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    분광측정장치
    141.
    发明授权
    분광측정장치 有权
    光谱仪

    公开(公告)号：KR101828100B1

    公开(公告)日：2018-02-09

    申请号：KR1020127028765

    申请日：2012-04-26

    Applicant: 포스 애널리터컬 에이/에스

    Inventor： 폴켄베르크,야콥 ,  라르센,한스

    IPC: G01B9/02 ,  G01J3/453

    CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/4535

    Abstract: 입사광선을반사빔경로를따르는반사빔및 투과빙경로를따르는투과빔으로분할시키는빔스플리터(40)를구비한주사간섭계(40,42,44); 기준빔을간섭계(40,42,44)에발사시키되, 제1 전파경로(62)를따라빔스플리터(40)의제1면(40′)에초기입사되도록발사시키는단파장광방사원(52); 관측빔(64)을간섭계(4,6,8)에발사시키되, 제2 전파경로(66)을따라빔스플리터(40)의제1면(40′)에초기입사되어제1면(40′)에서기준빔에중첩되도록발사시키는관측광방사원(46)을포함하며, 상기방사원들(52;46)은공조하여, 두빔이제1면(40′)에초기에동시입사할때 각각의제1 전파경로(62)와제2 전파경로(66)와평행한상기두 빔의전파방향사이에관측빔(64)의반(半)-발산각(α)보다큰 제1 각도(θ)를생성하는것을특징으로하는분광측정장치(38).

    Abstract translation: 与分束器40设置用于根据沿着传输和冰路径反射光束扫描路径干涉仪（40,42,44）的反射光束与入射光束分离成透射束; Sikidoe击发参考光束干涉仪（40,42,44），所述第一传播路径短波长的光辐射源（52），用于烧制使得初始入射沿62分束器40议程第一表面40”上; Sikidoe击发观察光束（64）与干涉仪（4,6,8），沿着第二传播路径66“最初入射到第一表面上（40分束器40，第一议程表面40”） 并且辐射源52和46协作以使两个光束中的每一个入射在第一表面40'上， 其特征在于，用于产生比每个发散大的第一角度（θ）（α） - 62沃赫第二传播路径66和两个光束的平行hansanggi传播方向之间的路径观测光束（64）uiban（半） 光谱仪38。

    음향광변조필터를 이용한 다중파장 헤테로다인 간섭계
    142.
    发明授权
    음향광변조필터를 이용한 다중파장 헤테로다인 간섭계 有权
    多波长外差干涉仪使用AOTF

    公开(公告)号：KR101198013B1

    公开(公告)日：2012-11-07

    申请号：KR1020110083527

    申请日：2011-08-22

    Applicant: 서강대학교산학협력단

    Inventor： 조규만 ,  박영규

    IPC: G01J3/453 ,  G01B9/02

    Abstract: PURPOSE: A multi-frequency heterodyne interferometer using an AOTF(Acousto-Optical Tunable Filter) is provided to obtaining a multi-frequency interferometer using an acousto-optical tunable filter, thereby constituting various complex wavelengths by avoiding 2π-ambiguity with an optical system of a simple structure. CONSTITUTION: A multi-frequency heterodyne interferometer using an AOTF comprises a light source(600), a polarization beam splitter(610), an acousto-optical tunable filter(620), an AOTF driving unit(630), a sample stage(640), a second beam route guide unit(650), a quarter wavelength phase-lag plate, a multi-wavelength demodulator(670), and a controlling unit(680). The light source provides multi-wavelength beams. The polarization beam splitter transmits or reflects the beams provided by the light source according to a polarization condition. The acousto-optical tunable filter divides the multi-wavelength beams into first and second beams per wavelengths according to RF frequencies and outputs the second beams by separating the same from the first beams at a different angle according to each frequencies. The AOTF driving unit provides driving RF frequencies to the acousto-optical tunable filter, thereby driving the acousto-optical tunable filter. The sample stage is arranged in a progressive path of the first beams, thereby providing signal beams by reflecting the first beams along an incident route of the first beams. [Reference numerals] (630) AOTF driving unit; (676) Demodulator

