-
公开(公告)号：JP2016503183A
公开(公告)日：2016-02-01
申请号：JP2015552802
申请日：2014-01-10
Applicant: バイオ−ラッド ラボラトリーズ インコーポレーティッド , バイオ−ラッド ラボラトリーズ インコーポレーティッド
CPC classification number: G01J1/0488 , G01J3/0213 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01J2003/104 , G01J2003/421
Abstract: 本発明は単一のエミッタ本体を有する検出器システムを提供する。エミッタ本体は複数の波長を発するための複数の発光ダイオード(LED)を有する。各LEDは異なる波長の光を発するよう適合している。広帯域フィルタは複数の波長を受けるよう適合している。検出器機構は広帯域フィルタによってフィルタリングされた複数の波長を受けるよう適合している。制御器は複数のLEDおよび検出器機構を制御するよう適合している。
Abstract translation: 本发明提供了具有单发射极体的检测器系统。 发射器主体具有用于发射多个波长（LED）的多个发光二极管。 每个LED适于发射不同波长的光。 宽带滤波器适于接收多个波长。 检测器机构适于接收多个由宽带滤波器过滤的波长。 所述控制器适于控制所述多个LED和检测器机构。
-
公开(公告)号：JP2015515011A
公开(公告)日：2015-05-21
申请号：JP2015509137
申请日：2013-04-25
Applicant: サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー , サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー
Inventor： マイケル エス ブラッドレイ , マイケル エス ブラッドレイ , フェデリコ イッジア , フェデリコ イッジア , ジョン マギー コフィン , ジョン マギー コフィン
IPC: G01N21/552
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0291 , G01N21/552 , G01N2021/3595
Abstract: 分光計は、光源と、干渉計と、付属品区画と、試料分析装置と、第1の光学要素と、第2の光学要素と、アクチュエータとを含む。光源は、光を干渉計に向けて送り、干渉計は変調光を形成する。付属品区画は、試料分析付属品装置を受け入れ、第1の光ポートを有する第1の壁を含む。試料分析装置は、試料の減衰全反射分析を実行し、結晶と、試料を結晶に押しつけるように構成される先端と、結晶内の反射後に光を検出するように構成される検出器とを含む。第1の光学要素は、変調光を受け取り、第1の光ポートに向けて反射する。アクチュエータは、第2の光学要素を、第2の光学要素が変調光を受け取り、変調光を結晶に向けて反射する第1の位置と、第2の光学要素が変調光を受け取らず、第1の光学要素が変調光を受け取れるようにする第2の位置との間で移動させる。【選択図】図2
Abstract translation: 光谱仪包括光源，干涉仪，和配件隔间，一个样本分析仪，所述第一光学元件，第二光学元件，以及一个致动器。 光源向光发送到干涉仪，干涉仪形成的调制光。 配件隔间接受样品分析附件装置，其包括具有第一光学端口的第一壁。 样本分析装置进行试样的构成的晶体中反射之后检测光的衰减全反射分析，包括结晶和远端构造成促使所述样品晶体，和一个检测器 。 第一光学元件接收到的调制光被朝向第一光学端口反射。 致动器，所述第二光学元件，接收第二光学元件调制后的光，在第一位置，用于反射的调制光的晶体，而不接收调制光的第二光学元件，第一 光学元件在第二位置之间移动，以便能够接收的调制光。 .The
-
公开(公告)号：JP5590887B2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：JP2009532346
申请日：2007-09-11
Applicant: ケアストリーム ヘルス インク
Inventor： ロングアン ライアン , ビクター シー ワン , マーク エドワード ブライジス , マイケル アラン マーカス , デヴィッド エル パットン , ピーター デヴィッド バーンズ , ポール オー マクローリン
CPC classification number: G01J3/51 , A61B1/00186 , A61B1/043 , A61B1/0615 , A61B1/0623 , A61B1/0638 , A61B1/247 , A61B5/0066 , A61B5/0088 , G01B11/285 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/0224 , G01J3/36 , G01J3/4406 , G01J3/50 , G01J3/501 , G01J3/508 , G01J2003/468 , G01N21/6456
-
公开(公告)号：JP5589515B2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：JP2010086767
申请日：2010-04-05
Applicant: セイコーエプソン株式会社
Inventor： 隆彦 吉澤
CPC classification number: G02B5/284 , B81B2201/0292 , B81C1/00126 , G01J3/0213 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J3/51 , G02B5/28 , G02B26/007 , Y10T428/24562 , Y10T428/24612
-
公开(公告)号：JP2013181926A
公开(公告)日：2013-09-12
申请号：JP2012047370
申请日：2012-03-02
Inventor： TATSUTA HIROKAZU , TANAKA HIDEKAZU , DOWAKI MASARU
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0224 , G01J3/10 , G01J3/44 , G02B5/1814 , G02B27/0905 , G02B27/0927 , G02B27/0933
