Aerogel-bases mold for MEMS fabrication and formation thereof
    11.
    发明公开
    Aerogel-bases mold for MEMS fabrication and formation thereof 审中-公开
    形成Aerogelbasis zur MEMS-Herstellung und -Bildung

    公开(公告)号:EP2082990A2

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:EP09150686.5

    申请日:2009-01-15

    Abstract: The invention is directed to a patterned aerogel-based layer that serves as a mold for at least part of a microelectromechanical feature. The density of an aerogel is less than that of typical materials used in MEMS fabrication, such as poly-silicon, silicon oxide, single-crystal silicon, metals, metal alloys, and the like. Therefore, one may form structural features in an aerogel-based layer at rates significantly higher than the rates at which structural features can be formed in denser materials. The invention further includes a method of patterning an aerogel-based layer to produce such an aerogel-based mold. The invention further includes a method of fabricating a microelectromechanical feature using an aerogel-based mold. This method includes depositing a dense material layer directly onto the outline of at least part of a microelectromechanical feature that has been formed in the aerogel-based layer.

    Abstract translation: 本发明涉及用作至少部分微机电特征的模具的图案化气凝胶基层。 气凝胶的密度小于MEMS制造中使用的典型材料的密度,例如多晶硅,氧化硅,单晶硅,金属,金属合金等。 因此,可以以比在更致密的材料中形成结构特征的速率显着更高的速率在气凝胶层中形成结构特征。 本发明还包括一种图案化气凝胶层以产生这种基于气凝胶的模具的方法。 本发明还包括使用基于气凝胶的模具制造微机电特征的方法。 该方法包括将致密材料层直接沉积在已经形成在气凝胶层中的微机电特征的至少一部分的轮廓上。

    REFERENCE LEAK GENERATING DEVICE AND ULTRA-FINE LEAK TESTING DEVICE USING SAME
    17.
    发明申请
    REFERENCE LEAK GENERATING DEVICE AND ULTRA-FINE LEAK TESTING DEVICE USING SAME 审中-公开
    参考泄漏发生装置和使用相同的超微细泄漏测试装置

    公开(公告)号:US20150323408A1

    公开(公告)日:2015-11-12

    申请号:US14443904

    申请日:2013-11-12

    Abstract: There is provided a reference leak generating device capable of precisely generating an ultra-fine reference leak. The reference leak generating device adapted to be connected to an upstream side of a measurement chamber includes a chamber connected to the measurement chamber through an orifice or a porous plug having a molecular flow conductance C and a pressure to establish molecular flow conditions which are known in advance, and is characterized in that a pressure p1 of testing gas to be introduced into the chamber is precisely determined by using a static expansion method once or more times, and a leak rate of a reference leak at the pressure p1 is obtained in accordance with a product of C and p1.

    Abstract translation: 提供了能够精确地产生超细参考泄漏的参考泄漏产生装置。 适于连接到测量室的上游侧的参考泄漏产生装置包括通过具有分子流导度C和压力的孔口或多孔塞连接到测量室的室,以建立分子流动条件 并且其特征在于,通过使用静态膨胀法一次或多次精确地确定要引入到室中的测试气体的压力p1,并且根据压力p1获得压力p1处的基准泄漏的泄漏率 C和p1的产物。

    MEMS製造のためのエアロゲルベースの型およびその形成方法
    19.
    发明专利
    MEMS製造のためのエアロゲルベースの型およびその形成方法 审中-公开
    用于MEMS制造的基于AIRGEL的模具及其形成方法

    公开(公告)号:JP2014205237A

    公开(公告)日:2014-10-30

    申请号:JP2014126143

    申请日:2014-06-19

    Inventor: CARLSON ROBERT J

    Abstract: 【課題】微小電気機械システム(MEMS)においてパターン形成された材料層を形成するために必要とされる時間を削減する。【解決手段】基板30上のエアロゲルベース層31にパターン形成する。エアロゲルベース層は、微小電気機械特徴の少なくとも一部の型として機能する。エアロゲルベース層に形成された微小電気機械特徴の少なくとも一部の外形上に、重い材料層34を直接堆積し、重い材料の層を残すように基板からエアロゲルベース層を取り除くことで微小電気機械構造を形成する。エアロゲルの密度は、ポリシリコン、酸化シリコン、単結晶シリコン、金属、合金等のMEMS製造に用いられる典型的な材料よりも小さい。それゆえ、重い材料で構造的特徴を形成する場合の速度よりも、エアロゲルベース層で構造的特徴を有意に高い速度で形成することができる。【選択図】図3

    Abstract translation: 要解决的问题:减少在微机电系统(MEMS)中形成图案化材料层所需的时间。解决方案:将气凝胶基层31沉积到基底30上。气凝胶基层至少用作模具 部分微机电特征。 致密材料层34直接沉积在已经形成在气凝胶基层中的微机电特征的至少一部分的轮廓上,并且气相凝胶基材料从基底去除以留下致密材料层, 从而制造微机电结构。 气凝胶的密度小于MEMS制造中使用的典型材料的密度,例如多晶硅,氧化硅,单晶硅,金属,金属合金等。 因此,气凝胶层中的结构特征可以以比在更致密的材料中形成结构特征的速率显着更高的速率形成。

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