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公开(公告)号:CN117825008A
公开(公告)日:2024-04-05
申请号:CN202410034906.9
申请日:2024-01-09
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光照设备技术领域,特别涉及一种多光路光束指向测试系统及方法。该系统包括:控制器以及沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个呈扇形排列的平行光管、一个匀光板、一个光学单元、一个光学探测器;每个光源均位于一个平行光管的入光侧;匀光板设置于平行光束的交汇处,用于接收平行光管发出的平行光束并形成照明光斑;光学单元将照明光斑成像在光学探测器上;控制器与光学探测器电连接,光学探测器对照明光斑进行光电转换,得到照明光斑的图像信息,并将图像信息发送给控制器;控制器对图像信息进行计算,得到照明光斑的位置偏差。装调人员根据位置偏差调整平行光管。本发明可以提供高精度的测量结果,同时有效提高光管装调效率。
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公开(公告)号:CN115328260A
公开(公告)日:2022-11-11
申请号:CN202210981512.5
申请日:2022-08-15
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G05F1/567
Abstract: 本发明涉及一种基于温度与偏压闭环反馈的APD灵敏度控制装置,包括电源、限流电阻、采样电阻、采样放大电路、比较电路、定时电路、开关管、反向偏置电容以及温控电路。其中电源、限流电阻、采样电阻、采样电路、比较电路、定时电路、开关管、反向偏置电容组成偏压控制限流保护模块,确保APD偏置电压随杂光无变化、无过流损坏且保持高灵敏度;温控电路基于自适应闭环控制技术,结合软启动及驱动限流设计,实现APD结温的精确恒定控制,保证复杂环境条件下,APD高灵敏度、高精度探测。
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公开(公告)号:CN109521582B
公开(公告)日:2021-04-13
申请号:CN201811482373.1
申请日:2018-12-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G02B27/62
Abstract: 本发明涉及一种光学镜头光轴表征方法、系统以及成像组件对准方法,属于光学器件装配领域。本发明实施例提供的一种光学镜头光轴表征方法,通过在光学镜头上设置基准元件,通过定心仪及两套六自由度位置调节组件,使基准元件的法线与光学镜头的光轴方向一致,根据两个基准元件对应的位置标识特征及位移量确定基准元件法线与光学镜头光轴在水平面内的相对位置,当向基准元件照射光时,根据基准元件反射回像及确定的相对位置即可表征光学镜头光轴,该方法表征的光轴指向精度高(光轴引出精度≤0.5′),提高了光学镜头与其他成像组件的装调时的对准精度,对准精度≤1′。
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