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectral optical system which is suitable for detecting light having a specific wavelength area, and a spectral measuring apparatus using the same.SOLUTION: A spectral optical system is equipped with: a reflection member; a diffraction grating; and an input element. The reflection member has a recessed surface provided along a first circle having the center. The diffraction grating has an edge part, is provided in the projected shape along a second circle which is concentric with the first circle, light reflected on the recessed surface of the reflection member is made incident on the diffraction grating. The input element is arranged at a predetermined position to the reflection member and the diffraction grating so that diffraction light passes between input light input in the spectral optical system and the edge part of the diffraction grating. The diffraction light is the one which has a wavelength area of 600 nm or more and 1,100 nm or less, emitted from the diffraction grating, and reflected on the recessed surface.
Abstract translation: 要解决的问题：提供适合于检测具有特定波长区域的光的光谱系统和使用该光谱系统的光谱测量装置。解决方案：光谱系统配备有：反射构件; 衍射光栅; 和一个输入元素。 反射构件具有沿着具有中心的第一圆形设置的凹陷表面。 衍射光栅具有边缘部分，沿着与第一圆心同心的第二圆形以投影形状设置，反射在反射构件的凹入表面上的光入射到衍射光栅上。 输入元件布置在反射构件和衍射光栅的预定位置处，使得衍射光通过在光谱系统中输入的输入光与衍射光栅的边缘部分之间。 衍射光是从衍射光栅发射并在凹面上反射的波长面积为600nm以上且1100nm以下的衍射光。
-
Patent Agency Ranking186.发明专利Tilt structure, method of manufacturing the tilt structure, spectral filter, and spectral sensor 有权倾斜结构，制造倾斜结构的方法，光谱过滤器和光谱传感器
公开(公告)号：JP2011218453A
公开(公告)日：2011-11-04
申请号：JP2010086767
申请日：2010-04-05
Applicant: Seiko Epson Corp , セイコーエプソン株式会社
Inventor： YOSHIZAWA TAKAHIKO
CPC classification number: G02B5/284 , B81B2201/0292 , B81C1/00126 , G01J3/0213 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J3/51 , G02B5/28 , G02B26/007 , Y10T428/24562 , Y10T428/24612
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture a minute tilt structure.SOLUTION: A method for manufacturing the tilt structure includes the steps of:forming a shaft section 13b on a substrate section 13a; forming a sacrificial film, from which an upper surface of the shaft section is exposed, and which has an upper surface continuous to the upper surface of the shaft section, on the substrate section 13a; providing a tilt structure film 7 to the upper surface of the shaft section and the upper surface of the sacrificial film; providing a thin film section 11 located on a corner section composed of the upper surface of the shaft section and a side surface of the shaft section to the tilt structure film by processing the tilt structure film 7 located on the corner section so as to have a thin film thickness;removing the sacrificial film between the tilt structure film 7 and the substrate section 13a; supplying a space between the tilt structure film and the substrate section with a fluid 18, removing the fluid 18 to thereby bend the tilt structure film in the thin film section 11, and bonding an end of the tilt structure film to the substrate section to thereby forming an acute angle by the substrate section and the tilt structure film.
