公开(公告)号：CN102193197B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201110066239.5

申请日：2011-03-11

Applicant: 株式会社理光

Inventor： 濑尾学 ,  上条直裕 ,  新保晃平 ,  窪田阳一

IPC: G02B27/00 ,  G02B3/08 ,  G03G15/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/502

Abstract: 本发明涉及分光特性取得装置、图像评价装置、以及图像形成装置。其目的在于提供取入光量偏差少且接受光量大的高精度分光特性取得装置。该分光特性取得装置包括光照射装置(1-102)和(1-103)、透镜阵列(1-104)、针孔阵列(1-105)、成像装置(1-106)、衍射装置(1-107)、受光装置(1-108)、以及将多个分光传感器按照单一方向排列成一列的分光传感器阵列，该分光传感器具有按单一方向排列且接受分光特性不同的光的规定数量的像素，透镜阵列的透镜与针孔阵列的开口部一对一对应形成，而且该透镜在其排列方向上的开口值NA与成像装置的最大有效像角度θmax之间满足NA＞sin(θmax)关系。

公开(公告)号：CN103383347A

公开(公告)日：2013-11-06

申请号：CN201310279839.9

申请日：2013-07-04

Applicant: 中国计量科学研究院

Inventor： 孙若端 ,  马煜

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01J1/0295 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0462 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/0297

Abstract: 本发明提供了一种非线性误差的绝对测量方法及装置，其中，非线性误差的绝对测量方法包括：将N个拼接在一起的反射板同时放置于光学测量仪器的样品口，其中，各个所述反射板在所述样品口的覆盖面积相同；在所述光学测量仪器的光路中放置光阑；按照所述光学测量仪器需要测量非线性误差的测量量程，调整使用的反射板的个数，并在每次调整后，获取调整后的所述反射板放置于所述样品口时，所述光学测量仪器的输出结果；对所述输出结果进行非线性误差计算处理，获取所述光学测量仪器输出结果的非线性误差。通过本申请，在保证非线性误差测量精度的同时，实现了对光学测量仪器最终输出结果的非线性误差的测量。

公开(公告)号：CN102175323A

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN201110033821.1

申请日：2011-01-31

Applicant: 重庆大学

Inventor： 张智海 ,  郭媛君 ,  王伟 ,  莫祥霞 ,  黄庆探 ,  张晨旸

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/021 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/2846

Abstract: 一种基于桥式光栅光调制器的阿达玛变换成像光谱仪，可使用线阵探测器或单点探测器。它包括接收光学系统、色散元件、成像镜、桥式光栅光调制器阵列、会聚镜、探测器。目标物的辐射信息通过所述接收光学系统按不同时间顺序逐行成像在色散元件上，经色散元件分光后再经过成像镜成像到可编程桥式光栅光调制器阵列上，通过对桥式光栅光调制器阵列按照阿达玛编码模版编程驱动，使不同波长的光按特定组合通过，并经过会聚镜会聚到探测器上，最后通过阿达玛反变换得到目标物的空间维信息和光谱维信息。该光谱仪具有体积小、重量轻、价格便宜、速度快、性噪比高的优点，可广泛用于航天航空遥感、工业、农业、生物医药、物质分析与分类、宇宙与天文探测、环境与灾害监测、大气探测以及军事目标的搜索与跟踪等领域。

公开(公告)号：CN101995399A

公开(公告)日：2011-03-30

申请号：CN201010255284.0

申请日：2010-08-13

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 军司昌秀

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6467

Abstract: 本发明涉及荧光检测器，以改善样品浓度高时浓度和荧光强度之间关系的非线性，由此提高测量的动态范围。如果已知待测样品的浓度高，则使用在激励光(Lex)的通过方向上孔径(6b)短的光束限制单元(6)，使得仅从靠近激励光入射侧的区域发出的荧光被聚光透镜(7)会聚并导入荧光侧分光仪(4)且被检测。在这种情况下，因为从通过样品溶液(S)并且被样品溶液(S)强吸收的激励光之后的区域发出的荧光不反映在测量结果中，所以尽管荧光数量有所减小，但是浓度和荧光强度之间关系的线性得到改善，因而改善了在高浓度下的量化准确性。如果样品浓度低，则使用具有长度在激励光(Lex)的通过方向上长的孔径(6a)的光束限制单元(6)来改善灵敏度。

公开(公告)号：CN100573061C

公开(公告)日：2009-12-23

申请号：CN03803518.9

申请日：2003-01-28

Applicant: 应用光学电子光学及光谱学开发研究所 ,  分析科学促进学会

Inventor： S·弗罗雷克 ,  H·贝克尔-罗斯 ,  U·海特曼

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/12

CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/08 ,  G01J3/14 ,  G01J3/1809 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/1208 ,  G01J2003/2866

