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公开(公告)号：WO2014087380A1
公开(公告)日：2014-06-12
申请号：PCT/IB2013/060686
申请日：2013-12-05
Applicant: GENEPOC INC. , UNIVERSITÉ LAVAL
Inventor： LEMIEUX, Hugo , CHAPDELAINE, Sébastien , BÉLIVEAU-VIEL, David , GRAVEL, Jean-François
CPC classification number: G01N21/6486 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/443 , G01J2003/102 , G01N21/6408 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/763 , G01N2021/6419 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/061
Abstract: An interrogation device for detecting luminescent light produced by analytes in a sample excited by multiple excitation light beams each having individual spectral contents, comprising a plurality of light sources each generating an excitation light beam; at least one detector for detecting the luminescent light produced by the sample; and an optical assembly defining distinct and fixed excitation light paths for each of the excitation light beams from the light sources to a common excitation site on the sample and defining a shared luminescence light path for the luminescent light from the excitation site on sample to the at least one detector, the excitation light paths and the luminescence light path being on a same side of the sample, the optical assembly including sample-side optics projecting the excitation light towards the sample and collecting luminescent light from the sample.
Abstract translation: 一种用于检测由各自具有各个光谱内容的多个激发光束激发的样品中的被分析物产生的发光光的询问装置，包括多个光源，每个光源产生激发光束; 用于检测由样品产生的发光的至少一个检测器; 以及光学组件，其为从光源到样品上的共同激发位置的每个激发光束定义不同且固定的激发光路径，并且限定用于从样品上的激发位点到该位置的发光的共享发光光路 至少一个检测器，激发光路径和发光光路位于样品的同一侧，光学组件包括样品侧光学器件，将激发光投射到样品并收集来自样品的发光。
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公开(公告)号：WO2014031591A1
公开(公告)日：2014-02-27
申请号：PCT/US2013/055706
申请日：2013-08-20
Applicant: SACKETT, Donald, W.
Inventor： SACKETT, Donald, W.
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/44 , G01J3/443 , G01J2003/102
Abstract: A dual source system and method includes a high power laser to determine elements in a sample and a lower power device to determine compounds present in the sample. An optical subsystem directs photons from the sample to a detector subsystem after laser energy from the high powered laser strikes the sample and after energy from the lower powered device strikes trie sample along the same optical path. The detector subsystem receives photons via the optical subsystem from the sample after laser energy from the high power laser strikes the sample and provides a first signal and after energy from the lower powered device strikes the sample and provides a second signal. A controller sJbsystem pulses the high power laser and process the first signal to determine elements present in the sample and energizes the lower power device and process the second signal to determine compounds present in the signal.
Abstract translation: 双源系统和方法包括用于确定样品中的元素的高功率激光器和用于确定样品中存在的化合物的较低功率器件。 光学子系统将来自高功率激光的激光能量照射到样品上并且在来自较低功率的装置的能量之后沿着相同的光路撞击特里斯样品时，将光子从样品引导到检测器子系统。 检测器子系统通过来自大功率激光器的激光能量从样品接收光子，并提供第一信号，并且来自较低功率的器件的能量撞击样品并提供第二信号。 控制器sJbsystem脉冲高功率激光器并处理第一信号以确定样品中存在的元件，并激励下功率器件并处理第二信号以确定信号中存在的化合物。
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公开(公告)号：WO2014002364A1
