多层基板及其制造方法
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1767719B

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN200510103151.0

    申请日:2005-09-16

    Abstract: 多层基板及其制造方法。本发明提供了一种设计自由度高、适合高密度安装的高性能的多层基板及其制造方法。本发明的多层基板包括层叠的多个绝缘层和在各绝缘层之间形成的配线图形,上述配线图形包括具有预定厚度的第1配线图形(40)和厚度大于上述第1配线图形的第2配线图形(41),它们共存于同一层内。通过消去法,对厚度一定的导电层(32)进行构图而形成第1配线图形(40)。在形成通孔的同一工序中,通过开孔加工,形成图形形成用槽,然后用导电性材料同时填充通孔和图形形成用槽的内部,由此形成第2配线图形(41)。第1配线图形可优选用作为图形的宽度和厚度偏差小、要求相对于绝缘层的图形厚度精度的高频电路用LC图形和要求阻抗匹配的通常的配线图形。第2配线图形可优选用作为扼流圈用L图形。

    吸附喷嘴及具备其的外观检查装置和电路基板的制造方法

    公开(公告)号:CN109425615A

    公开(公告)日:2019-03-05

    申请号:CN201811009845.1

    申请日:2018-08-31

    Abstract: 本发明提供适于在半导体芯片等平板状的电子部件产生的裂痕或裂缝的检测的吸附喷嘴。具备:吸附面(121),与半导体芯片(C)的主面(C1)相接;抽吸口(122a~122d),设于吸附面(121),吸附面(121)具有凸面形状,由此,在通过抽吸口(122a~122d)抽吸半导体芯片(C)的主面(C1)时,反映吸附面(121)的凸面形状,半导体芯片(C)的主面(C1)变形为凹面,半导体芯片(C)的背面(C2)变形为凸面。这样,当吸附半导体芯片(C)时,背面(C2)变形为凸面,因此,可扩大在背面(C2)产生的裂痕或裂缝。因此,可由外观检查装置容易地检测在半导体芯片(C)的背面(C2)产生的裂痕或裂缝。

    前端模块和通信终端
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1503591A

    公开(公告)日:2004-06-09

    申请号:CN200310114829.6

    申请日:2003-11-07

    CPC classification number: H04B1/48 H04B1/0475

    Abstract: 一种小型的前端模块被提供,该前端模块用在诸如移动电话的无线通信设备中,并且它可以将谐波抑制到充分低的电平。该前端模块具有至少一个用于在发射系统和接收系统之间切换一个天线的开关电路、用于将发射信号的功率放大的功率放大器和插入到该开关电路和功率放大器之间的低通滤波器。这些组件被集成。第一种谐波从该开关电路朝该功率放大器产生并被该低通滤波器反射。第二种谐波从该功率放大器朝天线产生。第三种谐波从该开关电路朝该天线产生。第三种谐波被反射的第一种谐波以及第二种谐波抵消。

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