Abstract: 一种谱仪组件(10)，包括一个具有连续谱线的光源(11)，一个用来产生较小线性色散的光谱的预单色仪(2)，从其中可选择一个光谱部分，其光谱带宽小于或等于中阶梯光谱内该序数的自由光谱范围的带宽，其中所选定的光谱间隔的中心波长可以以最大激发效率测定，一个带波长校准装置的中阶梯谱仪(4)，一个处在预单色仪(2)上的入口缝(21)，一个带中间缝(3)的中间缝组件(50)，和一个位于谱仪出口平面、用于检测波长谱的空间分辨光检测器(5)。该组件的特征在于：中间缝(3)的宽度大于在中间缝处由预单色仪产生的入口缝的单色象，并提供了校准预单色仪的装置，该装置用来将具有连续谱线的光源在检测器上的光校准到一个参考位置。

公开(公告)号：CN1846114A

公开(公告)日：2006-10-11

申请号：CN200480025624.3

申请日：2004-07-19

Applicant: 凯米映像公司

Inventor： 约翰·S.·麦尔 ,  帕特里克·J.·特瑞多 ,  王晨晖(音译)

IPC: G01B9/02 ,  G02F1/1335

CPC classification number: G01N21/65 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0283 ,  G01J3/10 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6456 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6423 ,  G01N2021/6471 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0627 ,  G02F1/133371 ,  G02F1/1347

Abstract: 本发明的公开内容总体涉及一种多波长成像光谱仪的方法和装置。更具体地，在一种实施方案中，公开内容涉及一种使光子通过的光学滤波器。该滤波器包括第一滤波级和第二滤波级。第一滤波级可以包括第一延迟器元件(450)和第一液晶单元(455)。第一元件可以包括输入面和输出面。第一元件面的一个不基本上垂直于通过滤波器的光子的轨迹而定向。

公开(公告)号：CN1659424A

公开(公告)日：2005-08-24

申请号：CN03810389.3

申请日：2003-03-06

Applicant: 埃斯柏克特瑞克斯公司

Inventor： 托马斯·W.·哈格勒

IPC: G01J3/04

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06 ,  G01J3/1804 ,  G01J3/2846 ,  G01J3/42 ,  G01J2001/4242 ,  G01J2003/1217

Abstract: 使用分析器和编码器分析辐射的装置和方法，该分析器和编码器采用了按波长分散或沿直线成像的辐射的空间调制。

公开(公告)号：CN109791073A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201780026382.7

申请日：2017-04-27

Applicant: 西利奥斯技术公司

Inventor： S·逖斯兰德 ,  L·洛克斯 ,  M·休伯特 ,  V·索热 ,  A·法罗拉

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  G02B3/00

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/2806 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/2826 ,  G02B3/0056 ,  G02B5/201 ,  G02B5/284 ,  G02B19/0076

Abstract: 本发明涉及一种多光谱成像设备，包括：由像素矩阵组成的光敏探测器DET，复制该像素矩阵的微透镜ML1，ML2，ML3网，由复制该像素矩阵的基本滤光器λ1，λ2，λ3矩阵构成的滤光模块MF，该设备的特征在于微透镜网被直接布置为与探测器接触，滤光模块被制造在与微透镜网接触的基板上。

公开(公告)号：CN109642822A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201780050521.X

申请日：2017-07-31

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李敬锡 ,  金元穆 ,  黄圭元 ,  金寅昊 ,  李旭圣 ,  郑斗硕

IPC: G01J3/08 ,  G01N21/359 ,  G02B6/293 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/453 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G01J2003/2806 ,  G02B5/204

Abstract: 公开了一种光谱仪，其设置有：第一单位光谱滤波器，其用于吸收或反射目标物体的光谱的部分波长带中的入射光；第二单位光谱滤波器，其用于吸收或反射与所述部分波长带不同的波长带中的光；第一光检测器，其用于检测通过第一单位光谱滤波器的第一光谱；第二光检测器，其用于检测通过第二单位光谱滤波器的第二光谱；以及处理单元，其用于根据第一光检测器和第二光检测器检测到的光谱执行目标物体的入射光谱的重构功能。

公开(公告)号：CN108489612A

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201810140042.3

申请日：2018-02-09

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 赵金宇 ,  吴元昊 ,  高昕 ,  王斌

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0229

Abstract: 一种基于多通道谱段差异的分时成像系统，包括依次设置的滤光转轮、透镜和探测器，滤光转轮包括转盘和沿转盘的圆周设置的多片窄带滤光片，转盘可转动，目标光束每一曝光时间只经过一片窄带滤光片，目标光束依次穿过滤光转轮的一片窄带滤光片和透镜后在探测器上成像。针对目标亮度较高、目标姿态及亮度变化较慢的情况，采用上述基于多通道谱段差异的分时成像系统，转盘每转一圈，实现同一目标在多个通道不同谱段图像的采集，利用计算机接受探测器采集的图像，通过谱段差异图像恢复算法，能够获得高清晰度图像。