Spectral optical system and spectral measuring apparatus
    185.
    发明专利
    Spectral optical system and spectral measuring apparatus 审中-公开
    光谱系统和光谱测量装置

    公开(公告)号:JP2013181926A

    公开(公告)日:2013-09-12

    申请号:JP2012047370

    申请日:2012-03-02

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectral optical system which is suitable for detecting light having a specific wavelength area, and a spectral measuring apparatus using the same.SOLUTION: A spectral optical system is equipped with: a reflection member; a diffraction grating; and an input element. The reflection member has a recessed surface provided along a first circle having the center. The diffraction grating has an edge part, is provided in the projected shape along a second circle which is concentric with the first circle, light reflected on the recessed surface of the reflection member is made incident on the diffraction grating. The input element is arranged at a predetermined position to the reflection member and the diffraction grating so that diffraction light passes between input light input in the spectral optical system and the edge part of the diffraction grating. The diffraction light is the one which has a wavelength area of 600 nm or more and 1,100 nm or less, emitted from the diffraction grating, and reflected on the recessed surface.

    Abstract translation: 要解决的问题:提供适合于检测具有特定波长区域的光的光谱系统和使用该光谱系统的光谱测量装置。解决方案:光谱系统配备有:反射构件; 衍射光栅; 和一个输入元素。 反射构件具有沿着具有中心的第一圆形设置的凹陷表面。 衍射光栅具有边缘部分,沿着与第一圆心同心的第二圆形以投影形状设置,反射在反射构件的凹入表面上的光入射到衍射光栅上。 输入元件布置在反射构件和衍射光栅的预定位置处,使得衍射光通过在光谱系统中输入的输入光与衍射光栅的边缘部分之间。 衍射光是从衍射光栅发射并在凹面上反射的波长面积为600nm以上且1100nm以下的衍射光。

    Tilt structure, method of manufacturing the tilt structure, spectral filter, and spectral sensor
    186.
    发明专利
    Tilt structure, method of manufacturing the tilt structure, spectral filter, and spectral sensor 有权
    倾斜结构,制造倾斜结构的方法,光谱过滤器和光谱传感器

    公开(公告)号:JP2011218453A

    公开(公告)日:2011-11-04

    申请号:JP2010086767

    申请日:2010-04-05

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To manufacture a minute tilt structure.SOLUTION: A method for manufacturing the tilt structure includes the steps of:forming a shaft section 13b on a substrate section 13a; forming a sacrificial film, from which an upper surface of the shaft section is exposed, and which has an upper surface continuous to the upper surface of the shaft section, on the substrate section 13a; providing a tilt structure film 7 to the upper surface of the shaft section and the upper surface of the sacrificial film; providing a thin film section 11 located on a corner section composed of the upper surface of the shaft section and a side surface of the shaft section to the tilt structure film by processing the tilt structure film 7 located on the corner section so as to have a thin film thickness;removing the sacrificial film between the tilt structure film 7 and the substrate section 13a; supplying a space between the tilt structure film and the substrate section with a fluid 18, removing the fluid 18 to thereby bend the tilt structure film in the thin film section 11, and bonding an end of the tilt structure film to the substrate section to thereby forming an acute angle by the substrate section and the tilt structure film.

    Abstract translation: 要解决的问题:制造微小的倾斜结构。 解决方案:用于制造倾斜结构的方法包括以下步骤:在基底部分13a上形成轴部分13b; 在所述基板部13a上形成牺牲膜,所述牺牲膜从所述轴部的上表面露出,并且具有与所述轴部的上表面连续的上表面; 在轴部的上表面和牺牲膜的上表面上设置倾斜结构膜7; 通过处理位于角部的倾斜结构膜7,将设置在由轴部的上表面组成的角部上的薄膜部11和轴部的侧面设置到倾斜结构膜,从而具有 去除倾斜结构膜7和基板部分13a之间的牺牲膜; 用流体18在倾斜结构膜和基板部分之间提供空间,去除流体18,从而使薄膜部分11中的倾斜结构膜弯曲,并将倾斜结构膜的一端接合到基板部分,由此 由基板部和倾斜结构膜形成锐角。 版权所有(C)2012,JPO&INPIT

    Light quantity measuring apparstus
    187.
    发明专利
    Light quantity measuring apparstus 有权
    光量测量装置

