-
公开(公告)号：CN113533484A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110405748.X
申请日：2021-04-15
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N27/447
Abstract: 本发明提供一种电动电位测定用夹具，其不需要专用工具就能以简便的作业将试样配置于盒。用于电泳迁移率测定装置的电动电位测定用夹具具有：框体，具有相互对置配置并且在分别对应的位置具有开口的第一和第二保持壁以及将第一与第二保持壁的各下端连结的底壁；中间块，在第一与第二保持壁之间构成保持试样的保持空间的一部分，在配置于开口的侧方的盒的上方或下方邻接配置；以及盒按压件，在第一与第二保持壁之间配置于比中间块靠上方，将盒和中间块向底壁侧按压，第一和第二保持壁中的至少一方具有用于从侧方支承中间块的第一槽或与第一突起中的一方，该第一突起弹性地嵌合于该第一槽，中间块具有第一槽或第一突起中的另一方。
-
公开(公告)号：CN113532296A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110399632.X
申请日：2021-04-14
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明涉及一种光学测定系统、多层膜制造装置和光学测定方法。光学测定系统包括：光源，其用于产生测定光；受光部，其接受向试样照射测定光产生的反射光或透射光作为观测光；以及生成部，其基于表示试样的最上层的光学特性的第一矩阵和表示试样的除最上层以外的层的光学特性的第二矩阵来生成理论干涉光谱。光学测定系统还包括：拟合部，其以使理论干涉光谱与观测光的光谱即实测干涉光谱一致的方式更新试样的最上层的膜厚，由此决定该膜厚；以及更新部，其使用由拟合部决定出的膜厚来更新第二矩阵。
-
-
公开(公告)号：CN106918308B
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN201611166680.X
申请日：2016-12-16
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备：透射测定投光部(2)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光；透射测定受光部(3)，其接收测定光的透射光，获取透射光的偏振状态；倾斜测定投光部(41)，其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射倾斜检测用光(L1)；倾斜测定受光部(43)，其接收倾斜检测用光(L1)的反射光(L2)，获取反射光(L2)的受光位置；和控制部(10)，其根据反射光(L2)的受光位置，算出液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角，根据测定光的照射角度、液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角和透射光的偏振状态，算出液晶基板(LC)中所含的液晶分子的预倾角。
-
公开(公告)号：CN111707357A
公开(公告)日：2020-09-25
申请号：CN202010190663.X
申请日：2020-03-18
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本申请提供一种能从计测球面上的较宽的范围计测发光体的亮度的、容易小型化的发光体计测装置及发光体计测方法。发光体计测装置在从保持部(50)观察支承部(42)位于轴(A2)的一侧的非反转姿势和从保持部(50)观察支承部(42)位于轴(A2)的另一侧的反转姿势中，在非反转姿势下使第一臂(30)和第二臂(40)转动，从计测球面的第一区域内的多个拍摄位置获取样本(80)的亮度数据，在反转姿势下使第一臂(30)和第二臂(40)转动，从与第一区域邻接的第二区域内的多个所述拍摄位置获取样本(80)的亮度数据。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111486794A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202010074101.9
申请日：2020-01-22
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种光学测定系统和光学测定方法，提供一种针对在以往的光学测定装置中测定精度可能降低的样品也能够更高精度地测定光学特性的结构。光学测定系统包括：光源，其发出用于向样品照射的测定光；分光检测器，其接收由测定光在样品处产生的反射光或透射光；以及处理装置，其被输入分光检测器的检测结果。处理装置构成为能够执行以下处理：基于分光检测器的检测结果，来计算第一光谱；在第一光谱中确定与波长有关的振幅的变化满足规定条件的区间；以及使用从第一光谱去除所确定的区间的信息所得到的第二光谱，来计算样品的光学特性。
-
公开(公告)号：CN106304845B
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201580002344.9
申请日：2015-04-24
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 水口勉
IPC: G01M11/02
Abstract: 光学测定装置的控制部在旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下，将由光源产生的固定强度的光照射到照射区域，并且基于通过由第二检测部接收所照射出的该光的反射光或透射光而输出的强度随时间的变化来获取第一定时信息，其中，该照射区域是样本随着旋转体的旋转而经过的区域。控制部在旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下，将使光源按照第一定时信息周期性地产生的脉冲状的光照射到照射区域，并且基于通过使第一检测部的测定按照第一定时信息周期性地有效化而输出的结果来获取第二定时信息。
-
公开(公告)号：CN109405752A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201810568763.4
申请日：2018-06-05
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/06 , G01B9/02024 , G01B9/02041 , G01B9/02043 , G01B11/0625 , G01N21/00 , G01N21/45 , G01N21/8422 , G01B11/0675 , G01N2021/458
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，包括：照射光学系统，向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光；测量光学系统，接受通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或反射光的直线状测量干涉光；及处理装置。测量光学系统包括：衍射光栅，将测量干涉光向与该测量干涉光的长尺寸方向正交的方向波长扩展；以及摄像部，接受由衍射光栅波长扩展了的测量干涉光并输出二维图像。处理装置包括：第一计算单元，与二维图像上的与被照射测量光的测量对象的各测量点对应的区域关联地，计算与从各测量点到测量光学系统的入射角对应的校正因数；及第二计算单元，对二维图像中包含的各像素值使用对应的校正因数，并在此基础上计算测量对象的光学特性。
-
公开(公告)号：CN109163666A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201810568761.5
申请日：2018-06-05
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/06 , G01B9/02024 , G01B9/02041 , G01B9/02043 , G01B11/0625 , G01N21/00 , G01N21/45 , G01N21/8422 , G01B11/0675 , G01N21/453
Abstract: 本发明提供一种使用了光学测量装置的光学测量方法，所述光学测量装置具备：照射光学系统，向测量对象直线状地照射具有规定的波长范围的测量光；以及测量光学系统，将通过测量光的照射而从测量对象产生的作为透射光或者反射光的直线状的测量干涉光向与该测量干涉光的长尺寸方向正交的方向进行波长扩展，并输出二维图像。光学测量方法包括：针对同一样品取得使入射角不同的情况的实测值分布的步骤；与二维图像上的与被照射测量光的测量对象的各测量点对应的区域关联地，计算与从各测量点到测量光学系统的入射角对应的校正因数的步骤；以及基于沿实测值分布的任一方向的一列或多列像素值集、和对应的校正因数，计算包含样品的折射率的光学特性的步骤。
-
公开(公告)号：CN104603588B
公开(公告)日：2017-09-12
申请号：CN201480002262.X
申请日：2014-02-26
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 白岩久治
IPC: G01J3/02
Abstract: 一种分光光度计，其特征在于，包括：光检测部，其将所接收的光转换为电信号并输出；电路部，其包括多个增益放大器和多个AD转换器，对来自所述检光检测部的输出信号使用所述多个增益放大器以多个增益进行放大，并使用所述多个AD转换器转换为数字信号，作为多个光量数据予以输出；饱和判定部，其判定来自所述电路部的各光量数据是否饱和；以及测量结果计算部，其根据所述饱和判定部的判定结果，使用所述多个光量数据中的一部分或者全部的光量数据计算所述所接收的光的测量结果。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
143
records
(took 0.053 seconds)
