성을 결정하는 단계를 포함한다.
Abstract:
양자 효율 측정 방법은, 적분 공간을 갖는 적분기 내의 소정 위치에 시료를 배치하는 스텝(S10)과, 여기광을 시료에 조사하는 동시에, 제2 창을 통해 적분 공간 내의 스펙트럼을 제1 스펙트럼으로서 측정하는 스텝(S12)과, 여기광 입사 부분을 시료를 투과 후의 여기광이 적분 공간 내로 반사되지 않도록 구성하는 스텝(S20)과, 여기광을 시료에 조사하는 동시에, 제2 창을 통해 적분 공간 내의 스펙트럼을 제2 스펙트럼으로서 측정하는 스텝(S22)과, 제1 스펙트럼 중 여기광의 파장 범위에 대응하는 성분과, 제2 스펙트럼 중 여기광을 받아 시료가 발하는 광의 파장 범위에 대응하는 성분에 기초하여, 시료의 양자 효율을 산출하는 스텝(S40, S42, S46)을 포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A light velocity measuring apparatus and a light velocity measuring method for measuring the entire light velocity are provided to have compact structure and accurately measure the entire light velocity. CONSTITUTION: A light velocity measuring apparatus for measuring the entire light velocity comprises a main body(20), an integrating unit(10), a relative moving unit, a measuring unit, and a processing unit(50). The main body is formed to mount an object, a bar-shaped luminous body, thereon. The integrating unit has first and second holes. The relative moving unit relatively moves the objects and the integrating unit. The measuring unit measures the luminous intensity inside the integrating unit.
Abstract:
The invention relates to a system for measuring light transmission and/or light reflection properties of a transparent sample sheet (S), the system comprising a detection assembly and a control unit (10), wherein the detection assembly comprises an integrating sphere (1) having a sample port (2), an illumination port, a detection port, an internal light source (4) positioned at the illumination port, and a photodetector (3) coupled to a spectrometer and positioned at the detection port; means to detect radiation coming either directly from the sample port or from the wall of the integrating sphere or both directly from the sample port and from the wall of the integrating sphere, e.g. movable baffle (8); an external light source (5) or a transmittance detector axially aligned with the sample port; means to illuminate with the internal light source or with the external light source if present or with no light source; a reference standard (9), and means to position it at and from the sample port. This system is relatively compact, and can advantageously be used at existing sheet production lines for process and quality control. The invention also relates to a method for measuring light transmission and/or light reflection properties of a transparent sample sheet that applies said system; and to processes of making a sheet, especially an AR-coated glass sheet, comprising said method.
Abstract:
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung, mit der, insbesondere für wissenschaftliche Zwecke oder Zwecke der Qualitätsprüfung, eine Fläche besonders gleichmäßig ausgeleuchtet werden kann. Genauer geht es um eine Beleuchtungseinrichtung zur homogenen Ausleuchtung eines Objekts, welche eine Homogenisierungseinrichtung (10) umfasst und zur Verbindung mit einer Lichtquelle geeignet ist, wobei die Homogenisierungsvorrichtung (10) eine Eintrittsöffnung (12), eine hinter der Eintrittsöffnung (12) angeordnete Eintrittskammer (16), eine Zwischenkammer (18), eine Austrittskammer (20) und eine hinter der Austrittskammer (20) angeordnete Austrittsöffnung (22) aufweist und die Eintrittskammer (1 6), die Zwischenkammer (18) und die Austrittskammer (20) jeweils eine Außenfläche (26) und eine Innenfläche (24) aufweisen und sich die Eintrittskammer (16) entlang einer ersten Hauptachse (H1) erstreckt und sich die Austrittskammer (20) entlang einer zweiten Hauptachse (H2) erstreckt, und eine im Bereich der Eintrittsöffnung (12) angeordnete Lichtquelle Licht durch die Eintrittskammer (16), die Zwischenkammer (18), die Austrittskammer (20) und die Austrittsöffnung (22) auf ein auszuleuchtendes Objekt senden kann, dadurch gekennzeichnet dass kein Lichtstrahl entlang einer Geraden von einem Punkt der Eintrittsöffnung (12) zu einem Punkt der Austrittsöffnung (22) gelangen kann und dass jeweils mindestens die Innenfläche (24) der Eintrittskammer (16), der Zwischenkammer (18) und der Austrittskammer (20) in jeweils mindestens einem ersten Bereich diffus reflektierend sind, so dass ein an einer dieser Innenflächen (24) reflektierter Lichtstrahl, welcher einfallend eine erste Referenzfläche (R1) mit einer ersten Bestrahlungsstärke ausleuchtet, ausfallend eine zweite Referenzfläche (R2) gleicher Größe mit einer zweiten Bestrahlungsstärke ausleuchtet, welche mindestens um einen Faktor 3 geringer ist als die erste Bestrahlungsstärke, wenn beide Referenzflächen (R1, R2) im Abstand von 10 Millimetern zum Reflexionspunkt (P) positioniert sind.