대면적 그래핀의 결함 검사 방법
    14.
    发明公开
    대면적 그래핀의 결함 검사 방법 无效
    检测大面积石墨缺陷的方法

    公开(公告)号:KR1020160090141A

    公开(公告)日:2016-07-29

    申请号:KR1020150010059

    申请日:2015-01-21

    CPC classification number: G01N21/8803 C21D1/00 C23C16/00 G01N1/28

    Abstract: 광학현미경을이용하여금속기판상에성장된대면적그래핀의결함을검사하는방법이개시된다. 광학현미경을이용하여금속기판상에성장된대면적그래핀의결함을검사하는방법은상기대면적그래핀이성장된금속기판을습기가제거된건조한분위기및 산소분위기에서열처리하는산소분위기건식열처리단계를포함하고, 상기산소분위기건식열처리단계동안산소가상기그래핀의결함을통과하여상기결함에대응하는상기금속기판의부분을산화시킴으로써상기대면적그래핀의결함을검사할수 있다.

    Abstract translation: 公开了使用光学显微镜检测在金属基板上生长的大面积石墨烯中的缺陷的方法。 根据本发明的实施例,使用光学显微镜检测在金属基板上生长的大面积石墨烯中的缺陷的方法包括:氧气氛干热处理步骤,对金属基板进行热处理, 大面积石墨烯生长在除去水分和氧气的干燥气氛中; 并且能够通过在氧气氛干热处理步骤期间使氧通过石墨烯的缺陷来检测大面积石墨烯的缺陷,对与该缺陷相对应的金属基板的一部分进行氧化。

    이종 적층 구조체 및 그 제조방법, 및 상기 이종 적층 구조체를 구비하는 전기소자
    15.
    发明公开
    이종 적층 구조체 및 그 제조방법, 및 상기 이종 적층 구조체를 구비하는 전기소자 无效
    不均匀层状结构,制备异质层状结构的方法,以及包含异质层状结构的电气装置

    公开(公告)号:KR1020140114199A

    公开(公告)日:2014-09-26

    申请号:KR1020130028757

    申请日:2013-03-18

    Abstract: Disclosed is a heterogeneous layered structure of a hexagonal boron nitride sheet (h-BN) and a graphene sheet, an electric device using the same, and a fabricating method thereof. The heterogeneous layered structure has a high quality interface state having few impurities between the h-BN sheet and the graphene sheet, by successively forming the graphene sheet with a vapor deposition method after a large-area h-BN sheet is grown on a metal substrate with a vapor deposition method. The heterogeneous layered structure of the h-BN and the graphene which has a high quality interface condition and a large area can be used for various electronic devices including a FET.

    Abstract translation: 公开了六方氮化硼片(h-BN)和石墨烯片的异质层状结构,使用其的电子装置及其制造方法。 通过在大面积h-BN片材在金属基板上生长后,通过依次形成石墨烯片材,通过依次形成石墨烯片,异质层状结构具有h-BN片和石墨烯片之间杂质少的高质量界面状态 用气相沉积法。 具有高质量界面条件和大面积的h-BN和石墨烯的异质分层结构可用于包括FET的各种电子器件。

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