公开(公告)日：2014-01-03
申请号：PCT/JP2013/003077
申请日：2013-05-14
Applicant: パナソニック株式会社
IPC: G01N21/67
Abstract: 液体１０９を入れることができ、かつ少なくとも一部が光学的に透明である処理槽１０８と、処理層内に配置された、絶縁体１０３に被覆された第１の電極１０４と、第２の電極１０２と、第１の電極１０４の処理槽１０８内に位置する表面のうち、少なくとも導電体が露出している表面が気泡１０６内に位置するように、気泡を発生させる気泡発生部と、気泡１０６を発生させるのに必要な量の気体を処理槽の外部から気泡発生部に供給する気体供給装置１０５と、第１の電極１０４と第２の電極１０２との間に電圧を印加する電源１０１と、電圧を印加した際に発生するプラズマの発光スペクトルを測定する光検出装置１１０と、を有する元素分析装置は、光検出装置１１０が測定した発光スペクトルから、液体１０９に含まれる成分の定性または定量分析を実施する。
Abstract translation: 提供了一种用于液体样品的元素分析装置，包括：处理罐（108），可以放置液体（109），并且其中至少一个部分是光学透明的; 第一电极（104），其布置在处理层内并被绝缘体（103）覆盖; 第二电极（102）; 用于产生气泡的气泡发生器，使得从位于处理槽（108）内部的第一电极（104）的表面至少在其上暴露导体的表面位于气泡（106）的内部， ; 供应装置（105），其将从所述处理罐的外部产生所述气泡（106）所需的空气量提供给所述气泡发生器; 电源（101），其在所述第一电极（104）和所述第二电极（102）之间施加电压; 以及光检测装置（110），其测量施加电压时产生的等离子体的发光光谱。 光检测装置（110）根据测量的发光光谱对液体（109）中所含的成分进行定性或定量分析。
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公开(公告)号：WO2013105879A2
公开(公告)日：2013-07-18
申请号：PCT/RU2012/001118
申请日：2012-12-26
Abstract: Предлагаемый способ относится к области технической физики, в частности к спектральным методам определения элементного состава жидких сред с использованием электрического разряда в жидкости в качестве источника спектров. Способ может быть реализован в устройствах для определения элементного состава жидких сред. Область применения - в системах водоподготовки на предприятиях водоснабжения населенных пунктов, в атомной и тепловой энергетике, химической промышленности, в технологическом процессе пищевой промышленности для контроля качества воды, в экологическом мониторинге объектов окружающей среды и в других областях. Техническим результатом изобретения является повышение стабильности и воспроизводимости результатов измерения, а также надежности долговременной работы устройства.
Abstract translation: 所提出的方法涉及工程物理学领域，特别涉及使用液体中的放电作为光谱来确定液体介质的元素组成的光谱方法。 该方法可以用于确定液体介质的元素组成的装置中。 使用范围：在原料和火力发电工程，化工行业，用于监测食品工业水质的技术过程中，向居民区供水的公司的水处理系统，在自然生态监测中 环境和其他领域。 本发明的技术结果是测量结果的稳定性和再现性以及装置的可靠的长期功能的增加。
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公开(公告)号：WO2012036137A1
公开(公告)日：2012-03-22
申请号：PCT/JP2011/070773
申请日：2011-09-12
Applicant: イマジニアリング株式会社 , 池田 裕二
Inventor： 池田 裕二
CPC classification number: G01N21/73 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0294 , G01J3/443 , G01N21/68 , G01N21/718
Abstract: 分析装置は、プラズマ生成装置と光分析装置とを備えている。プラズマ生成装置は、分析対象物質にエネルギーを瞬間的に与えて分析対象物質をプラズマ状態にした初期プラズマを生成し、初期プラズマに電磁波を所定の時間に亘って照射してプラズマ状態を維持する。そして、光分析装置が、初期プラズマの発光強度のピークから、電磁波により維持される電磁波プラズマにより発光強度が増加して概ね一定値に達するまでの発光強度に関する情報、又は電磁波の照射を停止した後の発光強度の情報を用いて分析対象物質を同定する。
Abstract translation: 分析装置具有等离子体产生装置和光度分析装置。 等离子体产生装置瞬时激发要分析的物质，并产生其中待分析物体处于等离子体状态的初始等离子体，并且通过在预定时间段内对初始等离子体进行电磁波维持等离子体状态。 然后，光度分析装置使用来自初始等离子体的发光强度的峰值的信息来识别待分析对象，所述信息是与由于由于由电磁波等离子体维持的发射强度增加而发射强度相关的发射强度的信息 电磁波直到发射强度达到基本上恒定的值，或者暴露于电磁波之后的发射强度信息被暂停。
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Patent Agency Ranking126.发明申请A METHOD FOR MEASURING BULK IMPURITIES OF SEMICONDUCTOR MATERIALS USING EDGE - ON PHOTOLUMINESCENCE 审中-公开使用边缘测量半导体材料的体积变化的方法 - 光电子学
公开(公告)号：WO2011153410A1
公开(公告)日：2011-12-08
申请号：PCT/US2011/039028
申请日：2011-06-03
Applicant: HEMLOCK SEMICONDUCTOR CORPORATION , KRESZOWSKI, Doug , HADD, John, W.
Inventor： KRESZOWSKI, Doug , HADD, John, W.
