公开(公告)号：CA2284029A1

公开(公告)日：2000-03-29

申请号：CA2284029

申请日：1999-09-28

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL ,  PATENT TREUHAND GES FUER ELEKTRISCHE GLUEHLAMPEN MBH

Inventor： CANTONE GIUSEPPE ,  GARIBOLDI ROBERTO ,  FISCHER KLAUS

IPC: H05B37/02 ,  H05B41/42 ,  H05B41/38

Abstract: A circuit is described with which an operation circuit for a discharge lamp can be switched between .operation states with different lamp currents by short interruptions of the power supply. Long interruptions than a certain time threshold result in basic state operation.

公开(公告)号：ITVA990035D0

公开(公告)日：1999-11-23

申请号：ITVA990035

申请日：1999-11-23

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： CANTONE GIUSEPPE ,  CAPPELLETTI ROBERTO

IPC: G01R31/3185 ,  G11C17/16 ,  G11C17/18

Abstract: Functions for simulating, burning and controlling integrated fuses of a device are provided by a dedicated circuit which, instead of differing from other circuits, is integrated by sharing part of the registers with the circuit that normally exists to scan test the integrity of the state of the device. The architecture is simplified and only requires an additional pin as compared to a common scan test circuit.

公开(公告)号：DE102016109333A1

公开(公告)日：2017-05-18

申请号：DE102016109333

申请日：2016-05-20

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： PULVIRENTI FRANCESCO ,  CAGGEGI GIOVANNI ,  PALUMBO VINCENZO ,  CANTONE GIUSEPPE

IPC: H03K17/06

Abstract: Schaltung zum Vorsehen eines Hochspannungsleiterpfades der Art einer Diode mit niedrigem Spannungsabfall zwischen einem Gleichspannungsversorgungsanschluss (VCC) und einem Bootstrap-Anschluss (BOOT) beim Laden eines Versorgungskondensators (CB) zum Treiben (HS_DRV) eines Leistungsschalters (PW1), wobei der Kondensator (CB) zwischen dem Bootstrap-Anschluss (BOOT) und einem Ausgangsanschluss (OUT) angeordnet ist, der alternativ zwischen einer Niederspannung (GND) und einer Hochspannungs-Gleichspannung (HV rail) schaltbar ist (PW2). In einer Ausführungsform weist die Schaltung einen ersten (LD1) und einen zweiten (LD2) Transistor, wie z. B. LDMOS-Verarmungstransistoren, auf, wobei der erste (LD1) Transistor in einer Kaskoden-Anordnung zwischen dem Bootstrap-Anschluss (BOOT) und dem Gleichspannungsversorgungsanschluss (VCC) angeordnet ist und der zweite Transistor (LD2) mit einem Messkomparator (CMP) zum Vergleichen der Spannung an dem Bootstrap-Anschluss (BOOT) mit der Spannung an dem Gleichspannungsversorgungsanschluss (VCC) gekoppelt ist. Der erste (LD1) und der zweite (LD2) Transistor haben gemeinsame mit dem Gleichspannungsversorgungsanschluss (VCC) gekoppelte Steueranschlüsse (G) und gemeinsame Kopplungsanschlüsse (D) zu dem Bootstrap-Anschluss (BOOT).

公开(公告)号：DE69727807D1

公开(公告)日：2004-04-01

申请号：DE69727807

申请日：1997-10-10

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： GENOVA ANGELO ,  GARIBOLDI ROBERTO ,  CANTONE GIUSEPPE

IPC: H03K3/011 ,  H03K3/0232 ,  H03K3/355

公开(公告)号：IT1313401B1

公开(公告)日：2002-07-23

申请号：ITVA990035

申请日：1999-11-23

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： CANTONE GIUSEPPE ,  CAPPELLETTI ROBERTO

IPC: G01R31/3185 ,  G11C17/16 ,  G11C17/18

Abstract: Functions for simulating, burning and controlling integrated fuses of a device are provided by a dedicated circuit which, instead of differing from other circuits, is integrated by sharing part of the registers with the circuit that normally exists to scan test the integrity of the state of the device. The architecture is simplified and only requires an additional pin as compared to a common scan test circuit.

公开(公告)号：IT201600102282A1

公开(公告)日：2018-04-12

申请号：IT201600102282

申请日：2016-10-12

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： NIZZA ALESSANDRO ,  ALETTI ROBERTO ,  PULVIRENTI FRANCESCO ,  CANTONE GIUSEPPE

IPC: H04B3/04

公开(公告)号：DE69705217T2

公开(公告)日：2001-09-20

申请号：DE69705217

申请日：1997-08-07

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： GENOVA ANGELO ,  CANTONE GIUSEPPE ,  GARIBOLDI ROBERTO

IPC: H03K5/08 ,  G05F3/26 ,  H03K17/16 ,  G05F1/00 ,  G05F1/575

公开(公告)号：ITVA990035A1

公开(公告)日：2001-05-23

申请号：ITVA990035

申请日：1999-11-23

Applicant: ST MICROELECTRONICS SRL

Inventor： CANTONE GIUSEPPE ,  CAPPELLETTI ROBERTO

IPC: G01R31/3185 ,  G11C17/16 ,  G11C17/18

Abstract: Functions for simulating, burning and controlling integrated fuses of a device are provided by a dedicated circuit which, instead of differing from other circuits, is integrated by sharing part of the registers with the circuit that normally exists to scan test the integrity of the state of the device. The architecture is simplified and only requires an additional pin as compared to a common scan test circuit.