    Abstract translation: 目的：提供使用AOTF（声光调谐滤波器）的多频外差干涉仪，以获得使用声光可调谐滤波器的多频干涉仪，从而通过避免2π模糊度与光学可调谐滤波器的2π模糊度来构成各种复杂波长 一个简单的结构。 构成：使用AOTF的多频外差干涉仪包括光源（600），偏振分束器（610），声光可调滤波器（620），AOTF驱动单元（630），样本台（640 ），第二光束路径引导单元（650），四分之一波长相位滞后板，多波长解调器（670）和控制单元（680）。 光源提供多波长光束。 偏振光束分离器根据偏光条件透射或反射由光源提供的光束。 声光可调谐滤波器根据RF频率将多波长光束分成每波长的第一和第二波束，并且根据每个频率以不同的角度将第一波束与第一波束分开，并输出第二波束。 AOTF驱动单元向声光可调谐滤波器提供驱动RF频率，从而驱动声光可调谐滤波器。 样本台被布置在第一光束的逐行路径中，从而通过沿着第一光束的入射路径反射第一光束来提供信号光束。 （附图标记）（630）AOTF驱动单元; （676）解调器

    광학적 가스 분석기
    143.
    发明公开
    광학적 가스 분석기 无效
    光学气体分析仪

    公开(公告)号：KR1019980703176A

    公开(公告)日：1998-10-15

    申请号：KR1019970706579

    申请日：1996-03-20

    Applicant: 에스씨아이-테크 인스트루먼츠 인코포레이티드

    Inventor： 이바노브에브제니블라디미로비키

    IPC: G01N21/3518 ,  G01J3/453

    Abstract: 광학적 가스 분석기가 광학적, 기계적 및 전자적 시스템을 포함한다. 상기 광학적 시스템은 시준기, 광필터, 변조된 간섭 분극 필터(IPF), 그리고 광 탐지기를 포함한다. 상기 변조된 IPF 는 서로 크로스되거나 평행한 두 개의 분극기를 포함하며, 이들 두 분극기 사이에 광학적 변조기와 복굴절 판이 장착된다. 상기 복굴절 판은 전기-기계 구동기에 의해 전자 시스템에 의해 기계적으로 구동되고 제어되는 가변의 두께를 가진다. 상기 광 탐지기를 그 출력이 전자 시스템에 연결되고 IPF 뒤에 배열된다. 이같은 가스 분석기는 측정된 가스 밀도의 최소 탐지가능 한계가 가생 변조의 영향을 크게 줄이므로써 작아지도록 하는 장점을 갖는다. 상기 기생 변조는 가스 분석기의 광학적 및 전자적 유닛내로 광학적 변조기에 의해 발생된다. 그러나, 변조된 IPF 의 동기식 변조는 이같은 두 측정값의 차이를 바탕으로 최종 출력에서의 기생 영향을 제거시킨다.

    デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法
    145.
    发明专利
    デュアルコム分光法における干渉信号の測定方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020106477A

    公开(公告)日：2020-07-09

    申请号：JP2018247417

    申请日：2018-12-28

    Applicant: 国立大学法人電気通信大学

    Inventor： 美濃島 薫 ,  浅原 彰文

    IPC: G01J3/453

    Abstract: 【課題】試料を通過して変化する光周波数コムの各周波数モードの位相情報を正確に測定し、試料の移動を不要とし、高速に測定する。 【解決手段】本発明のデュアルコム分光法における干渉信号の測定方法では、通過幅が被測定部17の測定幅19より大きい光周波数コム311の進路上で、光周波数コム311が通過する領域の一部に被測定部17を配置し、試料配置位置320より光周波数コム311,321の進行方向の奥側において、光周波数コム312と光周波数コム313とを一括して受光する。光周波数コム312,313のそれぞれと固体試料5を通過しない光周波数コムとの干渉信号に基づいて、光周波数コム312の光パルス11の時間軸上の位置と、光周波数コム313の透過光パルス9及び多重反射光パルス10の時間軸上の位置とを位相スペクトルとして測定する。 【選択図】図7