    公开(公告)号:JP2009115631A

    公开(公告)日:2009-05-28

    申请号:JP2007289255

    申请日:2007-11-07

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light quantity measuring instrument capable of measuring properly a light to be measured of which the light quantity is fluctuated periodically, in a short time.
    SOLUTION: Charges generated and accumulated in a photodiode 128 in a measuring period are read in, a plurality of times, a control computation part 122 obtains pixel data D(1,i), D(2,i) to D(M,i) (i=1, 2, to N), in response to quantity of the charges Q(1,i), Q(2,i) to Q(M,i) generated and accumulated by the photodiodes 128, respectively, in a plurality of accumulation periods SP(1), SP(2) to SP(M) provided by dividing the measuring period MP. The control computation part 122 integrates the plurality of pixel data D(1,i), D(2,i) to D(M,i) and calculates pixel data D(1), D(2) to D(N), in response to quantity of the charges Q(1), Q(2) to Q(N) generated and accumulated by the photodiodes 128 in the measuring period MP.
    COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种能够在短时间内适当地测量光量周期性波动的被测光的光量测量仪器。 解决方案:在测量周期内产生并累积在光电二极管128中的电荷被多次读入,控制计算部分122获得像素数据D(1,i),D(2,i)至D( 响应于由光电二极管128产生和累积的电荷Q(1,i),Q(2,i)至Q(M,i)的数量,M,i)(i = 1,2, 分别在通过划分测量周期MP提供的多个累积周期SP(1),SP(2)至SP(M)中。 控制计算部分122将多个像素数据D(1,i),D(2,i)与D(M,i)进行积分并计算像素数据D(1),D(2)至D(N) 响应于在测量周期MP中由光电二极管128产生和累积的电荷Q(1),Q(2)至Q(N)的量。 版权所有(C)2009,JPO&INPIT

    分光特性測定装置
    188.
    发明专利
    分光特性測定装置 有权
    分光特性测量装置

    公开(公告)号:JPWO2014054488A1

    公开(公告)日:2016-08-25

    申请号:JP2014539680

    申请日:2013-09-25

    Abstract: 本発明に係る分光特性測定装置は、被測定物の内部の複数の測定点から発せられた測定光を固定反射部の反射面と可動反射部の反射面に入射させる入射光学系と、固定反射部の反射面で反射された固定反射測定光と可動反射部の反射面で反射された可動反射測定光を同一点に導いて両反射測定光の干渉光を形成する結像光学系と、干渉光の強度を検出するための複数の画素を有する光検出部と、結像光学系と光検出部の間の光路に配置された透過率が異なる複数の領域を有するフィルタであって、光検出部の各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過するように構成された透過フィルタと、可動反射部を移動させたときの光検出部の各画素の検出信号から測定光のインターフェログラムを求め、このインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部とを備える。

    Abstract translation: 根据本发明的分光特性测量装置,用于输入从所述对象的固定的反射部分的可动反射部分的反射表面上的测量点发射的测量光的多个入射光学系统的内部进行测量时,一个固定的反射 用于形成由所述反射面反射的可动反射的测量光,其中固定反射的干涉光的成像光学系统反射的测量光束和可动反射部分被引导到同一个点都反射由反射表面部分测量光,干涉 具有用于检测的光的强度的多个像素,并且成像光学系统,并在之间的光路的光检测器布置透射率的光检测器是具有多个不同区域的过滤器,所述光检测 发送滤波器固定反射的测量光束和可动反射测量光形成干涉光入射在每个像素部分被配置为发送相同的区域中,每个光的移动可移动反射器区段时检测单元 它获得的测量光的干涉从像素的检测信号,这 和用于确定基于所述干涉图的测量光的光谱的处理单元。

    測光装置
    189.
    发明专利
    測光装置 审中-公开
    光学设备

    公开(公告)号:JP2016053550A

    公开(公告)日:2016-04-14

    申请号:JP2014180371

    申请日:2014-09-04

    Abstract: 【課題】センサに入射する光線の状態を改善して測定精度を改善した測光装置を提供する。 【解決手段】測定対象となる光が入射される測光センサ30と、測光センサが出力するセンサを処理する信号処理手段と、外部光を測光センサに導入する光学系50,100,92,93,150とを備える測光装置1を、光学系の一部に測光センサの受光面に対して垂直な方向に沿って中心軸が配置された柱状のファイバロッド100を設けた構成とする。 【選択図】図6

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种通过改善进入传感器的光束的状态来提高测量精度的光度测量装置。解决方案:光度测量装置1包括:光度传感器30,待测光进入该测光传感器30; 信号处理装置,用于处理由测光传感器输出的传感器; 以及用于将外部光引入测光传感器的光学系统50,100,92,93和150。 该测光装置在光学系统的一部分处包括柱状纤维杆100,其中轴线沿着与光度传感器的光接收表面垂直的方向设置。图6

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