公开(公告)号：FR3021803B1

公开(公告)日：2017-10-13

申请号：FR1454893

申请日：2014-05-28

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： LA ROSA FRANCESCO ,  NIEL STEPHAN ,  REGNIER ARNAUD

IPC: G11C7/18 ,  G11C16/02 ,  H01L21/8242

公开(公告)号：FR3040511B1

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：FR1557976

申请日：2015-08-27

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： TEGLIA YANNICK

IPC: G06F21/72 ,  H04L9/00

公开(公告)号：FR3048103A1

公开(公告)日：2017-08-25

申请号：FR1651424

申请日：2016-02-22

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： FORNARA PASCAL ,  RIVERO CHRISTIAN

IPC: G06F21/70 ,  G06F21/55

Abstract: Procédé de détection d'un amincissement du substrat semi-conducteur d'un circuit intégré depuis sa face arrière, comprenant une mesure d'une grandeur physique représentative de la résistance entre les extrémités (EX11, EX21) de deux contacts électriquement conducteurs (C1, C2) situées à l'interface entre une région isolante (RIS) et une région de substrat sous-jacente (CS), les deux contacts électriquement conducteurs (C1, C2) s'au moins partiellement dans ladite région isolante (RIS).

公开(公告)号：FR3014266B1

公开(公告)日：2017-07-21

申请号：FR1362000

申请日：2013-12-03

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： GAILHARD BRUNO ,  JOLY YOHAN

IPC: H03K19/0185 ,  H03M1/12

公开(公告)号：FR3035252B1

公开(公告)日：2017-04-28

申请号：FR1553229

申请日：2015-04-14

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： CHARLES ALEXANDRE

IPC: G06K19/07 ,  H04L29/06 ,  H04W4/80

公开(公告)号：FR3012672B1

公开(公告)日：2017-04-14

申请号：FR1360742

申请日：2013-10-31

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： LA ROSA FRANCESCO ,  NIEL STEPHAN ,  DELALLEAU JULIEN ,  REGNIER ARNAUD

IPC: H01L27/115 ,  H01L29/788

公开(公告)号：FR3041796A1

公开(公告)日：2017-03-31

申请号：FR1559009

申请日：2015-09-24

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： MARTINEZ ALBERT

IPC: G06F21/12

Abstract: Procédé de sécurisation d'un code programme destiné à être exécuté par un module de traitement informatique (1) contenant une unité centrale (5) couplée à une mémoire cache (6) contenant des lignes de cache (60) possédant chacune un champ de données destiné à stocker des mots d'instruction (83) exécutables par l'unité centrale (5), comprenant un stockage du code programme dans des emplacements mémoire (81) d'une mémoire externe (2) au module de traitement informatique (1), chaque emplacement mémoire (8) étant capable de stocker les mots d'instructions (81) d'une ligne de cache, une détermination de codes d'authentification respectivement associés auxdites lignes de cache et pour chaque ligne de cache une fragmentation du code d'authentification associé et un stockage de ce code d'authentification fragmenté réparti dans l'emplacement mémoire (8) correspondant.

公开(公告)号：FR3041466A1

公开(公告)日：2017-03-24

申请号：FR1558859

申请日：2015-09-21

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： TAILLIET FRANCOIS ,  BATTISTA MARC

IPC: G11C29/00 ,  G11C7/24 ,  G11C16/26

Abstract: Il est proposé un procédé de contrôle du fonctionnement d'un dispositif (DIS) de type mémoire morte électriquement programmable et effaçable alimentée par une tension d'alimentation et associé à un circuit de réinitialisation lors d'une mise sous tension (POR), comprenant : une implémentation (21) d'au moins une opération témoin correspondant à une phase de fonctionnement du dispositif identifiée comme encline à un dysfonctionnement lors d'une chute de la tension d'alimentation en deçà d'une valeur donnée, une mise en œuvre (23) de ladite au moins une opération témoin lors du fonctionnement du dispositif de mémoire, et une analyse (25) du résultat de ladite opération témoin de façon à détecter un éventuel dysfonctionnement non empêché par ledit circuit de réinitialisation (29).

公开(公告)号：FR3040515A1

公开(公告)日：2017-03-03

申请号：FR1558117

申请日：2015-09-02

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： BRUNEAU NICOLAS

IPC: G06F21/72 ,  H04L9/00

Abstract: L'invention concerne un procédé de vérification de la sensibilité d'un circuit électronique (6) exécutant un algorithme de type Rijndael à des attaques pas canaux cachés, dans lequel : chaque bloc de données à chiffrer ou à déchiffrer est masqué par un premier masque (m) avant application d'une opération non linéaire de substitution par bloc à partir d'une table de substitution, puis est démasqué par un deuxième masque après substitution ; la table de substitution est recalculée, bloc par bloc, avant application de l'opération non linéaire, l'ordre de traitement des blocs de la table de substitution étant soumis à une permutation aléatoire ; et une attaque par canaux cachés est effectuée sur les étapes de recalcul, bloc par bloc, de la table de substitution.

公开(公告)号：FR3040514A1

公开(公告)日：2017-03-03

申请号：FR1558116

申请日：2015-09-02

Applicant: STMICROELECTRONICS (ROUSSET) SAS

Inventor： BRUNEAU NICOLAS

IPC: G06F21/72 ,  H04L9/00

Abstract: L'invention concerne un procédé de protection, d'un algorithme de type Rijndael exécuté par un circuit électronique, contre des attaque pas canaux cachés, dans lequel : chaque bloc de données à chiffrer ou à déchiffrer est masqué (31) par un premier masque (m) avant application (33) d'une opération non linéaire de substitution par bloc à partir d'une table de substitution (S'), puis est démasqué (34) par un deuxième masque (m') après substitution ; et la table de substitution est recalculée (51, 52, 24), bloc par bloc, avant application de l'opération non linéaire, l'ordre de traitement des blocs de la table de substitution étant soumis à une permutation aléatoire (y), commutative avec l'opération non linéaire de substitution.