CPC classification number: G01N21/9505 , G01J3/443 , G01N21/6489 , G01N21/94 , G01N21/9501 , G01N21/9503
Abstract: Provided are photoluminescence spectroscopy systems and methods for identifying and quantifying impurities in a semiconductor sample. In some embodiments, the systems and methods comprise a defocused collimated laser beam illuminating a first sample surface, and collection by a collection lens of photoluminescence from a sample edge at the intersection of the first surface with a substantially orthogonal second surface, wherein the first sample surface is oriented from about 0° to 90° with respect to a position parallel to the collection lens.
Abstract translation: 提供了用于鉴定和定量半导体样品中的杂质的光致发光光谱系统和方法。 在一些实施例中，系统和方法包括照亮第一样品表面的散焦的准直激光束，并且在第一表面与基本上正交的第二表面的交叉处从采样边缘收集光致发光的收集透镜，其中第一样品 表面相对于与收集透镜平行的位置从约0°至90°取向。
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127.发明申请METHODS FOR FORMING RECOGNITION ALGORITHMS FOR LASER-INDUCED BREAKDOWN SPECTROSCOPY 审中-公开用于形成激光诱导断裂光谱的识别算法的方法
公开(公告)号：WO2011126681A2
公开(公告)日：2011-10-13
申请号：PCT/US2011/028453
申请日：2011-03-15
Inventor： MULTARI, Rosalie, A. , CREMERS, David, A.
CPC classification number: G01N21/718 , G01J3/28 , G01J3/443 , G01N2201/129
Abstract: In one embodiment, a method for forming a recognition algorithm for laser- induced breakdown spectroscopy may include: determining a most mathematically different dataset of a plurality of spectral datasets corresponding to materials; dividing the spectral datasets into model development datasets and performance evaluation datasets; transforming, automatically with a processor, one of the model development datasets into a first discrimination model that discriminates the first spectra; removing the first spectra from the model development datasets to yield a subset of development datasets; determining a next most mathematically different spectral dataset of the spectral datasets; transforming the subset of development datasets into a second discrimination model that discriminates the second spectra; and combining the first discrimination model and the second discrimination model to form the recognition algorithm for laser- induced breakdown spectroscopy.
Abstract translation: 在一个实施例中，用于形成用于激光诱导击穿光谱的识别算法的方法可以包括：确定与材料相对应的多个光谱数据集的最数学上不同的数据集; 将频谱数据集划分为模型开发数据集和性能评估数据集; 将处理器自动地将模型开发数据集之一变换为区分第一光谱的第一辨别模型; 从模型开发数据集中删除第一个光谱，以产生开发数据集的子集; 确定光谱数据集的下一个最数学上不同的光谱数据集; 将开发数据集的子集转换为区分第二光谱的第二鉴别模型; 并且组合第一辨别模型和第二辨别模型以形成用于激光诱导击穿光谱的识别算法。
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公开(公告)号：WO2010084956A1
公开(公告)日：2010-07-29
申请号：PCT/JP2010/050814
申请日：2010-01-22
Applicant: 独立行政法人産業技術総合研究所 , 株式会社オプトリサーチ , オーケーラボ有限会社 , 日清紡ホールディングス株式会社 , 山下電装株式会社 , 猪狩 真一 , 菊池 一彦 , 大木 孝一 , 下斗米 光博 , 武田 俊輔
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/443 , G01J1/4257 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/36 , G01J11/00 , G01J2001/4238 , G01J2001/4247 , H02S50/10
Abstract: ソーラシミュレータの分光放射特性を正確に測定すると共に、光源ランプとその点灯回路の診断機能をも併せ持った標準分光放射計を提供する。パルス点灯型ソーラシミュレータ（２）から放射された閃光を複数の光ファイバ（７１）～（７５）によって分岐伝導し、伝導された閃光をそれぞれの分光器（８１）～（８５）で分光し、分光された分光光をそれぞれ検出する第１の光検知手段（９１）～（９５）を備える標準分光放射計において、ソーラシミュレータ（２）から放射された閃光を検知する第２の光検知手段（１０）と、第２の光検知手段（１０）によって検知された検出電圧と閾値基準電圧とを比較し、前記検出電圧が前記閾値基準電圧以上になったとき判別信号を出力する閾値判別回路（１３）と、前記判別信号を入力して測定開始信号を出力する遅延時間発生回路（１４）を備え、各第１の光検知手段（９１）～（９５）は前記測定開始信号を入力すると検知を行うことを特徴とする標準分光放射計である。
