마이크로미터급 발광소자 분광분석용 공초점 현미경장치

    公开(公告)号:KR1020170123916A

    公开(公告)日:2017-11-09

    申请号:KR1020160053226

    申请日:2016-04-29

    CPC classification number: G02B21/0024 G01J3/0216 G02B21/0032

    Abstract: 본발명은마이크로미터급발광소자분광분석용공초점현미경장치에관한것으로서, 더욱상세하게는마이크로미터이하의사이즈를가지는발광소자의분광분석에적용할수 있는마이크로미터급발광소자분광분석용공초점현미경장치에관한것이다. 본발명에따른마이크로미터급발광소자분광분석용공초점현미경장치는기존의와이어본딩을통한전류공급방식을대체하여프로브를통한발광소자에전류공급이가능한시스템을적용함으로써수 내지수백마이크로미터사이즈를가지는발광소자의분광분석을수행할수 있고, 기존갈바노스캐너를통한스캔방식을대체하여스테이지를이동시키는스캔방식을적용함으로써기존의방식보다고해상도및 고선명도의이미지를획득할수 있는장점이있다.

    측정용 광학계 및 그것을 사용한 색채 휘도계 및 색채계
    166.
    发明公开
    측정용 광학계 및 그것을 사용한 색채 휘도계 및 색채계 有权
    用于测量的光学系统和使用其的发光颜料和色彩

    公开(公告)号:KR1020130004517A

    公开(公告)日:2013-01-10

    申请号:KR1020127030595

    申请日:2011-03-15

    Abstract: 본 발명에 관한 측정 프로브(40)에서는, 측정광은, 제1 확산판(19)에 의해 산란되고, 복수의 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 통해서 복수의 수광 센서(13B, 14B, 15B)로 수광될 때에, 제2 확산판(13C, 14C, 15C)을 통해서 각 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에 입사된다. 그리고, 이들 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)는, 상기 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)에의 입사광의 입사 각도에 대한 강도 분포의 조건에 따라, 측정 파라미터에 대응한 투과율 특성이 얻어지도록 형성된다. 이로 인해, 본 발명에 관한 측정 프로브(40)는, 간섭 막 필터(13A, 14A, 15A)를 사용하면서, 그 입사 각도에 의한 투과율 특성의 어긋남의 영향을 저감할 수 있다.

    표면 평가를 위한 방법 및 장치
    167.
    发明授权
    표면 평가를 위한 방법 및 장치 失效
    표면위위한방법및장치

    公开(公告)号:KR100875806B1

    公开(公告)日:2008-12-26

    申请号:KR1020037012945

    申请日:2002-03-28

    Abstract: Device and method for recording the visual properties of a surface, comprising an imaging device (3) for recording light interaction (reflection or transmission) with a surface, a light source (2), and a sample area for positioning a sample (6) with a surface to be examined. The imaging device, the light source, and the sample area are arranged in such a way that in one image at least one of the surface properties is recordable as a function of a continuous range of angles between the illumination direction (7, 9) and the observation direction (4, 5). The imaging device is a CCD camera. The device and method are suitable for imaging and evaluating visual properties which are dependent on the optical geometry, such as flop behaviour and gloss.

    Abstract translation: 用于记录表面视觉特性的装置和方法,包括用于记录与表面的光相互作用(反射或透射)的成像装置(3),光源(2)以及用于定位样品(6)的样品区域, 具有待检查的表面。 成像装置,光源和样品区域以这样的方式布置,即在一个图像中,表面特性中的至少一个表面特性作为照射方向(7,9)与照射方向(7,9)之间的连续角度范围的函数是可记录的 观察方向(4,5)。 成像装置是CCD照相机。 该装置和方法适用于成像和评估依赖于光学几何形状的视觉特性,如翻转行为和光泽度。