Abstract translation: 要解决的问题：制造微小的倾斜结构。 解决方案：用于制造倾斜结构的方法包括以下步骤：在基底部分13a上形成轴部分13b; 在所述基板部13a上形成牺牲膜，所述牺牲膜从所述轴部的上表面露出，并且具有与所述轴部的上表面连续的上表面; 在轴部的上表面和牺牲膜的上表面上设置倾斜结构膜7; 通过处理位于角部的倾斜结构膜7，将设置在由轴部的上表面组成的角部上的薄膜部11和轴部的侧面设置到倾斜结构膜，从而具有 去除倾斜结构膜7和基板部分13a之间的牺牲膜; 用流体18在倾斜结构膜和基板部分之间提供空间，去除流体18，从而使薄膜部分11中的倾斜结构膜弯曲，并将倾斜结构膜的一端接合到基板部分，由此 由基板部和倾斜结构膜形成锐角。 版权所有（C）2012，JPO＆INPIT
-
公开(公告)号：JP2009115631A
公开(公告)日：2009-05-28
申请号：JP2007289255
申请日：2007-11-07
Applicant: Konica Minolta Sensing Inc , コニカミノルタセンシング株式会社
Inventor： IMAI KIYOSHI , TAKAHASHI MAKOTO , SHIMIZU SHINJI
IPC: G01J1/42 , G01J1/44 , G01J3/36 , G01M11/00 , H04N5/335 , H04N5/351 , H04N5/353 , H04N5/357 , H04N5/378
CPC classification number: G01J1/04 , G01J1/0418 , G01J1/044 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/0232 , G01J3/2803 , G01J3/2889
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light quantity measuring instrument capable of measuring properly a light to be measured of which the light quantity is fluctuated periodically, in a short time.
SOLUTION: Charges generated and accumulated in a photodiode 128 in a measuring period are read in, a plurality of times, a control computation part 122 obtains pixel data D(1,i), D(2,i) to D(M,i) (i=1, 2, to N), in response to quantity of the charges Q(1,i), Q(2,i) to Q(M,i) generated and accumulated by the photodiodes 128, respectively, in a plurality of accumulation periods SP(1), SP(2) to SP(M) provided by dividing the measuring period MP. The control computation part 122 integrates the plurality of pixel data D(1,i), D(2,i) to D(M,i) and calculates pixel data D(1), D(2) to D(N), in response to quantity of the charges Q(1), Q(2) to Q(N) generated and accumulated by the photodiodes 128 in the measuring period MP.
COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPITAbstract translation: 要解决的问题：提供一种能够在短时间内适当地测量光量周期性波动的被测光的光量测量仪器。 解决方案：在测量周期内产生并累积在光电二极管128中的电荷被多次读入，控制计算部分122获得像素数据D（1，i），D（2，i）至D（ 响应于由光电二极管128产生和累积的电荷Q（1，i），Q（2，i）至Q（M，i）的数量，M，i）（i = 1,2， 分别在通过划分测量周期MP提供的多个累积周期SP（1），SP（2）至SP（M）中。 控制计算部分122将多个像素数据D（1，i），D（2，i）与D（M，i）进行积分并计算像素数据D（1），D（2）至D（N） 响应于在测量周期MP中由光电二极管128产生和累积的电荷Q（1），Q（2）至Q（N）的量。 版权所有（C）2009，JPO＆INPIT
-
公开(公告)号：JPWO2014054488A1
公开(公告)日：2016-08-25
申请号：JP2014539680
申请日：2013-09-25
Applicant: 国立大学法人 香川大学 , 国立大学法人 香川大学
IPC: G01J3/45 , A61B5/1455 , G01N21/359
CPC classification number: G01J3/26 , A61B5/14532 , A61B5/14546 , A61B5/1455 , A61B5/7257 , A61B2562/0238 , F04C2270/0421 , G01J3/0205 , G01J3/0213 , G01J3/45 , G01J3/4532 , G01J3/4535 , G01J2003/1213 , G01N21/359 , G01N21/4738 , G01N21/49 , G01N2021/3595