Abstract translation: 提供了一种准确地测量太阳能模拟器的光谱辐射特性的标准光谱辐射计，并且具有诊断光源灯及其照明电路的功能。 在设置有第一光检测装置（91-95）的标准分光辐射计中，从脉冲照明太阳模拟器（2）发射的手电筒被分离并通过多根光纤（71-75）传导，传导手电筒通过相应的 分光器（81-85），并通过各自的第一光检测装置（91-95）检测由色散获得的光谱光。 标准光谱辐射计的特征在于设置有用于检测从太阳模拟器（2）发射的手电筒的第二光检测装置（10），用于比较由第二光检测装置（10）检测的检测电压的阈值确定电路 ）和阈值参考电压，并且当检测到的电压高于或等于阈值参考电压时输出确定信号;以及延迟时间生成电路（14），用于接收确定信号并输出测量开始信号，其中， 第一光检测装置（91-95）在接收到测量开始信号时开始检测。
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公开(公告)号：WO2010061069A1
公开(公告)日：2010-06-03
申请号：PCT/FR2009/001272
申请日：2009-11-03
Applicant: BERTIN TECHNOLOGIES , SENAC Stéphane
Inventor： SENAC Stéphane
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01N21/718 , G01N2201/0221
Abstract: Dispositif d'analyse de matériaux par spectroscopie de plasma, du type portable et autonome, comprenant un boîtier (10) contenant un générateur laser (18) émettant des impulsions laser qui sont focalisées sur la surface d'un matériau à analyser par un miroir parabolique (32) déplaçable en translation dans le boîtier pour effectuer une série de mesures ponctuelles sur une ligne de balayage de la surface du matériau à analyser et pour une mesure sur un échantillon de calibration (50) monté dans l'embout de mesure (22) du boîtier (10).
Abstract translation: 本发明涉及一种用于通过等离子体光谱法分析材料的装置，其类型是便携式且独立的，并且包括包含激光发生器（18）的壳体（10），所述激光发生器（18）产生聚焦在材料表面上的激光脉冲 通过能够在壳体中平移的抛物面镜（32）进行分析，以便沿着要分析的材料的表面上的扫描线执行一系列点测量，并且对安装在 壳体（10）的测量端部（22）。
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公开(公告)号：WO2009137494A1
公开(公告)日：2009-11-12
申请号：PCT/US2009/042862
申请日：2009-05-05
Applicant: APPLIED SPECTRA, INC. , YOO, Jong, Hyun , TRIBE, Randolph, S. , LIU, Chunyi
Inventor： YOO, Jong, Hyun , TRIBE, Randolph, S. , LIU, Chunyi
IPC: G01J3/00
CPC classification number: H01J49/0463 , B23K26/03 , B23K26/048 , B23K26/0861 , G01J3/443 , G01N21/718
Abstract: Provided is a laser ablation spectroscopy apparatus and method. A pulse laser focused on the sample site to generate a plasma plume dunng a laser ablation process. The plasma plume is detected with a spectrometer and an intensified charge coupled device. A sample of matenal is coupled to a stage movable in three axes using an array of x-y-z motors. A change in the sample height is detected using a tπangulation sensor. The apparatus includes a system computer for synchronizing the movement of the stage in all directions dunng the laser ablation process. The method includes a protocol of generating one or more laser ablations per sample site. The spectral data of the total number of laser ablations for each sample site are averaged together. The protocol includes laser ablating additional sample sites and averaging the spectral data of the total number of sample sites
Abstract translation: 提供了一种激光烧蚀光谱仪和方法。 脉冲激光聚焦在样品位点以产生激光烧蚀过程中的等离子体羽流。 用光谱仪和强化的电荷耦合器件检测等离子体羽流。 使用x-y-z电动机的阵列，将三角形的样品联接到可在三个轴上移动的台。 使用tpangulation传感器检测样品高度的变化。 该装置包括一个系统计算机，用于在激光烧蚀过程中同步舞台在所有方向上的移动。 该方法包括每个样本位点产生一个或多个激光消融的协议。 将每个样品位点的激光烧蚀总数的光谱数据一起平均。 该协议包括激光烧蚀附加样品位点并平均样品总数的光谱数据
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