一种基于辅助姿态信息的星图快速捕获方法

    公开(公告)号:CN118882664A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410983840.8

    申请日:2024-07-22

    Abstract: 本发明涉及一种基于辅助姿态信息的星图快速捕获方法,包括:根据辅助姿态信息预测导航星在探测器上成像的位置;根据辅助姿态误差确定导航星对应的观测星可能在探测器上成像的区域范围;根据导航星在探测器上成像的位置、导航星对应的观测星可能在探测器上成像的区域范围,对每颗导航星及其对应的观测星进行分区,并按照分区建立可疑星对矩阵;利用可疑星对矩阵进行导航星四面体匹配,完成星图捕获。本发明解决了星敏感器在大量伴飞物环境下捕获时间过长的问题。

    一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置

    公开(公告)号:CN116858134B

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202310831764.4

    申请日:2023-07-07

    Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域,特别涉及一种高精度光电角位移传感器位置解算方法及装置,其中方法包括:获取读数器采集的至少一行条纹图像数据;进行预处理;进行电子细分至所需精度;确定单个条纹位所对应的数据长度;对电子细分后的一行条纹图像数据进行分组,得到多组数据;确定当前的条纹位的最佳采样点;基于当前的各条纹位的最佳采样点灰度,得到对应的位置编码,并结合编码规则,确定当前码盘位置的粗略读数;基于当前的条纹位的最佳采样点在对应单个条纹位的一组数据中的位置,确定当前码盘位置的精细读数;确定当前码盘的具体位置,进而确定角位移。本发明能够快速、精确解算当前码盘位置。

    一种变行程自适应调整准零刚度装置及参数校核方法

    公开(公告)号:CN113919190A

    公开(公告)日:2022-01-11

    申请号:CN202110978217.X

    申请日:2021-08-23

    Abstract: 一种变行程自适应调整准零刚度装置及参数校核方法,包括:积分球、靶标、平行光管、指向测量仪器、扰动源、惯量模拟工装、准零刚度悬吊调整装置、光学气浮平台;积分球、靶标和平行光管安装于气浮台上;积分球提供光源,靶标提供点目标信息,平行光管模拟无穷远;指向测量仪器为被测对象,指向测量仪器与惯量模拟工装固定连接;三个扰动源安装在惯量模拟工装上,为指向测量仪器提供微小扰动及惯量;准零刚度悬吊调整装置将惯量模拟工装悬吊,提供自由边界环境;准零刚度悬吊调整装置、指向测量仪器、扰动源及惯量模拟工装整体构成一套二摆系统。本发明对极高精度空间指向测量仪器在平台微振动环境下的影响进行全面评估和量化分析。

    航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置

    公开(公告)号:CN117408271B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202311344162.2

    申请日:2023-10-17

    Abstract: 本发明涉及航天移动测控技术领域,特别涉及一种航天测控光电编码器读数器安装位置校准方法及装置,其中方法包括:获取读数器所接收到的条纹图像;对第一行的像元传感数据进行电子细分,得到线阵图像;选取包含多个完整条纹的连续线阵片段,确定对应的电子细分数据数;估算单条纹所占电子细分数据数理论值;根据估算理论值和连续线阵片段对应的电子细分数据数,计算实际完整条纹数;根据实际完整条纹数和连续线阵片段对应的电子细分数据数,精确计算单条纹所占电子细分数据数;基于单条纹所占电子细分数据数及理论值,判断读数器是否安装到位。本发明能够快速确定光电编码器读数器是否安装到位,并指导调节读数器位置。

    一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法

    公开(公告)号:CN117387528A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311344163.7

    申请日:2023-10-17

    Abstract: 本发明涉及航天测控技术领域,特别涉及一种高精度光电角位移传感器、编码方法及测量方法,其中编码方法包括:根据光电角位移传感器参数,确定粗码和细码;粗码由阵列式排布的点位组成,每个点位上有圆点表示0编码而无圆点表示1编码,用于表示各位置编码;细码由等间距分布的等宽竖向条纹组成,每一条纹对应粗码中的一列点位,细码用于提供边缘位置信息;沿圆柱状码盘的周向布设粗码和细码,令粗码中点位列向及细码中各条纹长度方向沿码盘的轴向设置,且粗码的每一列点位均与细码中对应的条纹在码盘的轴向上对齐。本发明能够大幅降低单组位置编码所占宽度,解决位置编码宽度长与光学系统视场小之间的矛盾,进而提高光电角位移传感器测量精度。

    一种Wolter-I型X射线光学反射镜片性能评价方法

    公开(公告)号:CN110702380A

    公开(公告)日:2020-01-17

    申请号:CN201910889115.3

    申请日:2019-09-19

    Abstract: 本发明涉及一种Wolter-I型X射线光学反射镜片性能评价方法,属于空间光学技术领域;步骤一、选取光学反射镜片;步骤二、在光学反射镜片的外壁划分斜率误差测量网格和圆度误差测量网格;步骤三、测量得到斜率误差hk,i、圆度误差和实际半径rj;步骤四、计算转换斜率误差数据h'k,i;并根据转换斜率误差数据重构拟合镜面;步骤五、建立一条入射光线从抛物面主镜射入光学反射镜片;步骤六、确定第一反射点a、a点的法向量及第一次反射后的出射方向;步骤七、确定第二反射点b、法向量及第二次反射后的出射方向;步骤八、根据全部聚焦点的分布范围,判断光学反射镜片的性能;本发明将准确度高、计算量小、效率高。

Patent Agency Ranking