公开(公告)号：CN108731806A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201810188793.2

申请日：2018-03-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 白瓒郁 ,  金材官 ,  宋炳权 ,  梁基延 ,  李在崇 ,  李政烨 ,  赵庆相

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/021 ,  F21V7/22 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/26 ,  G01J2003/1861 ,  G02B5/1809 ,  G02B5/1866 ,  G02B5/20 ,  G02B5/203 ,  G02B27/4272 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259

Abstract: 本发明涉及光学滤波器、光谱仪和光学设备。光学滤波器可包括第一反射器和第二反射器。第一反射器可包括具有第一亚波长尺寸并且布置成在第一方向上以第一间隔再现的多个第一光栅。第二反射器可与所述第一反射器隔开，包括具有第二亚波长尺寸并且布置成在平行于所述第一方向的方向上以第二间隔再现的多个第二光栅。所述第一反射器和所述第二反射器包括彼此不同的材料或不同的几何结构。因此，容易调整光学滤波器的透射波长特性。

公开(公告)号：CN105358948B

公开(公告)日：2018-05-29

申请号：CN201480036090.8

申请日：2014-06-25

Applicant: 诺瓦硅镁产品有限公司

Inventor： 毛里齐奥·巴尔迪

IPC: G01J3/50 ,  G01J3/28 ,  B07C5/342 ,  B28B17/00 ,  G01N21/898

CPC classification number: G01J3/501 ,  B07C5/342 ,  B28B17/0072 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/104 ,  G01N21/8903 ,  G01N2021/1776

Abstract: 本发明涉及一种用于扫描一片瓷砖彩色表面(2)的方法及一种实施该方法的装置。所述用于扫描一片瓷砖(3)彩色表面(2)的装置(1)包括光电探测器矩阵(4)，所述光电探测器矩阵(4)包括多排平行并排放置的光电探测器(5)但不包括光电探测器(4)上面的任何颜色滤光器，多排光电探测器(5)彼此靠近且仅间隔至少一个像素的距离；如此设置光检测器矩阵(4)以便与扫描时间间隔同步地获取瓷砖(3)待扫描彩色表面(2)的一个表面带(6)的图像。所述装置还包括：多个灯具(7)，每个灯具(7)都具有不同发光光谱；所设置的灯具(7)用于照亮所述瓷砖(3)待扫描的彩色表面(2)的表面带(6)，每隔一定的扫描时间一次至少可以打开一只所述灯具(7)；用于静止地接收和传送所述待扫描瓷砖(3)的输送装置(8)，一方面输送装置用于确定瓷砖(3)与光电检测器矩阵(4)和多个灯具(7)间的相对运动，另一方面输送装置在运动方向上垂直于多排光电探测器(5)，这样可以采集瓷砖(3)待扫描彩色表面(2)每个表面带(6)的预定数量的图像。

公开(公告)号：CN107884068A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201710826607.9

申请日：2017-09-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 元珍喜 ,  李在晟 ,  崔钟敏 ,  金兑澔 ,  朴正敏

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/44

CPC classification number: G01J3/027 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/0082 ,  A61B5/443 ,  A61B5/6898 ,  A61B5/7445 ,  A61B2576/00 ,  G01B11/14 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/10 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/31 ,  G01N2201/0221 ,  H04M1/72519 ,  H04M1/72522 ,  H04M2250/12 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/42 ,  G01J3/4412 ,  G01J2003/425

Abstract: 公开了一种电子设备，包括：壳体；壳体内的显示器，通过壳体的表面露出；壳体内的发光单元和光接收单元；以及与显示器、发光单元和光接收单元电耦合的处理器。发光单元包括用于输出至少一个波长带的光的至少一个光源。光接收单元包括用于接收该至少一个波长带的光的至少一个区域。处理器被配置为基于至少一种模式来控制发光单元和/或光接收单元的功能。还公开了其他实施例。

公开(公告)号：CN107806898A

公开(公告)日：2018-03-16

申请号：CN201710807755.6

申请日：2017-09-08

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 井上展幸 ,  永嶌拓

IPC: G01D21/02 ,  G01D3/036

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/2876 ,  G01N21/274 ,  G01N21/359 ,  G01D21/02 ,  G01D3/036

Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。

公开(公告)号：CN107687898A

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201710945290.0

申请日：2017-10-12

Applicant: 中国电子科技集团公司第三十四研究所

Inventor： 韦佳天 ,  张新立 ,  吕宏伟 ,  许党朋 ,  陈峰 ,  赵灏 ,  田小程 ,  宗兆玉

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2803

Abstract: 本发明为一种窄带激光脉冲光谱检测装置及检测方法，本装置光纤耦合器将监测光分为两束，一束直接进入A光电探测器，另一束则经环形器被窄带光纤光栅反射再进入B光电探测器，比较器比较两个光电探测器的输入，直接判断窄带激光脉冲有否展宽。本方法先分别接入已知的光谱无展宽和有展宽的窄带激光脉冲，调节温度控制模块和分压电路，使比较器在光谱展宽的窄带激光脉冲输入下输出判断脉冲，在光谱无展宽状态下不输出判断脉冲，此后保持温度控制模块和分压电路的状态，接入待测的窄带激光脉冲，根据比较器输出的判断脉冲，确定其是否为有效展宽的窄带激光脉冲。本发明迅速准确判断窄带激光脉冲是否有效展宽，保证高功率激光系统的安全运行。

公开(公告)号：CN104969043B

公开(公告)日：2017-12-22

申请号：CN201380070167.9

申请日：2013-11-12

Applicant: 康宁股份有限公司

Inventor： L·E·I·康斯托克二世 ,  R·L·威金斯 ,  K·S·伍达得

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/04 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/04 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/042 ,  G01J2003/045 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/2826 ,  H04N5/347 ,  H04N9/04

Abstract: 本文中描述了用于提供远程目标(例如，感兴趣的场景(104))的一区域的高光谱图像的高光谱成像系统(100a)和方法。在一个方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件(106)、可旋转的盘(202)(其具有形成在其中的至少一个螺旋狭缝(204))、光谱仪(110)、二维图像传感器(112)和控制器(114)。在另一个方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的盘(其具有形成在其中的多个直缝)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。在又一方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的鼓(其具有形成在其外表面上的多个狭缝以及位于其中的折叠镜)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。

公开(公告)号：CN107490433A

公开(公告)日：2017-12-19

申请号：CN201710239986.1

申请日：2017-04-13

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 迟明波 ,  吴一辉 ,  郝鹏 ,  周文超

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 本发明基于光栅光谱仪的光谱定标方法及光栅光谱仪，光栅光谱仪结构可以包括元素谱线灯、准直镜、角位移平台、位于所述角位移平台上的扫描光栅、聚焦镜以及成像装置，由所述元素谱线灯发出的光信号经过所述准直镜准直后以第一入射角照射到所述扫描光栅，经过所述扫描光栅衍射的衍射光信号经由聚焦镜成像于所述成像装置，根据光栅方程，通过角位移平台转动光栅，导致光栅平面法线的转动，改变第一入射角i与衍射角θ，从而改变探测器像元上的波长范围，基于该原理可以实现光栅波长扫描，进而实现宽范围、高分辨率的光谱测量，所需专业辅助设备少，操作简便，光谱定标精度高，定标速度快，易于维护。

公开(公告)号：CN107340059A

公开(公告)日：2017-11-10

申请号：CN201710597754.3

申请日：2017-07-20

Applicant: 集礼(上海)国际贸易有限公司

Inventor： 郭郴

IPC: G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J2003/2806

Abstract: 本发明提供了太阳光测试系统和方法，包括：第一光发生器、第二光发生器、光源滤波器、第一光接收器、第二光接收器和控制器；第一光发生器用于发出可见光和紫外光；光源滤波器用于将可见光和紫外光进行滤波，得到滤波的可见光和滤波的紫外光；第二光接收器用于将滤波的可见光和滤波的紫外光分别进行转换，得到第一电压值和第二电压值；第二光发生器用于发出红外光和反射光；第一光接收器用于将红外光和反射光分别进行转换，得到第三电压值和第四电压值；控制器用于根据原始数据值对各个电压值进行计算，得到可见光、紫外光、红外光和反射光的反射率和透过率，可以将光学原理中光谱透射和反射相结合，满足光学介质的完整性能检测。

公开(公告)号：CN103727880B

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。

公开(公告)号：CN103797356B

公开(公告)日：2017-09-05

申请号：CN201280043375.5

申请日：2012-09-12

Applicant: 索尼公司

Inventor： 新田尚

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N15/1429 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/255 ,  G01N2015/1006

Abstract: 提供了一种光谱分析设备，包括处理单元，被配置为使用分析函数生成分析数据，在所述分析函数中，包括作为函数元素的线性函数和对数函数且强度值被设置为来自测量数据的变量，所述测量数据包括通过使用具有不同检测波长带的多个光接收元件检测来自测量目标对象的光而获取的光的强度值。