    Wavelength determination device and wavelength determination method
    149.
    发明专利
    Wavelength determination device and wavelength determination method 审中-公开
    波长测定装置和波长测定方法

    公开(公告)号：JP2006010499A

    公开(公告)日：2006-01-12

    申请号：JP2004187883

    申请日：2004-06-25

    Applicant: Sony Corp ,  ソニー株式会社

    Inventor： TANAKA FUJI

    IPC: G01J3/453 ,  H01S5/065 ,  H01S5/0687

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wavelength determination device and a wavelength determination method capable of determining a wavelength of a laser beam emitted from an external resonator type semiconductor laser, over a wide range. SOLUTION: The laser beam emitted from the external resonator type semiconductor laser 50 is determined in two steps by two detectors 202, 203. The detector 202 is provided with an optical wedge 204, and light intensity of a reflected beam thereof is detected by a two-divided detector 206. The detector 203 is provided with an optical wedge 205, and light intensity of a reflected beam thereof is detected by a two-divided detector 207. Wedge angles and plate thicknesses of the two optical wedges 204, 205 are regulated to generate the substantially same interference fringe even when receiving respectively different wavelength ranges of laser beams. A rough wavelength range of the laser beam is determined thereby using a differential value from the two-divided detector 206, and a detail level of wavelength is determined thereafter using a differential value from the two-divided detector 207. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够在宽范围内确定从外部谐振器型半导体激光器发射的激光束的波长的波长确定装置和波长确定方法。

    解决方案：从外部谐振器型半导体激光器50发射的激光束由两个检测器202,203分两步确定。检测器202设置有光楔204，并且检测其反射光束的光强度 检测器203设置有光楔205，并且其反射光束的光强度由双分辨检测器207检测。两个光楔204,205的楔形角和板厚度 被调节以产生基本上相同的干涉条纹，即使当分别接收不同的激光束的波长范围时。 由此，使用来自二分割检测器206的差分值来确定激光束的粗略波长范围，然后使用来自二分割检测器207的差分值来确定波长的细节级别。 C）2006，JPO＆NCIPI

    Optical spectroscopy equipment, optical spectroscopy method, light sensor, and methods of use thereof
    150.
    发明专利
    Optical spectroscopy equipment, optical spectroscopy method, light sensor, and methods of use thereof 审中-公开

    公开(公告)号：JP2005533244A

    公开(公告)日：2005-11-04

    申请号：JP2004520355

    申请日：2002-07-15

    Applicant: キャンパス テクノロジーズ アーゲーCAMPus Technologies AG

    Inventor： ヴァイツェル ティロ

    IPC: G01J3/12 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/45 ,  G01J3/453

    CPC classification number: G01J3/453

    Abstract: 本発明は、光分光及び光センサ技術のための装置、方法、及びその装置の使用方法に関する。 装置は、高いスペクトル分解能を有し、同時に複数の光学的構成部材の品質に対する要求が低い。 装置は、干渉パターンを生成するための手段と、ただひとつ又は数個の領域の空間モードのそれぞれが許容されるように、検査された入射光領域のカップリングのための手段と、空間的に異なる複数の位置において生成された干渉パターンの強度を記録することができる装置とを備え、複数の波面及び／又は干渉パターンに含まれる複数の光領域の少なくともひとつの伝搬方向が波長に応じて複数のスペクトル分散又は回折光学素子によって変更される、光分光のための装置に備えられる。
    本発明は、光スペクトルの決定方法、及び／又は本発明に係る装置を使用することによって測定される干渉パターンの分析による光スペクトルによってエンコード又は伝搬された測定量の方法に関する。

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