Abstract: 本発明に係る分光特性測定装置は、被測定物の内部の複数の測定点から発せられた測定光を固定反射部の反射面と可動反射部の反射面に入射させる入射光学系と、固定反射部の反射面で反射された固定反射測定光と可動反射部の反射面で反射された可動反射測定光を同一点に導いて両反射測定光の干渉光を形成する結像光学系と、干渉光の強度を検出するための複数の画素を有する光検出部と、結像光学系と光検出部の間の光路に配置された透過率が異なる複数の領域を有するフィルタであって、光検出部の各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過するように構成された透過フィルタと、可動反射部を移動させたときの光検出部の各画素の検出信号から測定光のインターフェログラムを求め、このインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部とを備える。
Abstract translation: 根据本发明的分光特性测量装置，用于输入从所述对象的固定的反射部分的可动反射部分的反射表面上的测量点发射的测量光的多个入射光学系统的内部进行测量时，一个固定的反射 用于形成由所述反射面反射的可动反射的测量光，其中固定反射的干涉光的成像光学系统反射的测量光束和可动反射部分被引导到同一个点都反射由反射表面部分测量光，干涉 具有用于检测的光的强度的多个像素，并且成像光学系统，并在之间的光路的光检测器布置透射率的光检测器是具有多个不同区域的过滤器，所述光检测 发送滤波器固定反射的测量光束和可动反射测量光形成干涉光入射在每个像素部分被配置为发送相同的区域中，每个光的移动可移动反射器区段时检测单元 它获得的测量光的干涉从像素的检测信号，这 和用于确定基于所述干涉图的测量光的光谱的处理单元。
-
公开(公告)号：JP2016053550A
公开(公告)日：2016-04-14
申请号：JP2014180371
申请日：2014-09-04
Applicant: 株式会社セコニック
CPC classification number: G01J3/0272 , G01J1/0233 , G01J1/0403 , G01J1/0411 , G01J1/0418 , G01J1/0422 , G01J1/0448 , G01J1/0474 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0213 , G01J3/0216 , G01J3/0237 , G01J3/46
Abstract: 【課題】センサに入射する光線の状態を改善して測定精度を改善した測光装置を提供する。 【解決手段】測定対象となる光が入射される測光センサ30と、測光センサが出力するセンサを処理する信号処理手段と、外部光を測光センサに導入する光学系50,100,92,93,150とを備える測光装置1を、光学系の一部に測光センサの受光面に対して垂直な方向に沿って中心軸が配置された柱状のファイバロッド100を設けた構成とする。 【選択図】図6
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种通过改善进入传感器的光束的状态来提高测量精度的光度测量装置。解决方案：光度测量装置1包括：光度传感器30，待测光进入该测光传感器30; 信号处理装置，用于处理由测光传感器输出的传感器; 以及用于将外部光引入测光传感器的光学系统50,100,92,93和150。 该测光装置在光学系统的一部分处包括柱状纤维杆100，其中轴线沿着与光度传感器的光接收表面垂直的方向设置。图6
-
公开(公告)号：JP2016502670A
公开(公告)日：2016-01-28
申请号：JP2015546140
申请日：2013-12-05
Applicant: ジェネポック・インコーポレイテッドGenepoc Inc. , ジェネポック・インコーポレイテッドGenepoc Inc. , ユニベルシテ・ラバルUniversite Laval , ユニベルシテ・ラバルUniversite Laval
Inventor： ルミュー，ユゴー , シャプドレーヌ，セバスティアン , ベリボー−ビエル，ダビド , グラベル，ジャン−フランソワ
CPC classification number: G01N21/6486 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/443 , G01J2003/102 , G01N21/6408 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/763 , G01N2021/6419 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/061
Abstract: 各々が個々のスペクトルコンテンツを有する複数の励起光線によって励起されるサンプル内の被検体によって生じるルミネセンス光を検出するための調査装置であって、各々が励起光線を発する複数の光源と、サンプルによって生じるルミネセンス光を検出するための少なくとも1つの検出器と、光源からサンプル上の共通励起点へ励起光線の各々について異なる一定の励起光路を定め、サンプル上の励起点から少なくとも1つの検出器へのルミネセンス光の共有ルミネセンス光路を定める光学アセンブリとを備え、励起光路およびルミネセンス光路はサンプルの同じ側にあり、光学アセンブリは、サンプルに励起光を投射しサンプルからのルミネセンス光を集光するサンプル側光学部品を含む、調査装置。
Abstract translation: 用于检测由样品中的主题，其由多个具有单独的频谱内容，多个光源，每个发射激发光的激发光光束的激发产生的发光光，由样本每个A勘测设备 和至少一个检测器的发光光，用于检测所得到的，限定了共同为每个来自所述光源，所述样品到所述至少一个检测器的激发点上的样品的激发光束恒定激励光路的不同激发点 以及光学组件，其限定所述发光光的共享发光光路中，所述激发光路与发光光路是在样品上的相同侧，该光学组件项目的激发光到样品收集来自样本的发光光 包括样品侧的光学部件的光学调查装置。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
396
records
(took 0.027 seconds)