    반응물 연속측정장치
    168.
    发明公开
    반응물 연속측정장치 无效
    连续确定物质的安排

    公开(公告)号:KR1020060064565A

    公开(公告)日:2006-06-13

    申请号:KR1020057022642

    申请日:2004-05-26

    Abstract: The invention relates to an arrangement for continuous determination of a substance comprising a chemically reacting sensor element (21) arranged in or adjacent to a limiting wall of a volume (22) containing the substance, where in a housing (2) of a modular device (1) optical elements to read the sensor element (21) are arranged, comprising at least one light source (35) illuminating the sensor element (21) and at least one sample detector (29) detecting the light scattered by the sensor element (21), and where a front side of the housing (2) comprises a coupling for the sensor element (21), so that the sensor element (21) may be interchangeably and modularly coupled to the front side of the housing (2). A glass body (24) is arranged adjacent to the coupling for direct contact with the sensor element (21) and separate conduits (34, 31) for the illuminating and for the scattered light are arranged rearward of the glass body (24). The modular device (1) allows for easily interchanging the modular sensor element (21) and provides an optical connection between the sensor element (21) and the detector (29) which is steady and allows for high quality measurements.

    Abstract translation: 本发明涉及用于连续确定物质的装置,其包括布置在容纳物质的容积(22)的限制壁中或邻近容纳物质的容积(22)的限制壁上的化学反应传感器元件(21),其中在模块化装置的壳体(2) (1)读取传感器元件(21)的光学元件被布置成包括照亮传感器元件(21)的至少一个光源(35)和检测由传感器元件散射的光的至少一个样品检测器(29) 21),并且其中壳体(2)的前侧包括用于传感器元件(21)的联接器,使得传感器元件(21)可以可互换地并且模块地联接到壳体(2)的前侧。 玻璃体(24)与耦合件相邻设置,用于与传感器元件(21)直接接触,并且用于照明和用于散射光的分离导管(34,31)布置在玻璃体(24)的后方。 模块化装置(1)允许容易地交换模块化传感器元件(21)并且在传感器元件(21)和检测器(29)之间提供稳定的光学连接并且允许进行高质量测量。

    다중빔 평면 어레이 IR 분광기
    169.
    发明公开
    다중빔 평면 어레이 IR 분광기 失效
    다중빔평면어레이IR분광기

    公开(公告)号:KR1020040037219A

    公开(公告)日:2004-05-04

    申请号:KR1020047004749

    申请日:2002-03-19

    Abstract: 본 발명의 장치(300) 및 방법은 부동부분 또는 작동중의 푸리에변환 및 배경 스펙트럼과 요소성능의 퇴보 동안에 자기보상을 필요로 하는 IR 흡수현상을 이용하여 다중 샘플 또는 하나의 샘플의 다중공간면적에서 리얼타임 내에 동시에 다중화된 IR 스펙트럼 정보를 공간적으로 제공하는 것이다. 샘플의 IR 스펙트럼정보 및 화학적분석은 하나 또는 그 이상의 IR 광원(310,311), 샘플 볼륨을 위치 하기 위한 하나 또는 그 이상의 샘플링 액세서리(330,331), 하나 또는 그 이상의 광학적 분산요소(350), 분산된 광빔을 검출하기 위해 배열된 촛점면어레이(FPA,370), 프로세서(380), FPA 를 제어하는 디스플레이(390), 및 FPA(370)와 디스플레이 IR 스펙트로그래프를 제어하는 디스플레이(390)를 이용하여 결정된다.

    Abstract translation: 能够使用IR吸收现象对一个样本的多个样本或多个空间区域同时实时同时提供空间复用IR光谱信息的设备(300')和方法在操作期间不需要移动部件或傅里叶变换,并且自补偿 背景光谱和组件性能随时间的退化。 通过使用一个或多个IR源(310,311),用于定位样品体积的一个或多个采样附件(330,331),一个或多个光学色散元件(350),以及一个或多个光学色散元件 (370)和用于控制FPA(370)的处理器(380)和显示器(390),以及控制FPA(370)的显示器(390)以及用于控制FPA 显示红外光谱仪。

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